一种用于集成电路的双面多腔可叠加机械试验夹具制造技术

本实用新型专利技术涉及一种机械试验夹具，属于集成电路试验领域，具体涉及一种用于集成电路的双面多腔可叠加机械试验夹具，该夹具包括母夹具和子夹具；母夹具的底部表面与机械试验测试设备相安装，母夹具的其余五个表面分别可拆卸连接有子夹具；子夹具包括夹具座、压盖和压紧螺栓；夹具座上设有容纳槽，被测集成电路置于容纳槽内，压盖和夹具座的台阶槽贴合，压盖与夹具座通过压紧螺栓连接，从而将被测集成电路固定在夹具座内；本实用新型专利技术提供了一种用于集成电路的双面多腔可叠加机械试验夹具，解决了传统机械试验夹具以单器件试验夹具为主，面对检测需求日益增多的现状，单器件夹具在生产效率方面略显不足的问题。率方面略显不足的问题。率方面略显不足的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种用于集成电路的双面多腔可叠加机械试验夹具


[0001]本技术涉及一种机械试验夹具，属于集成电路试验领域，具体涉及一种用于集成电路的双面多腔可叠加机械试验夹具。

技术介绍

[0002]机械试验是检测集成电路缺陷的重要手段，通过模拟集成电路在运输、使用过程中受到的冲击及振动，测定集成电路能否经受外来的机械应力，而保持其原有性能。
[0003]随着集成电路技术的快速发展，集成电路得到了广泛的应用，其检测需求也越来越多。传统机械试验夹具以单器件试验夹具为主，面对检测需求日益增多的现状，单器件夹具在生产效率方面略显不足。

技术实现思路

[0004]针对现有技术的不足，本技术提供了一种用于集成电路的双面多腔可叠加机械试验夹具，解决了传统机械试验夹具以单器件试验夹具为主，面对检测需求日益增多的现状，单器件夹具在生产效率方面略显不足的问题。
[0005]本技术通过以下技术方案予以实现：
[0006]一种用于集成电路的双面多腔可叠加机械试验夹具，该夹具包括母夹具和子夹具；
[0007]所述母夹具的底部表面与机械试验测试设备相安装，所述母夹具的其余五个表面分别可拆卸连接有所述子夹具；
[0008]所述子夹具包括夹具座、压盖和压紧螺栓；所述夹具座上设有容纳槽，被测集成电路置于所述容纳槽内，所述压盖和所述夹具座的台阶槽贴合，所述压盖与所述夹具座通过所述压紧螺栓连接，从而将所述被测集成电路固定在所述夹具座内。
[0009]优选的，所述夹具座的上、下表面分别开设有两个所述容纳槽，每个所述夹具座上共计四个所述容纳槽，可见，每个所述夹具座上可装载四件所述被测集成电路。
[0010]优选的，所述夹具座上、下表面均设有一个和所述压盖尺寸相匹配的所述台阶槽；
[0011]所述台阶槽上开设有六个压紧螺纹孔，所述压盖上开设有与所述压紧螺纹孔相配合的通孔，所述夹具座与所述压盖通过所述压紧螺栓、所述通孔和所述压紧螺纹孔的配合进行紧固连接，同时将所述被测集成电路压紧固定在所述容纳槽内。
[0012]优选的，所述母夹具上开设有若干连接螺纹孔，所述夹具座的四角开设有沉头孔，在进行试验时，通过连接螺栓、所述沉头孔和所述连接螺纹孔的配合将所述子夹具与所述母夹具可拆卸连接。
[0013]优选的，所述母夹具的六个表面上开设有减重槽，且所述减重槽呈方形结构设置。
[0014]优选的，根据试验测试需求，所述母夹具的每个表面上连接的所述子夹具的数量可以为一个或两个，且所述子夹具在所述母夹具上安装时可以为长边竖直方向安装或长边水平方向安装。
[0015]优选的，根据试验有叠加需求时，若干所述子夹具可先依次叠加后，再通过所述连接螺栓、所述沉头孔和所述连接螺纹孔的配合将若干所述子夹具与所述母夹具可拆卸连接。
[0016]本技术的有益效果为：
[0017]本技术在采用上述部件的设计和使用下，解决了传统机械试验夹具以单器件试验夹具为主，面对检测需求日益增多的现状，单器件夹具在生产效率方面略显不足的问题；
[0018]而且本技术结构简单、新颖，设计合理，使用方便，具有较强的实用性。
附图说明
[0019]为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0020]图1为本技术夹具的结构示意图，其中包含单夹具与叠加夹具两种试验场景；
[0021]图2为本技术夹具满载时的分解示意图；
[0022]图3为本技术图2中夹具座的结构示意图；
[0023]图4为本技术图2中压盖的结构示意图。
[0024]图中：1
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母夹具、11
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连接螺纹孔、12
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连接螺栓、13
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减重槽、 2
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子夹具、21
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夹具座、211
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容纳槽、212
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台阶槽、213
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被测集成电路、214
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压紧螺纹孔、215
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沉头孔、22
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压盖、221
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通孔、23
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压紧螺栓。
具体实施方式
[0025]为使本技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0026]实施例一：
[0027]如图1
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4所示：本技术具体公开了一种用于集成电路的双面多腔可叠加机械试验夹具，该夹具包括母夹具1和子夹具2；
[0028]母夹具1的底部表面与机械试验测试设备相安装，母夹具1的其余五个表面分别可拆卸连接有子夹具2；
[0029]子夹具2包括夹具座21、压盖22和压紧螺栓23；夹具座21上设有容纳槽211，被测集成电路213置于容纳槽211内，压盖22和夹具座21的台阶槽212贴合，压盖22与夹具座21通过压紧螺栓23 连接，从而将被测集成电路213固定在夹具座21内。
[0030]具体的，夹具座21的上、下表面分别开设有两个容纳槽211，每个夹具座21上共计四个容纳槽211，可见，每个夹具座21上可装载四件被测集成电路213。
[0031]具体的，夹具座21上、下表面均设有一个和压盖22尺寸相匹配的台阶槽212；
[0032]台阶槽212上开设有六个压紧螺纹孔214，压盖22上开设有与压紧螺纹孔214相配合的通孔221，夹具座21与压盖22通过压紧螺栓23、通孔221和压紧螺纹孔214的配合进行紧固连接，同时将被测集成电路213压紧固定在容纳槽211内。
[0033]具体的，母夹具1上开设有若干连接螺纹孔11，夹具座21的四角开设有沉头孔215，在进行试验时，通过连接螺栓12、沉头孔215 和连接螺纹孔11的配合将子夹具2与母夹具1可拆卸连接。
[0034]具体的，母夹具1的六个表面上开设有减重槽13，且减重槽13 呈方形结构设置。
[0035]具体的，根据试验测试需求，母夹具1的每个表面上连接的子夹具2的数量可以为一个或两个，且子夹具2在母夹具1上安装时可以为长边竖直方向安装或长边水平方向安装。
[0036]具体的，根据试验有叠加需求时，若干子夹具2可先依次叠加后，再通过连接螺栓12、沉头孔215和连接螺纹孔11的配合将若干子夹具2与母夹具1可拆卸连接。
[0037]工本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种用于集成电路的双面多腔可叠加机械试验夹具，其特征在于，该夹具包括母夹具(1)和子夹具(2)；所述母夹具(1)的底部表面与机械试验测试设备相安装，所述母夹具(1)的其余五个表面分别可拆卸连接有所述子夹具(2)；所述子夹具(2)包括夹具座(21)、压盖(22)和压紧螺栓(23)；所述夹具座(21)上设有容纳槽(211)，被测集成电路(213)置于所述容纳槽(211)内，所述压盖(22)和所述夹具座(21)的台阶槽(212)贴合，所述压盖(22)与所述夹具座(21)通过所述压紧螺栓(23)连接，从而将所述被测集成电路(213)固定在所述夹具座(21)内。2.根据权利要求1所述的一种用于集成电路的双面多腔可叠加机械试验夹具，其特征在于，所述夹具座(21)的上、下表面分别开设有两个所述容纳槽(211)，每个所述夹具座(21)上共计四个所述容纳槽(211)，可见，每个所述夹具座(21)上可装载四件所述被测集成电路(213)。3.根据权利要求2所述的一种用于集成电路的双面多腔可叠加机械试验夹具，其特征在于，所述夹具座(21)上、下表面均设有一个和所述压盖(22)尺寸相匹配的所述台阶槽(212)；所述台阶槽(212)上开设有六个压紧螺纹孔(214)，所述压盖(22)上开设有与所述压紧螺纹孔(214)相配合的通孔(221)，所述夹具座(21)与所述压盖(22)通过所...

【专利技术属性】
技术研发人员：王世楠，张凯虹，解维坤，朱凯，
申请(专利权)人：中国电子科技集团公司第五十八研究所，
类型：新型
国别省市：