一种色温原理检测方法技术

本发明专利技术公开了一种色温原理检测方法，包括，黑体炉，对辐射温度计的校准、检定，通过高稳定度的辐射源，即黑体辐射，将标准器所复现的温度与被检辐射温度计所复现的温度进行比较，以判断其是否合格或给出校准结果；UCS均匀色彩空间，用于检测和表示一个光源与某一温度下的黑体具有最接近的色品时的光源的颜色；颜色传感器，将物体颜色同前面已经示教过的参考颜色进行比较来检测颜色的传感器，当两个颜色在一定的误差范围内相吻合时，输出检测结果，本发明专利技术涉及色温检测技术领域，该色温原理检测方法，解决了色温检测方法局限大和不准确的的问题，快速计算得出需要检测的相关色温，通过内插法求的相关色温，检测速度更快，检测方法更加准确。

【技术实现步骤摘要】
一种色温原理检测方法
本专利技术涉及色温检测
，具体为一种色温原理检测方法。
技术介绍
色温是表示光线中包含颜色成分的一个计量单位。从理论上说，黑体温度指绝对黑体从绝对零度(－273℃)开始加温后所呈现的颜色。黑体在受热后，逐渐由黑变红，转黄，发白，最后发出蓝色光。当加热到一定的温度，黑体发出的光所含的光谱成分，就称为这一温度下的色温，计量单位为“K”(开尔文)。如果某一光源发出的光，与某一温度下黑体发出的光所含的光谱成分相同，就称为某K色温。但是目前没有合适的方法可以快速准确检测出对应的色温，并且检测方法局限很大。
技术实现思路
(一)解决的技术问题针对现有技术的不足，本专利技术提供了一种色温原理检测方法，解决了色温检测方法局限大，检测不准确的的问题。(二)技术方案为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：一种色温原理检测方法，包括，黑体炉，对辐射温度计的校准、检定，通过高稳定度的辐射源，即黑体辐射，将标准器所复现的温度与被检辐射温度计所复现的温度进行比较，以判断其是否合格或给出校准结果；UCS均匀色彩空间，用于检测和表示一个光源与某一温度下的黑体具有最接近的色品时的光源的颜色；颜色传感器，将物体颜色同前面已经示教过的参考颜色进行比较来检测颜色的传感器，当两个颜色在一定的误差范围内相吻合时，输出检测结果，所述黑体辐射公式如下：其中，C1为第一辐射常数，值为3.7417749*10-16W.m2；C2为第二辐射常数，值为1.4388*10-2m.K；T为温度；计算黑体在该温度下发射光的三刺激值：其中，是CIE标准色系统色匹配函数，对应数值见CIE1931标准色度系统色匹配函数；且，根据坐标公式计算出黑体在均匀色度图中对应的坐标值(u,v)，得到黑体轨迹曲线；等温线斜率的倒数1/k：设直线为等温线，且根据等温线斜率的倒数1/k可制成黑体色坐标-色温-斜率表。进一步的，在上述色温检测方法中，所述坐标公式为：根据公式(4)计算出黑体在均匀色度图中的一系列色温对应的坐标值(u,v)，得到黑体轨迹曲线。进一步的，在上述色温检测方法中，所述直线为等温线时，则黑体辐射公式如下：计算黑体温度下发射光的三刺激值公式如下：进一步的，在上述色温检测方法中，所述颜色传感器采用TCS3472，且从所述颜色传感器取参数：rdata、gdata、bdata和cdata。进一步的，在上述色温检测方法中，通过所述颜色传感器参数计算得RGB数值，将rdata，gdata，bdata和cdata，将前三个值除以最后一个值，再乘以256，即得到RGB数值；再转换为XYZ三刺激值：根据(3)式计算出色坐标(uc,vc)。进一步的，在上述色温检测方法中，根据所述黑体色坐标-色温-斜率表，得到待测色坐标(uc,vc)，该等温线值即所求相关色温；当待测坐标落于两条等温线Ti和Ti+1之间时，通过内插法求的相关色温：其中，d1，d2分别为(uc,vc)到两条等温线的距离。(三)有益效果本专利技术提供了一种色温原理检测方法。具备以下有益效果：该色温原理检测方法，根据黑体色坐标-色温-斜率表可以快速定位测色坐标(uc,vc)，快速计算得出需要检测的相关色温，并且可以当待测坐标落于两条等温线Ti和Ti+1之间时，通过内插法求的相关色温，检测速度更快，检测方法更加准确。附图说明图1为CIE1976USC色度图黑体轨迹。具体实施方式为了使本专利技术实现的技术手段、创作特征、达成目的与功效易于明白了解，下面结合具体实施例，进一步阐述本专利技术。一种色温原理检测方法，包括，黑体炉，对辐射温度计的校准、检定，通过高稳定度的辐射源，即黑体辐射，将标准器所复现的温度与被检辐射温度计所复现的温度进行比较，以判断其是否合格或给出校准结果；UCS均匀色彩空间，用于检测和表示一个光源与某一温度下的黑体具有最接近的色品时的光源的颜色；颜色传感器，将物体颜色同前面已经示教过的参考颜色进行比较来检测颜色的传感器，当两个颜色在一定的误差范围内相吻合时，输出检测结果，所述黑体辐射公式如下：其中，C1为第一辐射常数，值为3.7417749*10-16W.m2；C2为第二辐射常数，值为1.4388*10-2m.K；T为温度；计算黑体在该温度下发射光的三刺激值：其中，是CIE标准色系统色匹配函数，对应数值见CIE1931标准色度系统色匹配函数；且，根据坐标公式计算出黑体在均匀色度图中对应的坐标值(u,v)，得到黑体轨迹曲线；等温线斜率的倒数1/k：设直线为等温线，且根据等温线斜率的倒数1/k可制成黑体色坐标-色温-斜率表。进一步的，在上述色温检测方法中，所述坐标公式为：根据公式(4)计算出黑体在CIE1976UCS均匀色度图中的一系列色温对应的坐标值(u,v)，得到黑体轨迹曲线，如说明书附图1所示：进一步的，在上述色温检测方法中，所述直线为等温线时，则黑体辐射公式如下：计算黑体温度下发射光的三刺激值公式如下：进一步的，在上述色温检测方法中，所述颜色传感器采用TCS3472，且从所述颜色传感器取参数：rdata、gdata、bdata和cdata。进一步的，在上述色温检测方法中，通过所述颜色传感器参数计算得RGB数值，将rdata，gdata，bdata和cdata，将前三个值除以最后一个值，再乘以256，即得到RGB数值；再转换为XYZ三刺激值：根据(3)式计算出色坐标(uc,vc)。进一步的，在上述色温检测方法中，根据所述黑体色坐标-色温-斜率表，得到待测色坐标(uc,vc)，该等温线值即所求相关色温；当待测坐标落于两条等温线Ti和Ti+1之间时，通过内插法求的相关色温：其中，d1，d2分别为(uc,vc)到两条等温线的距离。以上显示和描述了本专利技术的基本原理和主要特征和本专利技术的优点。本行业的技术人员应该了解，本专利技术不受上述实施例的限制，上述实施例和说明书中描述的只是说明本专利技术的原理，在不脱离本专利技术精神和范围的前提下，本专利技术还会有各种变化和改进，这些变化和改进都落入要求保护的本专利技术范围内。本专利技术要求保护范围由所附的权利要求书及其等效物界定。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种色温原理检测方法，包括，/n黑体炉，对辐射温度计的校准、检定，通过高稳定度的辐射源，即黑体辐射，将标准器所复现的温度与被检辐射温度计所复现的温度进行比较，以判断其是否合格或给出校准结果；/nUCS均匀色彩空间，用于检测和表示一个光源与某一温度下的黑体具有最接近的色品时的光源的颜色；/n颜色传感器，将物体颜色同前面已经示教过的参考颜色进行比较来检测颜色的传感器，当两个颜色在一定的误差范围内相吻合时，输出检测结果，其特征在于：所述黑体辐射公式如下：/n

【技术特征摘要】
1.一种色温原理检测方法，包括，
黑体炉，对辐射温度计的校准、检定，通过高稳定度的辐射源，即黑体辐射，将标准器所复现的温度与被检辐射温度计所复现的温度进行比较，以判断其是否合格或给出校准结果；
UCS均匀色彩空间，用于检测和表示一个光源与某一温度下的黑体具有最接近的色品时的光源的颜色；
颜色传感器，将物体颜色同前面已经示教过的参考颜色进行比较来检测颜色的传感器，当两个颜色在一定的误差范围内相吻合时，输出检测结果，其特征在于：所述黑体辐射公式如下：



其中，C1为第一辐射常数，值为3.7417749*10-16W.m2；
C2为第二辐射常数，值为1.4388*10-2m.K；
T为温度；
计算黑体在该温度下发射光的三刺激值：









其中，是CIE标准色系统色匹配函数，对应数值见CIE1931标准色度系统色匹配函数；
且，根据坐标公式计算出黑体在均匀色度图中对应的坐标值(u,v)，得到黑体轨迹曲线；
等温线斜率的倒数1/k：



设直线为等温线，且根据等温线斜率的倒数1/k可制成黑体色坐标-色温-斜率表。


2.根据权利要求1所述的一种色温原理检测方法，其特征在于：所述坐标公式为：
...

【专利技术属性】
技术研发人员：周怡兵，奚易堃，吴徐森，
申请(专利权)人：安徽曼德克环境科技有限公司，
类型：发明
国别省市：安徽;34