本发明专利技术涉及一种基于信号偏移的谐波测试系统、装置及方法，所述系统至少包括建立数据连接的谐波采集单元和处理器，所述谐波采集单元用于采集在被测件接入前的初始谐波和在被测件接入后的第一谐波；所述处理器被配置为：基于电长度差和由谐波采集单元发送的初始谐波数据分析谐波相位偏移角度；基于所述初始谐波、所述谐波相位偏移角度和所述第一谐波分析并确定由被测件产生的第二谐波。本发明专利技术通过计算谐波的相位偏移，降低了对主信号的发生器的信号质量要求，并且提高了谐波的计算精度。并且提高了谐波的计算精度。并且提高了谐波的计算精度。
【技术实现步骤摘要】
一种基于信号偏移的谐波测试系统、装置及方法
[0001]本专利技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种基于信号偏移的谐波测试系统、装置及方法。
技术介绍
[0002]有源RF和FEM的第二个关键属性是谐波行为。谐波行为由非线性器件引起，会导致在比发射频率高数倍的频率下产生输出功率。由于许多无线标准对带外辐射进行了严格的规定，所以工程师会通过测量谐波来评估RF或FEM是否违反了这些辐射要求。
[0003]在信号发生器发出信号之后，由于本身的非线性的影响会产生若干个不同频率的谐波，接入被测件之后由于被测件的影响又会产生若干个不同频率的谐波，那么就很有必要分清楚哪些是所需要的谐波。最理想的现有方案是使用高质量的信号源，这种信号源发出之后是没有谐波干扰的，接入被测件之后产生的谐波就是所需要的谐波了。然而发生高质量的信号源是需要极高的成本的，放在平时的测量当中也不太现实。还有一种现有方案是载入带通滤波器，但是滤波器的体积是与其通过的功率成正比的，所以在实际测量过程中可能会需要多个大体积的滤波器，成本较高，而且结构复杂。
[0004]例如，中国专利CN110850166A公开了一种谐波分析方法，该谐波分析方法由谐波数据分类，谐波数据计算和谐波数据分析三部分构成。谐波数据分类是首先将采集到的谐波数据进行整体分类，分为静态数据和动态数据两类，每类数据再分为谐波频率，谐波幅值，谐波功率三个部分。谐波数据计算是将分类后的数据进行同单位，同时段，同频段归类，得出可供比较的数据组。数据分析是将分类计算后的数据按照给定的分析方法进行分析，从而得出分析结果，此过程得出的结果即是该测试点谐波的特征分析结果，包含：谐波源类型估测、谐波损伤指数、治理紧迫指数三部分。该谐波分析方法比较复杂，并且对于仅需要知道被测件产生的谐波数据的过程来说，分析过程时间长，结果数据影响工程师的筛选。
[0005]现有技术暂时没有比较简化的谐波测量装置以及方法。
[0006]此外，一方面由于对本领域技术人员的理解存在差异；另一方面由于专利技术人做出本专利技术时研究了大量文献和专利，但篇幅所限并未详细罗列所有的细节与内容，然而这绝非本专利技术不具备这些现有技术的特征，相反本专利技术已经具备现有技术的所有特征，而且申请人保留在
技术介绍
中增加相关现有技术之权利。
技术实现思路
[0007]现有技术中，一般采用高质量的信号源来进行被测件的谐波测试。由于高质量信号源不存在谐波，那么检测到的谐波就是被测件产生的。但是高质量信号源成本较高，在日常测量中不能够频繁进行。现有技术还通过载入带通滤波器来进行谐波测试，但是滤波器的体积是与其通过的功率成正比的，所以在实际测量过程中可能会需要多个大体积的滤波器，成本较高，而且结构复杂。现有技术中，本领域技术人员一般集中于提高仪器的过滤精度来过滤掉有干扰的谐波，总是希望在仪器测量后能够直接获得所需要的谐波，而忽略了
对测得谐波数据进行数据处理的技术手段。
[0008]基于现有技术的缺陷，本专利技术希望能够提供一种不需要高质量信号源的谐波测试方法，降低信号源的产生成本，同时又能够排除干扰谐波的干扰，获得所需要的准确的谐波信息。本专利技术不采用高质量信号源，也不采用滤波的技术手段来排除有干扰的谐波，而是通过数据处理的方式来消减有干扰谐波的数据来得到精确的被测件的谐波数据。
[0009]针对现有技术之不足，本专利技术提供一种基于信号偏移的谐波测试系统，至少包括建立数据连接的谐波采集单元和处理器，所述谐波采集单元用于采集在被测件接入前的初始谐波和在被测件接入后的第一谐波；所述处理器被配置为：基于电长度差和由谐波采集单元发送的初始谐波数据分析谐波相位偏移角度；基于所述初始谐波、所述谐波相位偏移角度和所述第一谐波分析并确定由被测件产生的第二谐波。计算被测件接入前和被测件接入后的谐波变化，能够得到由被测件产生的谐波，不仅如此，本专利技术将谐波的相位偏移角度纳入谐波数据计算中，进一步提高了谐波数据的准确性。
[0010]优选地，所述处理器还被配置为：基于所述初始谐波和所述谐波的相位偏移角度确定偏移后的偏移谐波，基于所述第一谐波与所述偏移谐波的矢量差确定由被测件产生的第二谐波。通过计算偏移谐波数据，能够准确得到由被测件产生的第二谐波数据。
[0011]优选地，基于所述初始谐波和所述谐波相位偏移角度确定偏移后的偏移谐波的方式为：基于电长度差和电信号在导线中的传输速率得到电子偏移距离，基于谐波频率和电信号在导线中的传输速率得到谐波波长，基于电子偏移距离和谐波波长确定初始谐波的相位偏移角度。初始谐波受到电长度差的影响产生偏移，通过电长度差计算得到准确的谐波的相位偏移角度，更有利于确定由被测件产生的谐波数据。
[0012]优选地，所述电长度差为：；其中，表示在被测件接入前的接入位置的第一电长度，表示在被测件接入后的接入位置的第二电长度。
[0013]优选地，基于电长度差和电信号在导线中的传输速率得到电子偏移距离的方式为：其中，表示电子偏移距离，表示电信号在导线中的传输速率，表示电长度差。
[0014]优选地，基于谐波频率和电信号在导线中的传输速率得到谐波波长的方式为：；其中，表示电信号在导线中的传输速率，表示谐波波长，表示谐波频率。
[0015]优选地，初始谐波频率与主信号频率的关系为：按照频率逐渐变大的方式排序，所述主信号的顺序设为1，所述初始谐波的顺序为n，初始谐波频率是主信号频率的n倍。
[0016]优选地，基于电子偏移距离和谐波波长确定初始谐波的相位偏移角度的方式为：。
[0017]本专利技术还提供一种基于信号偏移的谐波测试方法，所述方法至少包括：采集在被测件接入前的初始谐波和在被测件接入后的第一谐波；基于电长度差和由谐波采集单元发送的初始谐波数据分析谐波的相位偏移角度；基于所述初始谐波、所述谐波的相位偏移角度和所述第一谐波分析并确定由被测件产生的第二谐波。
[0018]优选地，所述方法还包括：基于所述初始谐波和所述谐波的相位偏移角度确定偏
移后的偏移谐波，基于所述第一谐波与所述偏移谐波的矢量差确定由被测件产生的第二谐波。
[0019]本专利技术的方法，根据谐波的性质以及电长度的影响能够精确计算由被测件产生的第二谐波的数据，确定第二谐波的大小和方向。
[0020]本专利技术还提供一种基于信号偏移的谐波测试装置，至少包括建立数据连接的谐波采集单元和计算终端，所述谐波采集单元用于采集在被测件接入前的初始谐波和在被测件接入后的第一谐波；所述计算终端基于电长度差和由谐波采集单元发送的初始谐波数据分析谐波的相位偏移角度；并且所述计算终端基于所述初始谐波、所述谐波的相位偏移角度和所述第一谐波分析并确定由被测件产生的第二谐波。本专利技术的信号偏移的谐波测试装置不需要设置滤波器，通过分析测试到的谐波的变化就能够分析和计算得到由被测件产生的谐波数据的大小和方向，简化了装置结构。
[0021]本专利技术还提供一种基于信号偏移的谐波测试装置，至少包括建立数据连接的谐波采集单元和存储介质，所述存储介质包括本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于信号偏移的谐波测试系统，其特征在于，至少包括建立数据连接的谐波采集单元和处理器，所述谐波采集单元用于采集在被测件接入前的初始谐波和在被测件接入后的第一谐波；所述处理器被配置为：基于电长度差和由谐波采集单元发送的初始谐波数据分析谐波的相位偏移角度；基于所述初始谐波、所述相位偏移角度和所述第一谐波分析并确定由被测件产生的第二谐波。2.根据权利要求1所述的基于信号偏移的谐波测试系统，其特征在于，所述处理器还被配置为：基于所述初始谐波和所述相位偏移角度确定偏移后的偏移谐波，基于所述第一谐波与所述偏移谐波的矢量差确定由被测件产生的第二谐波。3.根据权利要求2所述的基于信号偏移的谐波测试系统，其特征在于，基于电长度差和由谐波采集单元发送的初始谐波数据分析谐波的相位偏移角度的方式为：基于电长度差和电信号在导线中的传输速率得到电子偏移距离，基于谐波频率和电信号在导线中的传输速率得到谐波波长，基于电子偏移距离和谐波波长确定初始谐波的相位偏移角度。4.根据权利要求1~3任一项所述的基于信号偏移的谐波测试系统，其特征在于，所述电长度差为：；其中， 表示在被测件接入前的接入位置的第一电长度， 表示在被测件接入后的接入位置的第二电长度。5.根据权利要求4所述的基于信号偏移的谐波测试系统，其特征在于，基于电长度差和电信号在导线中的传输速率得到电子偏移距离的方式为： ；其中，表示电子偏移距离，表示电信...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡信伟，戴海平，侯林，李翔，
申请(专利权)人：南京派格测控科技有限公司，
类型：发明
国别省市：
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