【技术实现步骤摘要】
一种复眼照明系统的匹配方法
[0001]本专利技术涉及光刻
,具体而言,涉及一种复眼照明系统的匹配方法。
技术介绍
[0002]极紫外光刻(Extreme Ultraviolet Lithography,EUVL)是一种采用波长为13.5nm的极紫外光作为工作波长的投影光刻技术。根据瑞利判据(Rayleigh criterion),采用极紫外光刻技术可以得到更小的曝光系统分辨率,进而使EUV成为实现7nm及其以下技术节点集成电路产业化的首选技术。
[0003]为了满足不同掩模版最优光刻分辨率的照明要求,现有技术提供了一种双排复眼光学设计。在该方案中,通过选用的光阑复眼以及,调整视场复眼与光阑复眼的匹配可以优化该系统在掩模面上照明的均匀性,因此视场复眼的光阑复眼与视场复眼的匹配方法成为极紫外光刻照明系统的关键技术。
技术实现思路
[0004]因此,本专利技术的目的是针对上述问题,提供一种复眼照明系统的匹配方法。
[0005]根据本公开的第一方面,提供了一种复眼照明系统的匹配方法,包括配置有 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种复眼照明系统的匹配方法,包括配置有光阑复眼的光阑复眼基板和配置有视场复眼的视场复眼基板,其特征在于,包括:获取每种照明模式下可用光阑复眼的位置,所述可用光阑复眼可与视场复眼相互匹配,使得入射光能够射入掩膜版并形成照明;获取所述可用光阑复眼与视场复眼的最优组合,以及获得所述最优组合时所述可用光阑复眼的初始角;所述最优组合使得多种所述照明模式并存时,多种所述照明模式入射光入射掩膜版时的入射方向与该掩膜版法向方向形成的夹角之和为最小;对当所述可用光阑复眼与视场复眼为最优组合时被重复组合所述可用光阑复眼进行重新放置,获得所述可用光阑复眼与视场复眼的最终组合。2.根据权利要求1所述的匹配方法,其特征在于,还包括:通过分型方法获取每种照明模式下可用光阑复眼的位置。3.根据权利要求2所述的匹配方法,其特征在于,获取每种照明模式下可用光阑复眼的位置的具体方法包括:根据相干因子确定每种照明模式的比例系数;在相干因子的范围内对该种照明模式所形成的形状进行等比例缩放;PF矩阵与分形矩阵重合次数为奇次时,将该位置的光阑复眼赋值为1,重合次数为偶次时,将该位置的光阑复眼赋值为0;当值为1的光阑复眼与视场复眼的个数相同时结束分型。4....
【专利技术属性】
技术研发人员:徐乐,王丽萍,吴越,张旭,
申请(专利权)人:中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,
类型:发明
国别省市:
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