一种测量化学电离反应时间的方法、系统、装置及存储介质制造方法及图纸

本申请涉及化学电离质谱技术领域，公开了一种测量化学电离反应时间的方法、系统、装置及存储介质，通过在化学电离源上施加脉冲电压信号，产生主离子，获取所述主离子的质谱TTL反馈信号，再获取信号随时间变化的序列图，所述信号包括所述脉冲电压信号及所述质谱TTL反馈信号，最后，根据所述序列图中的所述质谱TTL反馈信号的半高处对应的时间与所述脉冲电压信号起始对应的时间，计算得到化学电离反应时间。本发明专利技术根据脉冲电压信号与质谱TTL反馈信号的谱图之间的特征确定化学电离反应时间，可以提高化学电离反应时间测量的准确性，且方法简单易行。简单易行。简单易行。

【技术实现步骤摘要】
一种测量化学电离反应时间的方法、系统、装置及存储介质


[0001]本专利技术涉及化学电离质谱
，尤其涉及一种测量化学电离反应时间的方法、系统、装置及存储介质。

技术介绍

[0002]质谱技术(Mass Spectrometry)广泛应用于物质分子组成的定性及定量检测，按照电离的方式可以分为电子轰击(Electron Impact)、电喷电离(Electrospray Ionization)及化学电离(Chemical Ionization)等，而化学电离质谱则是近年来被广泛应用的一种软电离质谱技术，化学电离可在真空状态下，也可在大气压条件下进行。化学电离质谱的原理是通过主离子与待测物质分子的化学电离反应产生待测离子，根据待测离子的谱图特征进行定性分析，根据待测离子与主离子的相对丰度及其反应速率常数、反应时间等信息进行定量分析。因此，在化学电离质谱的定量分析中，化学电离反应时间是浓度定量方程中一个重要的指标，特别是对于无标准纯样而无法进行准确校正的物质分子而言，只能通过定量方程估算浓度，因而准确测量化学电离反应时间非常重要。
[0003]目前关于化学电离反应时间的测量方法的报道非常有限，常见的估算方法主要有以下几种：一是通过流动长度及流速进行估算，假设在层流条件之下，平均反应时间通常为气流通过的距离除以其流动速度；另外一种方法是在流动管中使用漂移技术，那么反应时间计算公式中使用的速度则由离子的流动速度与漂移速度共同决定。然而，对应反应时间很短的情形，以上两种估算方式存在着较大的误差，因为气流流动可能存在湍流，即使是层流，也可能存在其径向速度均匀而气流流动不均匀的情况，导致反应时间估算不准。除此之外，离子受到电场的影响比较大，不同的电压设置可能会导致反应时间不同，估算不准确。

技术实现思路

[0004]为解决上述
技术介绍
中存在的不足，本专利技术提供一种测量化学电离反应时间的方法、系统、装置及存储介质，通过在化学电离源上施加脉冲电压信号产生主离子，并将其送入质谱仪，再通过TTL信号反馈到示波器，从脉冲电压信号及离子的反馈信号特征确定化学电离反应时间，从而对待测物进行定量分析。
[0005]一方面，提供一种测量化学电离反应时间的方法，包括以下步骤:
[0006]一种测量化学电离反应时间的方法，其特征在于，包括以下步骤:
[0007]在化学电离源上施加脉冲电压信号，产生主离子；
[0008]获取所述主离子的质谱TTL反馈信号；
[0009]获取信号随时间变化的序列图，所述信号包括所述脉冲电压信号及所述质谱TTL反馈信号；
[0010]根据所述序列图中的所述质谱TTL反馈信号的半高处对应的时间与所述脉冲电压信号起始对应的时间，计算得到化学电离反应时间。
[0011]进一步地，所述脉冲电压信号的产生包括以下步骤：
[0012]将起始电压设置为+200伏直流电压；
[0013]控制电压转换到
‑
400伏直流电压，产生一个脉冲电压信号。
[0014]进一步地，所述脉冲电压信号的脉冲宽度在40
‑
50毫秒之间。
[0015]进一步地，还包括：
[0016]在一个脉冲宽度之后，将所述直流电压降至
‑
330伏，并保持该电压值。
[0017]进一步地，还包括：
[0018]在所述获取所述主离子的质谱TTL反馈信号之后，对所述质谱TTL反馈信号进行滤波，以获取脉冲宽度在40
‑
45毫秒之间的脉冲电压信号所产生的质谱TTL反馈信号。
[0019]一方面，提供一种测量化学电离反应时间的系统，包括：
[0020]控制电脑，与化学电离源及示波器连接，用于向化学电离源及示波器发出脉冲电压信号；
[0021]化学电离源，与控制电脑及采样管连接，用于接收所述控制电脑发出的脉冲电压信号，进而产生主离子；
[0022]采样管，与化学电离源及质谱仪连接，用于将所述主离子传输至质谱仪；
[0023]质谱仪，与采样管及示波器连接，用于检测接收的所述主离子并向示波器发出所述主离子的质谱TTL反馈信号；
[0024]示波器，与控制电脑及质谱仪连接，用于接收所述脉冲电压信号和质谱TTL反馈信号，并示出信号随时间变化的序列图。
[0025]进一步地，还包括：
[0026]电阻电容电路，用于对所述质谱TTL反馈信号进行滤波。
[0027]进一步地，所述示波器至少具有两个频道，其中，第一频道连接控制电脑与化学电离源，在控制电脑发出脉冲电压信号至化学电离源且化学电离源电离生成主离子的同时，第一频道接收并测量所述脉冲电压信号随时间的变化；第二频道接收并检测质谱仪传送过来的质谱TTL反馈信号，所述质谱TTL反馈信号经电阻电容电路滤波后由第二频道接收，并由第二频道监测所述质谱TTL反馈信号随时间的变化。
[0028]一方面，提供一种测量化学电离反应时间的装置，包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中且被配置为由所述处理器执行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一项测量化学电离反应时间的方法。
[0029]一方面，提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有计算机程序，所述计算机程序被执行时实现上述任一项测量化学电离反应时间的方法。
[0030]与现有技术相比，本专利技术技术方案的有益效果是：本专利技术提供一种测量化学电离反应时间的方法、系统、装置及存储介质，利用一定宽度的脉冲电压信号施加于离子源，使其产生一团离子，根据脉冲电压信号与质谱TTL反馈信号的谱图之间的特征确定化学电离反应时间，可以提高化学电离反应时间测量的准确性，且方法简单易行。
附图说明
[0031]此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本专利技术的一部分，本专利技术的示意性实施例及其说明用于解释本专利技术，并不构成对本专利技术的不当限定。在附图中：
[0032]图1为本专利技术的一种测量化学电离反应时间的方法的流程图；
[0033]图2为本专利技术产生脉冲电压信号的示意图；
[0034]图3为本专利技术脉冲电压信号及质谱TTL反馈信号随时间变化序列图；
[0035]图4为本专利技术一种测量化学电离反应时间的系统的结构图。
具体实施方式
[0036]目前关于化学电离反应时间的测量方法的报道非常有限，常见的估算方法对于反应时间很短的情形，因为气流流动可能存在湍流，即使是层流，也可能存在其径向速度均匀而气流流动不均匀的情况，导致反应时间估算不准。除此之外，离子受到电场的影响比较大，不同的电压设置可能会导致反应时间不同，估算不准确。
[0037]本专利技术提供的一种测量化学电离反应时间的方法、系统、装置及存储介质，根据脉冲电压信号与质谱TTL反馈信号的谱图之间的特征确定化学电离反应时间，可以提高化学电离反应时间测量的准确性，且方法简单易行。
[0038]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种测量化学电离反应时间的方法，其特征在于，包括以下步骤:在化学电离源上施加脉冲电压信号，产生主离子；获取所述主离子的质谱TTL反馈信号；获取信号随时间变化的序列图，所述信号包括所述脉冲电压信号及所述质谱TTL反馈信号；根据所述序列图中的所述质谱TTL反馈信号的半高处对应的时间与所述脉冲电压信号起始对应的时间，计算得到化学电离反应时间。2.如权利要求1所述的测量化学电离反应时间的方法，其特征在于，所述脉冲电压信号的产生包括以下步骤：将起始电压设置为+200伏流电压；控制电压转换到
‑
400伏直流电压，产生一个脉冲电压信号。3.如权利要求2所述的测量化学电离反应时间的方法，其特征在于，所述脉冲电压信号的脉冲宽度在40
‑
50毫秒之间。4.如权利要求2或3所述的测量化学电离反应时间的方法，其特征在于，还包括：在一个脉冲宽度之后，将所述直流电压降至
‑
330伏，并保持该电压值。5.如权利要求1所述的测量化学电离反应时间的方法，其特征在于，还包括：在所述获取所述主离子的质谱TTL反馈信号之后，对所述质谱TTL反馈信号进行滤波，以获取脉冲宽度在40
‑
45毫秒之间的脉冲电压信号所产生的质谱TTL反馈信号。6.一种测量化学电离反应时间的系统，其特征在于，包括：控制电脑，与化学电离源及示波器连接，用于向化学电离源及示波器发出脉冲电压信号；化学电离源，与控制电脑及采样管连接，用于接收所述控制电脑发出的...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵军，孙翠枝，
申请(专利权)人：中山大学，
类型：发明
国别省市：