一种二维转台折转光学调试组件及调试系统技术方案

本实用新型专利技术涉及一种二维转台折转光学调试组件及调试系统，以解决现有二维转台在侧卧状态下的调试系统，存在占用空间较大、操作不方便且系统精度不高的技术问题。调试组件包括装调平台、工装座、光路折轴棱镜以及俯仰轴标定工装；工装座通过待调试二维转台的方位法兰与转台方位轴连接；俯仰轴标定工装同轴固定在转台俯仰轴上，俯仰轴标定工装包括光学分划板、倾斜调整旋钮及平移调整旋钮；光路折轴棱镜放置在工装座的中心。调试系统包括上述调试组件、自准直仪和二维调整支架，自准直仪发出平行光经过光路折轴棱镜、待调试转台折轴镜及光学分划板形成自准直光路，保证了待调试转台光学组件的空间姿态调整精度。光学组件的空间姿态调整精度。光学组件的空间姿态调整精度。

【技术实现步骤摘要】
一种二维转台折转光学调试组件及调试系统


[0001]本技术涉及二维转台光学装调技术，具体涉及一种二维转台折转光学调试组件及调试系统。

技术介绍

[0002]随着跟瞄光学系统在角度测量及激光通信领域的应用，各种形式的转台也得到了广泛应用。二维转台是整个系统的运动单元，对于转台内设折转光路的光学系统，折转光路从两轴中心孔通过，折轴镜的穿心精度直接影响光轴指向精度，因此，二维转台内部折转光学组件的高精度光学装调系统，对系统最终联调起着非常重要的作用。用于随悬臂式二维转台联动的折轴镜组件的调试系统，通常在转台侧卧的状态下，需要采用光学方法分别标定出两个轴系，通过两个自准直仪完成折轴镜组件对方位轴和俯仰轴的穿心工作。这种调试系统占用空间较大，操作复杂，而且调试精度不高，一般情况下角度误差为5
″
，穿心精度不大于0.03mm。

技术实现思路

[0003]本技术的目的是提出一种二维转台折转光学调试组件及调试系统，以解决现有二维转台折转光学组件在转台侧卧状态下的调试系统，存在占用空间较大、操作不方便且系统精度不高的技术问题。本技术调试系统在二维转台实际使用姿态下调试，占用空间小，结构简单，调试精度高。
[0004]为了实现上述目的，本技术所采用的技术方案是：
[0005]一种二维转台折转光学调试组件，其特殊之处在于：包括装调平台、工装座5、放置在工装座5中心的光路折轴棱镜6以及俯仰轴标定工装4；
[0006]所述工装座5紧固在装调平台上，所述工装座5通过待调试二维转台的方位法兰与转台方位轴1连接；
[0007]所述俯仰轴标定工装4包括同轴固定在待调试二维转台的转台俯仰轴2俯仰法兰端面上的法兰连接框41、同轴套设在法兰连接框41内部的光学分划板镜框42、同轴设置在光学分划板镜框42上的光学分划板43、用于调整节光学分划板沿Y轴或Z轴旋转的倾斜调整旋钮44、以及用于调整光学分划板沿Y轴或Z轴移动的平移调整旋钮45；所述光学分划板43中心刻有十字叉丝。
[0008]进一步地，为了保证系统的调试精度，所述光学分划板43为平面反射玻璃，平面度优于0.02λ。
[0009]进一步地，所述倾斜调整旋钮44设置在光学分划板镜框42的端面；所述平移调整旋钮45设置在法兰连接框41外侧，操作方便。
[0010]进一步地，为了保证调试系统的精度，所述工装座5的下表面与上表面的平行度要求不大于0.03mm。
[0011]进一步地，所述待调试二维转台为悬臂式二维转台。
[0012]同时，本技术还提出一种二维转台折转光学调试系统，其特殊之处在于：包括上述二维转台折转光学调试组件、自准直仪7及二维调整支架；所述自准直仪7位于待调试二维转台的准直光路中；自准直仪7固定在二维调整支架上，可沿Z轴和Y轴方向精密移动，对自准直仪7在光路中的位置进行精密调整。
[0013]本技术的有益效果是：
[0014]1)本技术二维转台折转光学调试系统在二维转台实际使用姿态下调试，先使用俯仰轴标定工装标定出转台俯仰轴，然后采用自准直仪发出平行光，经过光路折轴棱镜、待调试转台折轴镜及光学分划板形成自准直光路系统，保证转台光学组件的空间姿态调整精度，该调试系统占用空间小，结构简单。
[0015]2)本技术二维转台折转光学调试组件中，俯仰轴标定工装的光学分划板的面型要求优于0.02λ，保证了转台俯仰轴的标定精度及转台折转光学组件的调试精度。
[0016]3)本技术二维转台折转光学调试组件中，通过调节倾斜调节旋钮和平移调节旋钮，调整光学分划板的倾斜和平移，以实现对二维转台俯仰轴系的精确标定，结构简单，操作方便。
[0017]4)本技术二维转台折转光学调试组件中，工装座5的下表面与上表面的平行度要求不大于0.03mm，保证了调试系统的精度。
附图说明
[0018]图1为本技术二维转台折转光学调试系统的结构示意图(未示出二维调整支架)；
[0019]图2为本技术二维转台折转光学调试系统的光路示意图。
[0020]附图标记说明：
[0021]1‑
转台方位轴，2
‑
转台俯仰轴，3
‑
转台折轴镜，4
‑
俯仰轴标定工装，41
‑
法兰连接框；42
‑
光学分划板镜框；43
‑
光学分划板；44
‑
倾斜调整旋钮；45
‑
平移调整旋钮，5
‑
工装座，6
‑
光路折轴棱镜，7
‑
自准直仪。
具体实施方式
[0022]为了更清楚地说明本技术的技术方案，下面结合附图和具体实施例对本技术进行详细说明。
[0023]如图1所示，本技术二维转台折转光学调试系统包括折转光学调试组件及自准直仪7及二维调整支架(图1中为示出)。二维转台为悬臂式二维转台，包括转台方位轴1、转台俯仰轴2及转台折轴镜3。
[0024]折转光学调试组件包括工装座5、放置在工装座5的中心的光路折轴棱镜6以及俯仰轴标定工装4。俯仰轴标定工装4包括法兰连接框41、光学分划板镜框42，以及光学分划板43。工装座5固定在装调平台上，工装座5通过二维转台的方位法兰与转台方位轴1连接，且工装座下表面(与平台连接面)与上表面(与转台方位轴法兰连接面)平行度要求不大于0.03mm；法兰连接框41同轴固定在转台俯仰轴2的俯仰法兰端面上，法兰连接框41内部同轴套设有光学分划板镜框42，在光学分划板镜框42上同轴设置光学分划板43。光学分划板43是一块面型优于0.02λ，并且中心刻有十字叉丝的平面反射玻璃。在光学分划板镜框42端面
设置有倾斜调整旋钮44，在法兰连接框41外侧设置有平移调整旋钮45，可调节光学分划板组件的倾斜及径向移动，即倾斜调整旋钮44可调节光学分划板43沿Y轴或Z轴旋转，平移调整旋钮45可调节光学分划板43沿Y轴或Z轴移动。
[0025]自准直仪7固定在二维调整支架上，可沿图2光路中的Z轴和Y轴方向精密移动，对自准直仪7在光路中的位置进行精密调整。
[0026]本技术调试系统调试时，只需要标定出转台俯仰轴2，将整个转台以使用状态固定在搭建好的自准直光路中，通过光路中的自准直仪7观察随转台方位轴1旋转时自准像及穿心像的晃动情况，通过自准像及穿心像的晃动大小及方向指导转台折轴镜3姿态的高精度调试。
[0027]在转台俯仰轴2标定时，自准直仪7位于光学分划板43的光路上，通过调整光学分划板43的倾斜或平移，使自准直仪7发出的平行光经光学分划板43反射后，沿入射平行光返回。
[0028]在转台折轴镜3调试时，自准直仪7位于光路折轴棱镜6、待调试转台折轴镜3以及光学分划板43的光路上，通过调整转台折轴镜3的空间姿态，使自准直仪7发出的平行光经光路折轴棱镜6反射到待调试转台折轴镜3上本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种二维转台折转光学调试组件，其特征在于：包括装调平台、工装座(5)、放置在工装座(5)中心的光路折轴棱镜(6)以及俯仰轴标定工装(4)；所述工装座(5)紧固在装调平台上，所述工装座(5)通过待调试二维转台的方位法兰与转台方位轴(1)连接；所述俯仰轴标定工装(4)包括同轴固定在待调试二维转台的转台俯仰轴(2)俯仰法兰端面上的法兰连接框(41)、同轴套设在法兰连接框(41)内部的光学分划板镜框(42)、同轴设置在光学分划板镜框(42)上的光学分划板(43)、用于调整节光学分划板沿Y轴或Z轴旋转的倾斜调整旋钮(44)、以及用于调整光学分划板沿Y轴或Z轴移动的平移调整旋钮(45)；所述光学分划板(43)中心刻有十字叉丝。2.根据权利要求1所述一种二维转台折转光学调试组件，其特征在于：所述光学分划板...

【专利技术属性】
技术研发人员：李小燕，曹明强，岳娟，侯晓华，韩娟，康世发，李华，
申请(专利权)人：中国科学院西安光学精密机械研究所，
类型：新型
国别省市：