一种组合式电子元件检测盒制造技术

本实用新型专利技术涉及元件检测装置技术领域，特别涉及一种组合式电子元件检测盒。该设备包括盒体、封盖、扣具结构，所述盒体包括置板位、置线槽，置线槽设有若干组，各置线槽间隔排列布置，扣具结构包括卡槽与卡扣，盒体左右两侧分别形成有一所述卡槽，盒体分为底座盒体、过渡盒体，封盖底部两侧分别设有所述卡扣，过渡盒体底部两侧分别设有所述卡扣，封盖可通过卡扣与盒体卡槽配合的盖设于盒体上，过渡盒体可通过卡扣对应下方过渡盒体或底座盒体的卡槽配合的层叠设置。可根据需求选择若干盒子进行组合为整体结构，方便后续试验操作；测试基板采用置入方式放置，无需采用螺丝固定，工作效率高；各测试基板分隔独立，保证测试精度。

【技术实现步骤摘要】
一种组合式电子元件检测盒
本技术涉及元件检测装置
，特别涉及一种组合式电子元件检测盒。
技术介绍
电子元件在生产制造过程中，为了解产品电性能参数及可靠性指标需要对产品进行电压处理、老化寿命、高温绝缘电阻、温度特性等测试。现有测试对某些电子元件需要先将产品焊接到测试基板上，采用金丝键合方式引出试验端，再用高低温测试线连接测试设备或加压设备进行可靠性试验。由于试验过程长，因此每次试验尽量更多组产品同时进行，则需要对各测试基板排列固定在一定位装置上，现有的定位装置需要每个测试板都通过单独螺丝锁紧，拆卸与安装费时费力。
技术实现思路
为克服现有技术中的不足，本技术提供一种组合式电子元件检测盒。为实现上述目的，本技术采用的技术方案如下：一种组合式电子元件检测盒，其特征在于：包括盒体、封盖、扣具结构，所述盒体包括置板位、置线槽，所述置线槽由盒体顶部向下凹陷形成，所述置线槽从盒体顶面向下开设，且前后两端形成由盒体外贯穿入置板位内的贯穿结构，所述置线槽设有若干组，各置线槽间隔排列布置，所述扣具结构包括对应的卡槽与卡扣，盒体左右两侧分别形成有一所述卡槽，所述盒体分为底座盒体、过渡盒体，所述封盖底部两侧分别设有所述卡扣，所述过渡盒体底部两侧分别设有所述卡扣，封盖可通过卡扣与盒体卡槽配合的盖设于盒体上，过渡盒体可通过卡扣对应下方过渡盒体或底座盒体的卡槽配合的层叠设置。进一步的，卡槽由盒体顶面向下延伸且朝外一侧开口，卡槽内形成有朝外凸出的第一卡条，所述卡扣包括延伸板、第二卡条，所述第二卡条设于延伸板朝内的一面凸出设置，卡槽与卡扣在扣接状态下，第二卡条处于第一卡条下方且被限位卡止。进一步的，还包括嵌合结构，所述嵌合结构包括分别设于底座盒体左右两侧的嵌合条、嵌合槽，一底座盒体的嵌合条置入另一底座盒体的嵌合槽内，形成多个底座盒体横向排列连接。进一步的，嵌合槽为缩口槽结构，嵌合槽形成于底座盒体一侧的向内凹陷，且前后贯穿出底座盒体，所述嵌合条对应设于底座盒体另一侧的向外凸出设置。进一步的，盒体的置板位上部设有向上凸出的定位沿，所述封盖底部设有向上开设的第一定位槽，所述过渡盒体底部设有向上开设的第二定位槽。由上述对本技术的描述可知，与现有技术相比，本技术提供的一种组合式电子元件检测盒，可根据需求选择若干盒子进行组合为整体结构，方便后续试验操作，并且可适配各种尺寸的试验设备；测试基板采用置入方式放置，无需采用螺丝固定，工作效率高；各测试基板分隔独立，避免相互影响，保证测试精度。附图说明图1为本技术一种组合式电子元件检测盒分解状态结构示意图。图2为本技术过渡盒体及封盖结构示意图。图3为本技术一种组合式电子元件检测盒组合结构示意图。图4为本技术图3剖面示意图。图5为本技术图4局部放大示意图。图中标识对应如下：1.盒体、1A.底座盒体、1B.过渡盒体、11.置板位、12.置线槽、13.定位沿、14.第二定位槽、2.封盖、21.第一定位槽、3.扣具结构、31.卡槽、311.第一卡条、32.卡扣、321.延伸板、322.第二卡条、4.嵌合结构、41.嵌合条、42.嵌合槽。具体实施方式以下通过具体实施方式对本技术作进一步的描述。参照图1至图5所示，一种组合式电子元件检测盒，包括盒体1、封盖2、扣具结构3、嵌合结构4。盒体1包括置板位11、置线槽12，置线槽12由盒体1顶部向下凹陷形成，置线槽12从盒体1顶面向下开设，且前后两端形成由盒体1外贯穿入置板位11内的贯穿结构，置线槽12设有若干组，各置线槽12间隔排列布置，扣具结构3包括对应的卡槽31与卡扣32，盒体1左右两侧分别形成有一卡槽31，卡槽31由盒体1顶面向下延伸且朝外一侧开口，卡槽31内形成有朝外凸出的第一卡条311，盒体1分为底座盒体1A、过渡盒体1B，封盖2底部两侧分别设有卡扣32，过渡盒体1B底部两侧分别设有卡扣32，卡扣32包括延伸板321、第二卡条322，第二卡条322设于延伸板321朝内的一面凸出设置，卡槽31与卡扣32在扣接状态下，第二卡条322处于第一卡条311下方且被限位卡止，盒体1的置板位11上部设有向上凸出的定位沿13，封盖2底部设有向上开设的第一定位槽21，过渡盒体1B底部设有向上开设的第二定位槽14，封盖2可通过卡扣32与盒体1卡槽31配合的盖设于盒体1上，过渡盒体1B可通过卡扣32对应下方过渡盒体1B或底座盒体1A的卡槽31配合的层叠设置。嵌合结构4包括分别设于底座盒体1A左右两侧的嵌合条41、嵌合槽42，嵌合槽42为缩口槽结构，嵌合槽42形成于底座盒体1一侧的向内凹陷，且前后贯穿出底座盒体1，嵌合条41对应设于底座盒体1A另一侧的向外凸出设置，一底座盒体1A的嵌合条41置入另一底座盒体1A的嵌合槽42内，形成多个底座盒体1A横向排列连接。该种组合式电子元件检测盒工作原理如下：待检测的电子元件焊接到测试基板上，采用键合金丝引出试验端；一盒体1内可放置一测试基板，测试基板本体放于置板位11内，各键合金丝由置线槽12内分别引出。根据该次试验所需测试的测试基板数量选择若干底座盒体1A与过渡盒体1B，各底座盒体1A通过嵌合结构4横向连接排布，过渡盒体1B通过扣具结构3设于底座盒体1A上层并将底座盒体1A封闭，或过渡盒体1B通过扣具结构3置于下方的过渡盒体1B的层叠设置，最后采用封盖2通过扣具结构3将处于最上层的过渡盒体1B封闭，进而将所有的测试基板安装封闭于盒体1内，且各盒体1整合为组合一体结构，进而方便进行后续测试试验步骤。上述仅为本技术的一种具体实施方式，但本技术的设计构思并不局限于此，凡利用此构思对本技术进行非实质性的改动，均应属于侵犯本技术保护范围的行为。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种组合式电子元件检测盒，其特征在于：包括盒体、封盖、扣具结构，所述盒体包括置板位、置线槽，所述置线槽由盒体顶部向下凹陷形成，所述置线槽从盒体顶面向下开设，且前后两端形成由盒体外贯穿入置板位内的贯穿结构，所述置线槽设有若干组，各置线槽间隔排列布置，所述扣具结构包括对应的卡槽与卡扣，盒体左右两侧分别形成有一所述卡槽，所述盒体分为底座盒体、过渡盒体，所述封盖底部两侧分别设有所述卡扣，所述过渡盒体底部两侧分别设有所述卡扣，封盖可通过卡扣与盒体卡槽配合的盖设于盒体上，过渡盒体可通过卡扣对应下方过渡盒体或底座盒体的卡槽配合的层叠设置。/n

【技术特征摘要】
1.一种组合式电子元件检测盒，其特征在于：包括盒体、封盖、扣具结构，所述盒体包括置板位、置线槽，所述置线槽由盒体顶部向下凹陷形成，所述置线槽从盒体顶面向下开设，且前后两端形成由盒体外贯穿入置板位内的贯穿结构，所述置线槽设有若干组，各置线槽间隔排列布置，所述扣具结构包括对应的卡槽与卡扣，盒体左右两侧分别形成有一所述卡槽，所述盒体分为底座盒体、过渡盒体，所述封盖底部两侧分别设有所述卡扣，所述过渡盒体底部两侧分别设有所述卡扣，封盖可通过卡扣与盒体卡槽配合的盖设于盒体上，过渡盒体可通过卡扣对应下方过渡盒体或底座盒体的卡槽配合的层叠设置。


2.根据权利要求1所述一种组合式电子元件检测盒，其特征在于：卡槽由盒体顶面向下延伸且朝外一侧开口，卡槽内形成有朝外凸出的第一卡条，所述卡扣包括延伸板、第二卡条，所述第二卡条设于延伸...

【专利技术属性】
技术研发人员：谢艺精，洪鸣，潘甲东，刘剑林，
申请(专利权)人：福建毫米电子有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35