本实用新型专利技术涉及一种具有可程控通断测试线缆组件的测试系统，属于芯片检测技术领域。本实用新型专利技术包括依次相连接的上位机、通讯接口卡和测试卡，通讯接口卡和测试卡之间还连接有源表功能卡和线缆组件，源表功能卡包括依次相连接的通讯模块、控制模块、源表模块和输出开关，源表功能卡还包括驱动模块，驱动模块连接通讯模块、控制模块、源表模块和输出开关。本实用新型专利技术的线缆组件采用开尔文测试线缆适用不同产品的测试卡，可扩展性更强，兼容性更好；开尔文测试线缆可消除寄生电容、电磁干扰等引起的测试误差，提高小电流测试精度；线缆组件的开关模块受驱动模块控制，可以随时通断。可以随时通断。可以随时通断。
【技术实现步骤摘要】
一种具有可程控通断测试线缆组件的测试系统
[0001]本技术涉及一种具有可程控通断测试线缆组件的测试系统，属于芯片检测
技术介绍
[0002]在半导体行业的集成电路测试过程中，不同的参数指标需要用到不同的资源来匹配测试，但是在整个测试过程中需用通过线缆将测试设备的功能板卡与被测器件的测试卡连接在一起，通常在功能板卡的输出端具有输出开关可确保功能板卡输出的导通或关断，而线缆会一直连接在测试卡上。
[0003]这对于常用的参数测试通常没有影响，但是对于一些特定的测试时，测试条件要求基极开路，由于连接在测试卡上的线缆长度会达到3米左右，其会引入额外的干扰以及寄生电容，信号反射等因素影响特定参数的测试精度与稳定性。
技术实现思路
[0004]本技术要解决的技术问题是半导体行业的集成电路测试中，过长的线缆会干扰测试进程，针对现有技术的不足，提出一种能有效消除寄生电容和电磁干扰的测试系统。
[0005]为了实现上述目的，本方面采用的技术方案为：一种具有可程控通断测试线缆组件的测试系统，包括依次相连接的上位机、通讯接口卡和测试卡，其特征在于：所述通讯接口卡和测试卡之间还连接有源表功能卡和线缆组件，所述源表功能卡包括依次相连接的通讯模块、控制模块、源表模块和输出开关，所述源表功能卡还包括驱动模块，所述驱动模块连接所述通讯模块、控制模块、源表模块和输出开关，所述通讯模块连接所述通讯接口卡，所述输出开关连接所述线缆组件，所述线缆组件包括相连的开尔文测试线缆和开关模块，所述驱动模块还连接所述开关模块，所述开关模块连接所述测试卡。
[0006]上述技术方案的进一步改进是：所述开尔文测试线缆的线缆接口有7个，分别为RC开关驱动信号接口、VCC电源接口、FORCE强制信号输出接口、SENSE感应信号接口、GUARD防护信号接口、SGND感应信号地接口、GND信号地接口。
[0007]上述技术方案的进一步改进是：所述通讯接口卡为主控通讯接口卡，所述主控通讯接口卡通过LAN及USB接口连接所述上位机和源表功能卡。
[0008]上述技术方案的进一步改进是：所述通讯模块为LAN数据转换接口；所述控制模块为FPGA控制芯片；所述源表模块包括电压电流源施加与测量电路；所述驱动模块包括继电器驱动控制电路。
[0009]上述技术方案的进一步改进是：所述输出开关为继电器开关；所述开关模块为干簧继电器。
[0010]本技术带来的有益效果是：本技术的线缆组件采用开尔文测试线缆适用不同产品的测试卡，可扩展性更强，兼容性更好；开尔文测试线缆可消除寄生电容、电磁干扰等引起的测试误差，提高小电流测试精度；线缆组件的开关模块受驱动模块控制，可以随
时通断。
附图说明
[0011]下面结合附图对本技术作进一步的说明。
[0012]图1是本技术实施例的系统的结构示意图。
[0013]图2是本技术实施例的源表功能卡和线缆组件的结构示意图。
[0014]图3是本技术实施例的系统的结构示意图。
[0015]图4是本技术实施例的三极管的测试图。
[0016]图中实例：上位机1、通讯接口卡2、源表功能卡3、线缆组件4、测试卡5。
具体实施方式
[0017]下面对照附图，通过对实施例的描述，对本技术的具体实施方式如所涉及的各部分之间的相互位置及连接关系，各部分的作用及工作原理，操作使用方法等，作进一步详细的说明，以帮助本领域技术人员对本技术的构思，技术方案有更完整，准确和深入的理解。
[0018]实施例
[0019]如图1和图2所示，一种具有可程控通断测试线缆组件的测试系统，包括依次相连接的上位机1、通讯接口卡2和测试卡5，通讯接口卡2和测试卡5之间还连接有源表功能卡3和线缆组件4，源表功能卡3包括依次相连接的通讯模块、控制模块、源表模块和输出开关，源表功能卡3还包括驱动模块，驱动模块连接通讯模块、控制模块、源表模块和输出开关，通讯模块连接通讯接口卡2，输出开关连接线缆组件，线缆组件4包括相连的开尔文测试线缆和开关模块，驱动模块还连接开关模块，开关模块连接测试卡。
[0020]开尔文测试线缆的线缆接口有7个，分别为RC开关驱动信号接口、VCC电源接口、FORCE强制信号输出接口、SENSE感应信号接口、GUARD防护信号接口、SGND感应信号地接口、GND信号地接口。
[0021]通讯接口卡2为主控通讯接口卡，主控通讯接口卡通过LAN及USB接口连接上位机1和源表功能卡3。
[0022]通讯模块为LAN数据转换接口；控制模块为FPGA控制芯片；源表模块包括电压电流源施加与测量电路；驱动模块包括继电器驱动控制电路。
[0023]输出开关为继电器开关；开关模块为干簧继电器。
[0024]其中，上位机1实现软件和指令设置来操作整个测试系统，并读取测试系统的数据；通讯接口卡2实现连接并交互上位机1与源表功能卡3之间的数据；源表功能卡3实现根据上位机1的指令电压和电流施加和测量工作；线缆组件4实现源表功能卡3与测试卡5的连接和通断；测试卡5用于连接被测器件，完成其特定功能参数测试。
[0025]而源表功能卡3中，通讯模块通过LAN接口实现数据转接；驱动模块实现产色继电器驱动信号，继电器驱动信号实现控制输出开关和开关模块的通断切换；控制模块实现对其他模块的控制并可以存储数据；源表模块实现对测试卡5上的被测件施加预设的电压和电流；输出开关实现开启或关闭源表模块的电压电流的输出；开关模块用于连通或断开与测试卡相连的开尔文测试线缆。
[0026]如图3和图4所示，本实施例中，一个三极管拥有集电极CS、发射极ES和基极BS，在测试三极管的各种参数时，需要加装三个源表功能卡3A、3B、3C，三种源表功能卡分别连接三根线缆组件4A、4B、4C并连接至测试卡5，三极管的集电极CS、发射极ES和基极BS分别通过线缆组件4连接在测试卡5和源表功能卡3A、3B、3C之间，三极管与测试卡5形成测试回路。
[0027]如图3和图4所示，本实施例中，在测试三极管的ICEO参数时，ICEO参数是指三极管的基极开路时，集电极到发射极间加上一定反向电压时的集电极电流。
[0028]首先三极管的基极BS要设置为开路，发射极ES设为0V或接地，然后在三极管集电极CS上施加电压VCE，在发射极ES上串接电流表进行ICEO电流测量。
[0029]上位机1通过通讯接口卡2将测试线缆组件4A与4C的开关模块设置为导通状态并与测试卡5形成测试回路，同时将测试线缆组件4B的开关模块设置为断开状态，同时控制源表功能卡3A连接集电极CS并施加VCE电压，连接源表功能卡3C和发射极ES并执行施加电压，完成ICE电流测试功能，最后上位机1读取到ICEO测试值，根据预设的上下限范围值来判断测试结果是否通过。
[0030]在测试过程中测试卡5上的测试器件的基极处于开路状态，其外围只有很本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种具有可程控通断测试线缆组件的测试系统，包括依次相连接的上位机、通讯接口卡和测试卡，其特征在于：所述通讯接口卡和测试卡之间还连接有源表功能卡和线缆组件，所述源表功能卡包括依次相连接的通讯模块、控制模块、源表模块和输出开关，所述源表功能卡还包括驱动模块，所述驱动模块连接所述通讯模块、控制模块、源表模块和输出开关，所述通讯模块连接所述通讯接口卡，所述输出开关连接所述线缆组件，所述线缆组件包括相连的开尔文测试线缆和开关模块，所述驱动模块还连接所述开关模块，所述开关模块连接所述测试卡。2.根据权利要求1所述具有可程控通断测试线缆组件的测试系统，其特征在于：所述开尔文测试线缆的线缆接口有7个，分别为...
【专利技术属性】
技术研发人员：邵凌明，严六平，
申请(专利权)人：南京宏泰半导体科技有限公司，
类型：新型
国别省市：
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