光电性能测试系统技术方案

本实用新型专利技术公开光电性能测试系统，包括测试箱，以及依次同轴安装的测试组件，测试箱具有多个光源入口和至少一个光线出口，所述测试箱包括至少一个光源组件、复眼透镜，测试组件能够拆卸的安装在测试箱的光线出口处，所述光源组件能够拆卸的安装在光源入口处，所述复眼透镜安装在光线出口处，光线依次通过复眼透镜、被测件、测试组件。本实用新型专利技术的有益效果：光源组件能够拆卸的连接在测试箱上，以及分辨率测试组件也能够拆卸的安装，可以根据不同需求更换光源和测试组件，且利用复眼透镜的特点，其光能利用率高、结构简单等优势，将其与大功率光源搭配使用，具有结构简单、尺寸小、光斑面积大的优势。面积大的优势。面积大的优势。

【技术实现步骤摘要】
光电性能测试系统


[0001]本技术涉及一种性能测试系统，尤其涉及的是一种光电性能测试系统。

技术介绍

[0002]现有的微光像增强器/低照度CMOS动态光电性能测试系统专门用于对微光像增强器、ICCD、ICMOS、低照度CMOS和低照度CCD成像系统进行静态和动态的光电性能测试和分析；
[0003]微光像增强器是微光夜视仪的核心部件，它由输入窗、光电阴极、微通道板、荧光屏、输出窗等组成。主要工作原理：在夜间，当微弱光线透过输入窗被光电阴极吸收，光电阴极发射出光电子，光电子在电场作用下进入微通道板，经过微通道板后光电子得到倍增，微通道板输出的光电子最后轰击荧光屏发光，并通过输出窗输出，这样输出的光通量与输入的光通量相比放大了数万倍，即输出亮度达到人眼观察目标的亮度，实现人眼在黑暗中观察目标的目的。
[0004]测试系统对光源的要求如下：(1)灯泡较大功率，所以需要设计良好的散热；(2)灯泡需要注意设计安装方向，因为灯泡各向发光的不均匀，要保证对准光阑1的为最大亮度；(3)测试系统光源匀光处理；(4)滤光片框右侧应能安装可在x、y方向移动的分辨率卡，同时需要考虑与积分球，共轭镜的接口问题；(5)窄带滤光片要求，中心波长800
±
3nm、850
±
3nm，透过率10％为限带宽为12.5
±
1.5nm，最小峰值透过率40％；(6)滤光片框内可放置的滤光片数需符合各种测试的要求；(7)灯泡距离像管的距离应小于190mm。
[0005]如申请号：201610700230.8，低照度CMOS芯片性能测试系统，一种低照度CMOS芯片性能测试系统，其特征在于，包括卤钨灯光源(1)、电动狭缝(2)、第一积分球(3)、可变孔径光阑(4)、第二积分球(5)、暗箱(6)、待测低照度CMOS芯片、光照度计(7)和计算机(8)；所述电动狭缝(2)设置在卤钨灯光源(1)和第一积分球(3)入光面之间，所述可变孔径光阑(4)设置在第一积分球(3)出光面与第二积分球(5)入光面之间，第二积分球(5)的出光面连接暗箱(6)入口，暗箱(6)内置待测低照度CMOS芯片，低照度CMOS芯片输出端连接计算机(8)，第二积分球(5)出光面所在球壁上设有两个窗孔，用于连接光照度计(7)上的硅光电池和倍增管，所述光照度计(7)用于读取入射到低照度CMOS芯片光敏面的光照度；卤钨灯光源(1)发出的光线经过电动狭缝(2)对光照度进行衰减，狭缝大小由计算机(8)控制，衰减后的光入射到第一积分球(3)内，第一积分球(3)出射光再次经过可变孔径光阑(4)进行二次衰减，经过二次衰减的光入射到第二积分球(5)内，通过第二积分球(5)使光均匀入射到暗箱(6)内低照度CMOS芯片的光敏面上，低照度CMOS芯片后端连接计算机(8)，所述计算机(8)用于对低照度CMOS芯片输出信号进行视频采集。
[0006]目前使用积分球作为匀光，积分球均匀光源经常用于生物、微光成像及定量测量校准，但是利用率低损耗较大，系统靶面背景照度范围设置范围1
×
10
‑
6lx～2
×
10+5lx连续可调，对灯泡的功率需求过大。
[0007]公开于该
技术介绍
部分的信息仅仅旨在增加对本技术的总体背景的理解，而
不应当被视为承认或以任何形式暗示该信息构成已为本领域一般技术人员所公知的现有技术。

技术实现思路

[0008]本技术所要解决的技术问题在于：如何解决现有的光源模块利用率低损耗大的问题。
[0009]本技术通过以下技术手段实现解决上述技术问题的：
[0010]光电性能测试系统，包括测试箱，以及依次同轴安装的测试组件，测试箱具有多个光源入口和至少一个光线出口，所述测试箱包括至少一个光源组件、复眼透镜，测试组件能够拆卸的安装在测试箱的光线出口处，所述光源组件能够拆卸的安装在光源入口处，所述复眼透镜安装在光线出口处，光线依次通过复眼透镜、测试组件。
[0011]本技术中的光源组件能够拆卸的连接在测试箱上，以及分辨率测试组件也能够拆卸的安装，可以根据不同需求更换光源和测试组件，本技术利用复眼透镜的特点，其光能利用率高、结构简单等优势，将其与大功率光源搭配使用，具有结构简单、尺寸小、光斑面积大的优势。
[0012]优选的，所述测试箱为矩形箱，所述测试箱包括两个光源入口，所述光源组件为两个，两个光源组件分别安装在两个光源入口处，并位于测试箱外部，其中一个光源组件的中心轴线与所述测试组件的中心轴线同轴，另一个光源组件的轴线与所述测试组件的中心轴线垂直相交。
[0013]优选的，所述测试箱内包括分光镜组件、滤光片组件，所述分光镜组件安装在测试箱的底面，且分光镜组件与光源组件的中心轴线呈45度角安装，所述滤光片组件安装在光源入口处和光线出口处，所述滤光片组件安装在所述测试箱内。
[0014]两个不同的光源组件可以通过分光镜以及滤光片组件获得不同的光源要求。
[0015]优选的，所述光源组件包括灯、灯安装板、光源物镜筒、准直透镜、接口压环，所述灯安装在灯安装板上，灯安装板的一端为筒状结构，筒状结构与光源物镜筒的一端螺纹连接，光源物镜筒的另一端与接口压环连接，所述准直透镜安装在光源物镜筒内部，灯发出的光经过准直透镜进入测试箱。光源组件提供光源，并将光进行校直，形成平行光。
[0016]优选的，还包括散热器，所述散热器安装在灯安装板上。散热器用于灯的散热，避免温度过高，影响寿命。
[0017]优选的，所述复眼透镜安装在所述测试箱的箱壁上，并位于滤光片组件一侧，光线依次滤光片组件后经过复眼透镜。
[0018]优选的，还包括测试座组件，所述测试座组件包括底座、至少两个安装座、像管座、显微镜卡接座，所述测试组件包括依次连接的分辨率组件、像管、显微镜，所述安装座能够滑动的连接在底座上，所述像管座的底部与其中一个安装座顶部连接，所述显微镜卡接座与其中一个安装座的顶部连接，所述测试箱安装在底座上，所述像管安装在像管座内，所述显微镜卡接在显微镜卡接座内。
[0019]优选的，所述安装座包括水平滑动组件、升降组件，所述升降组件连接在水平滑动组件的顶端，所述像管座、所述显微镜卡接座分别连接安装座顶端。
[0020]通过安装座可以实现测试组件的水平方向横移和纵移，以及竖直方向的升降，调
节更加灵活。
[0021]优选的，所述升降组件包括第一套筒、第二套筒、V型旋转件、推杆、限位螺母、限位板，第一套筒内为空，所述V型旋转件能够转动的连接在第一套筒内壁上，第二套筒套接在第一套筒外部，所述推杆穿过第一套筒后与V型旋转件接触连接，所述限位板的一侧连接在第二套筒上，限位板上具有腰型孔，限位螺母穿过腰型孔后拧入第二套筒内。
[0022]优选的，所述水平滑动组件包括第一滑块、第二滑块、第三滑块、两个推动组件，所述第二滑块能够水平横向滑动的连接在第一滑块的顶部，所述第三滑块能够水平竖向滑动本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.光电性能测试系统，其特征在于，包括测试箱，以及依次同轴安装的测试组件，测试箱具有多个光源入口和至少一个光线出口，所述测试箱包括至少一个光源组件、复眼透镜，测试组件能够拆卸的安装在测试箱的光线出口处，所述光源组件能够拆卸的安装在光源入口处，所述复眼透镜安装在光线出口处，光线依次通过复眼透镜、测试组件。2.根据权利要求1所述的光电性能测试系统，其特征在于，所述测试箱为矩形箱，所述测试箱包括两个光源入口，所述光源组件为两个，两个光源组件分别安装在两个光源入口处，并位于测试箱外部，其中一个光源组件的中心轴线与所述测试组件的中心轴线同轴，另一个光源组件的轴线与所述测试组件的中心轴线垂直相交。3.根据权利要求1所述的光电性能测试系统，其特征在于，所述测试箱内包括分光镜组件、滤光片组件，所述分光镜组件安装在测试箱的底面，且分光镜组件与光源组件的中心轴线呈45度角安装，所述滤光片组件安装在光源入口处和光线出口处，所述滤光片组件安装在所述测试箱内。4.根据权利要求1所述的光电性能测试系统，其特征在于，所述光源组件包括灯、灯安装板、光源物镜筒、准直透镜、接口压环，所述灯安装在灯安装板上，灯安装板的一端为筒状结构，筒状结构与光源物镜筒的一端螺纹连接，光源物镜筒的另一端与接口压环连接，所述准直透镜安装在光源物镜筒内部，灯发出的光经过准直透镜进入测试箱。5.根据权利要求4所述的光电性能测试系统，其特征在于，还包括散热器，所述散热器安装在灯安装板上。6.根据权利要求3所述的光电性能测试系统，其特征在于，所述复眼透镜安装在所述测试箱的箱壁上，并位于滤光片组件一侧，光线依次滤光片组件后经过复眼透镜。7.根据权利要求1所述的光电性能测试系统，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：王茁，詹丽华，王继军，王昊洋，黄玉梅，
申请(专利权)人：合肥濯新光电科技有限公司，
类型：新型
国别省市：