一种不良品的统计管理方法以及系统技术方案

本发明专利技术公开了一种不良品的统计管理方法以及系统，其中不良品的统计管理方法包括：获取产品的产品信息并生成与所述产品信息相对应的加工信息，其中，所述产品信息用于标识该产品，所述加工信息包括多道加工工序；判断所述产品在当前工序中加工是否符合预设条件；当所述产品在当前工序中加工不符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为异常并判断所述产品是否可维修；若所述产品不可维修，则判定所述产品为不合格产品；统计每道工序产生的不合格产品的数量。通过实施本实施例可以统计每道工序产生的不良品数量，为后续产品的改良提供数据支持，从而降低产品的不良率，降低产品的生产成本。产品的生产成本。产品的生产成本。

【技术实现步骤摘要】
一种不良品的统计管理方法以及系统


[0001]本专利技术涉及电子器件加工的
，尤其涉及一种不良品的统计管理方法以及系统。

技术介绍

[0002]目前，对产品尤其是电子器件进行加工时，由于材料、加工设备、加工环境等等因素的影响，产品不可避免会出现加工失败的情况，因而产生不良品。
[0003]而一个产品需要经过多道工序加工，最终形成成品，在每道工序加工过程中均有可能加工失败，且同一型号的产品在同一道工序中频繁发生加工失败的问题，导致批量生产过程中同一型号的产品重复出现相同的不良品，产品的不良率较高，生产成本较高。

技术实现思路

[0004]本专利技术提供了一种不良品的统计管理方法以及系统，旨在解决批量生产中产品重复出现相同的不良品导致生产成本高的问题。
[0005]第一方面，本专利技术提供了一种不良品的统计管理方法，所述统计管理方法包括：
[0006]获取产品的产品信息并生成与所述产品信息相对应的加工信息，其中，所述产品信息用于标识该产品，所述加工信息包括多道加工工序；
[0007]判断所述产品在当前工序中加工是否符合预设条件；
[0008]当所述产品在当前工序中加工不符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为异常并判断所述产品是否可维修；
[0009]若所述产品不可维修，则判定所述产品为不合格产品；
[0010]统计每道工序产生的不合格产品的数量。
[0011]进一步地，所述统计管理方法还包括：
[0012]当所述产品在当前工序中加工符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为正常。
[0013]进一步地，所述统计管理方法还包括：
[0014]若所述产品可维修，则调整所述加工信息中的当前工序为正常，并记录当前工序的维修信息。
[0015]进一步地，所述统计管理方法还包括：
[0016]统计每道工序记录有维修信息的产品的数量。
[0017]进一步地，所述统计管理方法还包括：
[0018]将所述产品信息与所述加工信息和所述维修信息相关联并存储到数据库中。
[0019]进一步地，所述加工工序包括：原材料加工、贴片加工、插件加工、涂层加工、产品测试和包装。
[0020]进一步地，所述加工信息还包括加工工序的先后顺序。
[0021]进一步地，所述统计管理方法还包括：将完成所有工序的产品判定为合格产品。
[0022]进一步地，扫描产品上的标识以获取所述标识对应的产品信息。
[0023]第二方面，本专利技术提供了一种不良品的统计管理系统，包括处理器，所述处理器用于执行如第一方面所述的统计管理方法，还包括：
[0024]获取单元，用于获取产品的产品信息；
[0025]加工检测单元，用于判断所述产品在当前工序中加工是否符合预设条件；
[0026]维修检测单元，用于判断所述产品是否可维修。
[0027]本专利技术的有益效果是：通过获取产品的产品信息并生成与产品信息相对应的加工信息，加工信息包括多道加工工序，判断产品在当前工序中加工是否符合预设条件，当产品在当前工序中加工不符合预设条件，则标记加工信息中的当前工序为异常并判断产品是否可维修，若产品不可维修，则判定产品为不合格产品；统计每道工序产生的不合格产品的数量，即可分析不合格产品的总数量、每道工序产生的不合格产品占不合格产品总数量的比例。通过实施本专利技术可以统计每道工序产生的不良品数量，为后续产品的改良提供数据支持，从而降低产品的不良率，降低产品的生产成本。
附图说明
[0028]为了更清楚地说明本专利技术实施例技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0029]图1展示了不良品的统计管理方法的流程示意图；
[0030]图2展示了S31步骤的详细流程示意图；
[0031]图3展示了S41步骤的详细流程示意图；
[0032]图4展示了S6步骤的流程示意图；
[0033]图5展示了S7步骤的流程示意图；
[0034]图6展示了S8步骤的流程示意图。
具体实施方式
[0035]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0036]应当理解，当在本说明书和所附权利要求书中使用时，术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
[0037]还应当理解，在此本专利技术说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的而并不意在限制本专利技术。如在本专利技术说明书和所附权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。
[0038]还应当进一步理解，在本专利技术说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
[0039]本实施例中的产品优选为电子产品，电子产品在生产线上依次经过多道加工工序
的加工，每道工序加工后对电子产品进行检测判断，检测加工正常的即可进入下一道工序，异常的则进行维修，不可维修的产品判定为不合格品，而本实施例的统计管理方法用于统计分析电子产品生产加工过程中产生的不合格品数量。
[0040]本实施例提供的不良品的统计管理方法，如图1
‑
6所示，统计管理方法包括：
[0041]S1、获取产品的产品信息并生成与所述产品信息相对应的加工信息，其中，所述产品信息用于标识该产品，所述加工信息包括多道加工工序。
[0042]S2、判断所述产品在当前工序中加工是否符合预设条件。
[0043]S3、当所述产品在当前工序中加工不符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为异常并判断所述产品是否可维修。
[0044]S31、当产品在当前工序中加工符合预设条件，则标记加工信息中的当前工序为正常。
[0045]本实施例中，对加工信息的标记可以对产品实现分类，使其在每道工序中进行对应处理。每道工序中加工后根据加工结果标记加工信息，如果加工后产品符合预设条件，则标记为正常，产品进入下一道工序继续加工，每道工序依次类推，直至产品完成所有工序的加工；如果加工后产品不符合预设条件，则将加工信息标记为异常，并将产品送去维修。
[0046]S4、若所述产品不可维修，则判定所述产品为不合格产品。
[0047]S41、若产品可维修，则调整加工信息中的当前工序为正常本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种不良品的统计管理方法，其特征在于，所述统计管理方法包括：获取产品的产品信息并生成与所述产品信息相对应的加工信息，其中，所述产品信息用于标识该产品，所述加工信息包括多道加工工序；判断所述产品在当前工序中加工是否符合预设条件；当所述产品在当前工序中加工不符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为异常并判断所述产品是否可维修；若所述产品不可维修，则判定所述产品为不合格产品；统计每道工序产生的不合格产品的数量。2.根据权利要求1所述的不良品的统计管理方法，其特征在于，所述统计管理方法还包括：当所述产品在当前工序中加工符合预设条件，则标记所述加工信息中的当前工序为正常。3.根据权利要求2所述的不良品的统计管理方法，其特征在于，所述统计管理方法还包括：若所述产品可维修，则调整所述加工信息中的当前工序为正常，并记录当前工序的维修信息。4.根据权利要求3所述的不良品的统计管理方法，其特征在于，所述统计管理方法还包括：统计每道工序记录有维修信息的产品的数量。5.根据权利要求4所述的不良...

【专利技术属性】
技术研发人员：许勇，
申请(专利权)人：东莞市华庄电子有限公司，
类型：发明
国别省市：