用于减少电容耦合的多极组件配置制造技术

第一多极组件包含围绕轴线布置且配置成围绕所述轴线径向地限制离子的第一多个杆电极。与所述第一多极组件相邻设置的第二多极组件包含围绕所述轴线布置且配置成围绕所述轴线径向地限制所述离子的第二多个杆电极。所述第一多极组件围绕所述轴线的定向相对于所述第二多极组件围绕所述轴线的定向旋转地偏移。第二多极组件围绕所述轴线的定向旋转地偏移。第二多极组件围绕所述轴线的定向旋转地偏移。

【技术实现步骤摘要】
用于减少电容耦合的多极组件配置

技术介绍

[0001]质谱仪是可以用于样品的定性和/或定量分析的分析工具。质谱仪通常包含：离子源，其用于从样品产生离子；质量分析器，其用于基于离子的质荷比而分离离子；以及离子转移装置，其用于将由离子源产生的离子转移到质量分析器。质谱仪使用来自质量分析器的数据以构建质谱，质谱展示每一个所检测离子的随其质荷比而变的相对丰度。通过分析由质谱仪生成的质谱，用户可能能够鉴定样品中的物质、测量样品中存在的已知组分的相对量或绝对量和/或对未知组分进行结构阐明。
[0002]离子转移装置和/或质量分析器可包含具有多个电极的一个或多个多极组件。这些多极组件具有引导、捕获和/或过滤离子的功能。作为一实例，多极组件可以是具有布置成两对相对杆电极的四个杆电极的四极杆。射频(RF)电压的相反相位可施加到杆电极对，从而产生在四极杆的中心区域内引导或捕获离子的四极电场。
[0003]在四极杆滤质器中，还可以将质量分辨直流(DC)电压施加到杆电极对，从而在四极电场上叠加DC电场，且使一些离子的轨迹变得不稳定并从而使离子排出到所述杆电极中的一者上。在此类滤本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种质谱仪，其包括：第一多极组件，其包括围绕轴线布置且配置成围绕所述轴线径向地限制离子的第一多个杆电极，以及第二多极组件，其与所述第一多极组件相邻且包括围绕所述轴线布置且配置成围绕所述轴线径向地限制所述离子的第二多个杆电极，其中所述第一多极组件围绕所述轴线的定向相对于所述第二多极组件围绕所述轴线的定向旋转地偏移。2.根据权利要求1所述的质谱仪，其中所述第一多极组件围绕所述轴线的所述定向相对于所述第二多极组件围绕所述轴线的所述定向旋转地偏移，使得当沿所述轴线方向观察时，包含在所述第一多个杆电极中的杆电极与包含在所述第二多个杆电极中的两个杆电极重叠。3.根据权利要求2所述的质谱仪，其中当沿所述轴线方向观察时，包含在所述第一多个杆电极中的所述杆电极与包含在所述第二多个杆电极中的所述两个杆电极中的每一个的重叠量基本上相同。4.根据权利要求1所述的质谱仪，其中所述第一多极组件围绕所述轴线的所述定向相对于所述第二多极组件围绕所述轴线的所述定向旋转地偏移，使得由所述第二多个杆电极电容性地耦合到包含在所述第一多个杆电极中的杆电极的净电压约为零。5.根据权利要求1所述的质谱仪，其中所述第一多极组件围绕所述轴线的所述定向相对于所述第二多极组件围绕所述轴线的所述定向旋转地偏移，使得当沿所述轴线方向观察时，包含在所述第一多个杆电极中的杆电极不与包含在所述第二多个杆电极中的任何杆电极重叠。6.根据权利要求1所述的质谱仪，其中所述第一多个杆电极围绕所述轴线的定向相对于所述第二多个杆电极围绕所述轴线的定向径向地偏移。7.根据权利要求1所述的质谱仪，其中所述第一多极组件和所述第二多极组件中的每一个都包括离子导向器、滤质器、离子阱或碰撞池。8.根据权利要求1所述的质谱仪，其进一步包括离子源和质量分析器，其中所述离子源中包含所述第一多极组件，且所述质量分析器中包含所述第二多极组件。9.根据权利要求1所述的质谱仪，其中所述第一多极组件与所述第二多极组件之间的界面不包含透镜。10.根据权利要求1所述的质谱仪，其中所述第一多极组件和所述第二多极组件间隔不大于约5.0毫米且不小于约0.5毫米。11.根据权利要求1所述的质谱仪，其中所述第一多极组件和所述第二多极组件间隔不大于约3.0毫米且不小于约0.5毫米。12.一种多极组件，其配置成在质谱仪中使用，所述多极组件包括：第一多个杆电极，其围绕轴线布置且配置成围绕所述轴线径向地限制离子，其中所述质谱仪包含另一多极...

【专利技术属性】
技术研发人员：H，
申请(专利权)人：萨默费尼根有限公司，
类型：发明
国别省市：