System.ArgumentOutOfRangeException: 索引和长度必须引用该字符串内的位置。 参数名: length 在 System.String.Substring(Int32 startIndex, Int32 length) 在 zhuanliShow.Bind() 扩展显微镜中的X射线成像制造技术_技高网

扩展显微镜中的X射线成像制造技术

技术编号:41201411 阅读:3 留言:0更新日期:2024-05-07 22:27
本文公开了一种成像方法,所述成像方法包括:将显像剂(515a1、515a2、515a3)附接到物体(500)的部分(720);在三个维度(3D)上扩展所述物体(500)的所述部分(710);在进行所述附接和所述扩展之后,基于所述显像剂(515a1、515a2、515a3)与入射在所述物体(500)上的X射线的相互作用而生成所述显像剂(515a1、515a2、515a3)的3D图像(730)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】


技术介绍

1、辐射检测器是一种测量辐射性质的装置。性质的示例可以包括辐射的强度、相位和偏振的空间分布。辐射可以是已经与物体相互作用的辐射。例如,由辐射检测器测量的辐射可以是已经穿透物体的辐射。辐射可以是电磁辐射,例如红外光、可见光、紫外光、x射线或γ射线。辐射也可以是其它类型,例如α射线和β射线。成像系统可以包括一个或多个图像传感器,每个图像传感器可以具有一个或多个辐射检测器。


技术实现思路

1、本文公开了一种成像方法,所述成像方法包括:将显像剂附接到物体的部分;在三个维度(3d)上扩展所述物体的所述部分;在进行所述附接和所述扩展之后,基于所述显像剂与入射在所述物体上的x射线的相互作用而生成所述显像剂的3d图像。

2、在一方面,所述扩展是各向同性的。

3、在一方面,在进行所述附接之前,进行所述扩展。

4、在一方面,在进行所述附接之后,进行所述扩展。

5、在一方面,所述显像剂包括原子序数为23或更高的元素。

6、在一方面,所述扩展所述物体的所述部分包括:将化学连接子锚定在所述物体中;形成与所述化学连接子结合的聚合物网络;以及通过扩展所述聚合物网络来扩展所述部分。

7、在一方面,所述扩展所述物体的所述部分包括:将可膨胀材料引入所述物体;通过使所述可膨胀材料膨胀来扩展所述部分。

8、在一方面,所述生成所述显像剂的所述3d图像包括:基于所述相互作用拍摄所述显像剂的多个二维(2d)图像;以及使用计算机断层摄影由所述多个2d图像生成所述显像剂的所述3d图像。

9、在一方面,所述相互作用是由入射到所述物体上的所述x射线导致的所述显像剂的特征x射线的发射。

10、在一方面,所述相互作用是通过所述显像剂对入射到所述物体上的所述x射线的衰减。

11、在一方面,所述拍摄所述多个2d图像包括围绕所述物体旋转辐射源和辐射检测器,使得所述显像剂被设置在所述辐射源与所述辐射检测器之间。

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【技术保护点】

1.一种成像方法,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述扩展是各向同性的。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,在进行所述附接之前,进行所述扩展。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,在进行所述附接之后,进行所述扩展。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述显像剂包括原子序数为23或更高的元素。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述扩展所述物体的所述部分包括:

7.根据权利要求1所述的方法,其中,所述扩展所述物体的所述部分包括:

8.根据权利要求1所述的方法,其中,所述生成所述显像剂的所述3D图像包括:

9.根据权利要求8所述的方法,其中,所述相互作用是由入射到所述物体上的所述X射线导致的所述显像剂的特征X射线的发射。

10.根据权利要求8所述的方法,其中,所述相互作用是通过所述显像剂对入射到所述物体上的所述X射线的衰减。

11.根据权利要求8所述的方法,其中,所述拍摄所述多个2D图像包括围绕所述物体旋转辐射源和辐射检测器,使得所述显像剂被设置在所述辐射源与所述辐射检测器之间。

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【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

1.一种成像方法,包括:

2.根据权利要求1所述的方法,其中,所述扩展是各向同性的。

3.根据权利要求1所述的方法,其中,在进行所述附接之前,进行所述扩展。

4.根据权利要求1所述的方法,其中,在进行所述附接之后,进行所述扩展。

5.根据权利要求1所述的方法,其中,所述显像剂包括原子序数为23或更高的元素。

6.根据权利要求1所述的方法,其中,所述扩展所述物体的所述部分包括:

7.根据权利要求1所述的方法,其中,所述扩展所述物体的所述部分...

【专利技术属性】
技术研发人员:曹培炎
申请(专利权)人:深圳帧观德芯科技有限公司
类型:发明
国别省市:

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