【技术实现步骤摘要】
光电性能测试系统
[0001]本技术涉及一种性能测试系统,尤其涉及的是一种光电性能测试系统。
技术介绍
[0002]现有的微光像增强器/低照度CMOS动态光电性能测试系统专门用于对微光像增强器、ICCD、ICMOS、低照度CMOS和低照度CCD成像系统进行静态和动态的光电性能测试和分析;
[0003]微光像增强器是微光夜视仪的核心部件,它由输入窗、光电阴极、微通道板、荧光屏、输出窗等组成。主要工作原理:在夜间,当微弱光线透过输入窗被光电阴极吸收,光电阴极发射出光电子,光电子在电场作用下进入微通道板,经过微通道板后光电子得到倍增,微通道板输出的光电子最后轰击荧光屏发光,并通过输出窗输出,这样输出的光通量与输入的光通量相比放大了数万倍,即输出亮度达到人眼观察目标的亮度,实现人眼在黑暗中观察目标的目的。
[0004]测试系统对光源的要求如下:(1)灯泡较大功率,所以需要设计良好的散热;(2)灯泡需要注意设计安装方向,因为灯泡各向发光的不均匀,要保证对准光阑1的为最大亮度;(3)测试系统光源匀光处理;(4)滤光片框右 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.光电性能测试系统,其特征在于,包括测试箱,以及依次同轴安装的测试组件,测试箱具有多个光源入口和至少一个光线出口,所述测试箱包括至少一个光源组件、复眼透镜,测试组件能够拆卸的安装在测试箱的光线出口处,所述光源组件能够拆卸的安装在光源入口处,所述复眼透镜安装在光线出口处,光线依次通过复眼透镜、测试组件。2.根据权利要求1所述的光电性能测试系统,其特征在于,所述测试箱为矩形箱,所述测试箱包括两个光源入口,所述光源组件为两个,两个光源组件分别安装在两个光源入口处,并位于测试箱外部,其中一个光源组件的中心轴线与所述测试组件的中心轴线同轴,另一个光源组件的轴线与所述测试组件的中心轴线垂直相交。3.根据权利要求1所述的光电性能测试系统,其特征在于,所述测试箱内包括分光镜组件、滤光片组件,所述分光镜组件安装在测试箱的底面,且分光镜组件与光源组件的中心轴线呈45度角安装,所述滤光片组件安装在光源入口处和光线出口处,所述滤光片组件安装在所述测试箱内。4.根据权利要求1所述的光电性能测试系统,其特征在于,所述光源组件包括灯、灯安装板、光源物镜筒、准直透镜、接口压环,所述灯安装在灯安装板上,灯安装板的一端为筒状结构,筒状结构与光源物镜筒的一端螺纹连接,光源物镜筒的另一端与接口压环连接,所述准直透镜安装在光源物镜筒内部,灯发出的光经过准直透镜进入测试箱。5.根据权利要求4所述的光电性能测试系统,其特征在于,还包括散热器,所述散热器安装在灯安装板上。6.根据权利要求3所述的光电性能测试系统,其特征在于,所述复眼透镜安装在所述测试箱的箱壁上,并位于滤光片组件一侧,光线依次滤光片组件后经过复眼透镜。7.根据权利要求1所述的光电性能测试系统,其...
【专利技术属性】
技术研发人员:王茁,詹丽华,王继军,王昊洋,黄玉梅,
申请(专利权)人:合肥濯新光电科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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