成像系统及其操作方法技术方案

技术编号:29686368 阅读:8 留言:0更新日期:2021-08-13 22:11
本文公开一种成像系统(500),其包括图像传感器(490),该图像传感器包括(a)顶部表面(492),(b)所述顶部表面(492)上的M个有源区域(190A‑190D),M是大于0的整数,以及(c)所述顶部表面(492)上在所述M个有源区域(190A‑190D)之间的盲区(488),其使得所述M个有源区域(190A‑190D)中没有任何一个有源区域与另一个有源区域是直接的物理接触;包括有N个辐射源(510.1‑510.9)的辐射源系统,N是大于1的整数,其中,为响应于放置在所述图像传感器(490)和所述辐射源系统之间的物体(520),所述成像系统(500)被配置为依次开启然后关闭所述N个辐射源(510.1‑510.9)从而在所述M个有源区域(190A‑190D)中产生M×N个图像,并且其中所述物体(520)的每个点被捕获在所述M×N个图像中的至少一个图像中。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】成像系统及其操作方法
本文的公开涉及成像技术,特别涉及成像系统及其操作方法。
技术介绍
辐射检测器是一种测量辐射的特性的装置。所述特性的示例可包括辐射的强度、相位和偏振的空间分布。辐射可以是与物体相互作用的辐射。例如,由辐射检测器测量的辐射可以是已经从物体穿透或从物体反射的辐射。辐射可以是电磁辐射,比如红外光、可见光、紫外光、X射线或γ射线。辐射可以是其他类型,比如α射线和β射线。一个成像系统可包括多个辐射检测器。辐射检测器很昂贵;因此,现有技术的典型成像系统也很昂贵。
技术实现思路
一种成像系统,其包括:图像传感器,该图像传感器包括(a)顶部表面,(b)所述顶部表面上的M个有源区域,M是大于0的整数,以及(c)所述顶部表面上在所述M个有源区域之间的盲区,其使得所述M个有源区域中没有任何一个有源区域与另一个有源区域是直接的物理接触;和包括有N个辐射源的辐射源系统,N是大于1的整数,其中,为响应于放置在所述图像传感器和所述辐射源系统之间的物体,所述成像系统被配置为依次开启然后关闭所述N个辐射源从而在所述M个有源区域中产生M×N个图像,并且其中所述物体的每个点被捕获在所述M×N个图像中的至少一个图像中。根据实施例,其中M是1,N是2。根据实施例,所述M个有源区域被布置为有源区域的矩形阵列,并且所述N个辐射源被布置为辐射源的矩形阵列。根据实施例,所述M个有源区域被布置为有源区域的2×2矩形阵列,并且所述N个辐射源被布置为辐射源的3×3矩形阵列。根据实施例,所述N个辐射源中的每个辐射源均为X射线源。根据实施例,所述N个辐射源在与所述顶部表面平行的平面上。本文公开一种操作成像系统的方法,所述成像系统包括(A)图像传感器,该图像传感器包括(a)顶部表面,(b)所述顶部表面上的M个有源区域,M是大于0的整数,以及(c)所述顶部表面上在所述M个有源区域之间的盲区,其使得所述M个有源区域中没有任何一个有源区域与另一个有源区域是直接的物理接触;和(B)辐射源系统,其包括N个辐射源,N是大于1的整数,所述方法包括将物体放置在所述图像传感器和所述辐射源系统之间;和对于i=1,…,N,依次开启然后关闭所述N个辐射源中的第i个辐射源,从而在所述M个有源区域中产生M×N个图像,其中所述物体的每个点被捕获在所述M×N个图像中的至少一个图像中。根据实施例,所述方法进一步包括拼接所述M×N个图像以形成所述物体的完整图像。根据实施例,所述方法进一步包括,对于i=1,...,N,在所述的开启然后关闭所述N个辐射源中的第i个辐射源被执行,从而在所述M个有源区域中产生M个图像之后:从所述M个有源区域中读出所述M个图像,以供以后处理;然后重置所述M个有源区域。根据实施例,所述M个有源区域被布置为有源区域的矩形阵列,并且所述N个辐射源被布置为辐射源的矩形阵列。根据实施例,所述N个辐射源中的每个辐射源均为X射线源。根据实施例,所述N个辐射源在与所述顶部表面平行的平面上。本文公开一种操作成像系统的方法,所述成像系统包括图像传感器,该图像传感器包括(a)顶部表面,(b)所述顶部表面上的M个有源区域,M是大于0的整数,以及(c)所述顶部表面上在所述M个有源区域之间的盲区,其使得所述M个有源区域中没有任何一个有源区域与另一个有源区域是直接的物理接触,所述方法包括指定N个辐射位置,N是大于1的整数;将物体放置在所述图像传感器和所述N个辐射位置之间;以及,对于i=1,…,N,仅从所述N个辐射位置中的第i个辐射位置依次发送辐射,从而在所述M个有源区域中产生M×N个图像,其中所述物体的每个点被捕获在所述M×N个图像中的至少一个图像中。根据实施例,所述方法进一步包括拼接所述M×N个图像以形成所述物体的完整图像。根据实施例,所述方法进一步包括,对于i=1,...,N,在所述的仅从所述N个辐射位置中的第i个辐射位置发送辐射被执行,从而在所述M个有源区域中产生M个图像之后:从所述M个有源区域中读出所述M个图像,以供以后处理;然后重置所述M个有源区域。根据实施例,上述对于i=1,…,N,仅从所述N个辐射位置中的第i个辐射位置依次发送辐射,包括使用单个辐射源从所述N个辐射位置依次发送辐射。根据实施例,所述M个有源区域被布置为有源区域的矩形阵列,并且所述N个辐射位置被布置为辐射位置的矩形阵列。根据实施例,对于i=1,…,N,从所述N个辐射源的所述第i个辐射位置发送的所述辐射包括X射线源。根据实施例,所述N个辐射位置在与所述顶部表面平行的平面上。【附图说明】图1示意示出根据实施例的一种辐射检测器。图2A示意示出根据实施例的所述辐射检测器的简化横截面图。图2B示意示出根据实施例的所述辐射检测器的详细横截面图。图2C示意示出根据实施例的所述辐射检测器的替代详细横截面图。图3示意示出根据实施例的包括了辐射检测器和印刷电路板(PCB)的封装的俯视图。图4示意示出根据实施例的图像传感器的横截面图,其中图3中的多个所述封装被安装到系统PCB。图5示意示出根据实施例的包括有图像传感器和多个辐射源的成像系统的透视图。图6A示意示出根据实施例的图5中沿平面5A的成像系统的横截面图。图6B示意示出根据实施例的图5中沿平面5B的成像系统的横截面图。图7示意示出根据实施例的列出图5中成像系统的操作步骤的流程图。【具体实施方式】图1示意示出作为示例的辐射检测器100。所述辐射检测器100可具有所述像素150的阵列。所述像素阵列可以是矩形阵列(如图1所示)、蜂窝阵列、六边形阵列、或任何其他合适的阵列。在图1的示例中,所述像素150的阵列具有7行和4列;然而,通常所述像素150的阵列可具有任意数目的行和任意数目的列。每个所述像素150可被配置为检测入射在其上的来自辐射源(图中未显示)的辐射,并且可被配置为测量所述辐射的特性(例如,辐射粒子的能量、波长、和频率)。辐射可包括诸如光子(电磁波)和亚原子粒子。每个像素150可被配置为对一段时间内入射其上的,其能量落在多个能量仓中的辐射粒子的数目进行计数。所有所述像素150可被配置为对所述相同时间段内入射其上的,在多个能量仓中的辐射粒子的数目进行计数。当所述入射辐射粒子具有相似的能量时,所述像素150可被简单地配置为在一段时间内计数入射在其上的辐射粒子的数量,而不测量所述单个辐射粒子的能量。每个像素150可具有其自己的模拟数字转换器(ADC),所述ADC被配置为将表示入射辐射粒子能量的模拟信号数字化为数字信号,或将表示多个入射辐射粒子总能量的模拟信号数字化为数字信号。所述像素150可被配置为并行操作。例如,当一个像素150测量一个入射的辐射粒子时,另一个像素150可能正在等待另一个辐射粒子到达。所述像素150可以不必是单独可寻址的。这里所述的辐射检测器100可具有诸如X射线望远镜、乳腺X射线照相、工业X本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种成像系统,其包括:/n图像传感器,该图像传感器包括(a)顶部表面,(b)所述顶部表面上的M个有源区域,M是大于0的整数,以及(c)所述顶部表面上在所述M个有源区域之间的盲区,其使得所述M个有源区域中没有任何一个有源区域与另一个有源区域是直接的物理接触;和/n包括有N个辐射源的辐射源系统,N是大于1的整数,/n其中,为响应于放置在所述图像传感器和所述辐射源系统之间的物体,所述成像系统被配置为依次开启然后关闭所述N个辐射源从而在所述M个有源区域中产生M×N个图像,并且/n其中所述物体的每个点被捕获在所述M×N个图像中的至少一个图像中。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】1.一种成像系统,其包括:
图像传感器,该图像传感器包括(a)顶部表面,(b)所述顶部表面上的M个有源区域,M是大于0的整数,以及(c)所述顶部表面上在所述M个有源区域之间的盲区,其使得所述M个有源区域中没有任何一个有源区域与另一个有源区域是直接的物理接触;和
包括有N个辐射源的辐射源系统,N是大于1的整数,
其中,为响应于放置在所述图像传感器和所述辐射源系统之间的物体,所述成像系统被配置为依次开启然后关闭所述N个辐射源从而在所述M个有源区域中产生M×N个图像,并且
其中所述物体的每个点被捕获在所述M×N个图像中的至少一个图像中。


2.如权利要求1所述的成像系统,其中M是1,N是2。


3.如权利要求1所述的成像系统,
其中所述M个有源区域被布置为有源区域的矩形阵列,并且
其中所述N个辐射源被布置为辐射源的矩形阵列。


4.如权利要求3所述的成像系统,
其中所述M个有源区域被布置为有源区域的2×2矩形阵列,并且
其中所述N个辐射源被布置为辐射源的3×3矩形阵列。


5.如权利要求1所述的成像系统,其中所述N个辐射源中的每个辐射源均为X射线源。


6.如权利要求1所述的成像系统,其中所述N个辐射源在与所述顶部表面平行的平面上。


7.一种操作成像系统的方法,所述成像系统包括(A)图像传感器,该图像传感器包括(a)顶部表面,(b)所述顶部表面上的M个有源区域,M是大于0的整数,以及(c)所述顶部表面上在所述M个有源区域之间的盲区,其使得所述M个有源区域中没有任何一个有源区域与另一个有源区域是直接的物理接触;和(B)辐射源系统,其包括N个辐射源,N是大于1的整数,所述方法包括
将物体放置在所述图像传感器和所述辐射源系统之间;和
对于i=1,…,N,依次开启然后关闭所述N个辐射源中的第i个辐射源,从而在所述M个有源区域中产生M×N个图像,其中所述物体的每个点被捕获在所述M×N个图像中的至少一个图像中。


8.如权利要求7所述的方法,其进一步包括拼接所述M×N个图像以形成所述物体的完整图像。


9.如权利要求7所述的方法,其进一步包括,对于i=1,...,N,在所述的开启然后关闭所述N个辐射源中的第i个辐射源被执行,从而在所述M个有源区域中产生M个图像之后:
从所述M个有源区域中读出所述M个图像,以供以后处理;然后<...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹培炎刘雨润
申请(专利权)人:深圳帧观德芯科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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