本发明专利技术公开了晶振技术领域的一种晶体振荡器用性能检测仪,包括工作台，其特征在于：工作台的底部均匀固定连接有多个支撑柱，工作台顶部的一侧设有检测台，检测台顶部的一端固定安装有示波器，检测台远离示波器一侧的顶部固定安装有电压表，检测台远离示波器一端的顶部固定连接有第一固定板，检测台位于示波器和第一固定板之间的顶部固定连接有第二固定板，第一固定板和第二固定板之间的侧壁设有活动板。本发明专利技术的有益效果是：本发明专利技术使用简单，在对晶体振荡器的性能进行检测时，可对晶体振荡器的波形及电压进行检测，同时可对晶体振荡器的实际使用性能进行检测，提高晶体振荡器的检测准确性。确性。确性。
【技术实现步骤摘要】
一种晶体振荡器用性能检测仪
[0001]本专利技术涉及晶振
，具体是一种晶体振荡器用性能检测仪。
技术介绍
[0002]有一些电子设备需要频率高度稳定的交流信号，而LC振荡器稳定性较差，频率容易漂移(即产生的交流信号频率容易变化)。在振荡器中采用一个特殊的元件——石英晶体，可以产生高度稳定的信号，这种采用石英晶体的振荡器称为晶体振荡器。
[0003]随着电子产品使用量的不断提升，对晶体振荡器的需求量也越来越大，为保证晶体振荡器的使用效果，在其投入生产过程中，需对其性能进行检测。在现有的技术中，多数晶体振荡器的检测均简单的使用电压表测量其电压是否稳定，评判条件单一，无法很好的检测晶体振荡器的使用性能。因此，本领域技术人员提供了一种晶体振荡器用性能检测仪，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
技术实现思路
[0004]本专利技术的目的在于提供一种晶体振荡器用性能检测仪，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种晶体振荡器用性能检测仪，包括工作台，其特征在于：所述工作台的底部均匀固定连接有多个支撑柱，所述工作台顶部的一侧设有检测台，所述检测台顶部的一端固定安装有示波器，所述检测台远离示波器一侧的顶部固定安装有电压表，所述检测台远离示波器一端的顶部固定连接有第一固定板，所述检测台位于示波器和第一固定板之间的顶部固定连接有第二固定板，所述第一固定板和第二固定板之间的侧壁设有活动板，所述检测台相互远离两端的侧壁均匀开设有多个第一贯穿孔，多个所述第一贯穿孔的内壁分别贯穿活动连接有第一检测头和第二检测头，多个所述第一检测头贯穿过第一贯穿孔的一端均与示波器的输入端电性连接，多个所述第二检测头贯穿过第一贯穿孔的一端均与电压表的输入端电性连接。
[0006]作为本专利技术进一步的方案：所述检测台相互远离两侧的底部均固定连接有连接块，两个所述连接块的顶部均匀贯穿连接有多个连接螺栓，多个所述连接螺栓贯穿过连接块的一端均与位置相匹配工作台的顶部啮合连接，通过连接块配合连接螺栓对检测台和工作台进行连接限位。
[0007]作为本专利技术再进一步的方案：所述第一固定板靠近活动板一侧的侧壁固定连接有第一缓冲板，所述活动板靠近第一固定板的一端侧壁固定连接有第二缓冲板，通过第一缓冲板和第二缓冲板对待检测的晶体振荡器提供防护。
[0008]作为本专利技术再进一步的方案：所述第二固定板远离活动板一侧的侧壁均匀贯穿开设有多个第二贯穿孔，多个所述第二贯穿孔的内壁均活动连接有固定杆，多个所述固定杆贯穿过第二贯穿孔的一端均与位置相匹配的活动板固定连接，多个所述固定杆远离第二固定板的一端侧壁共同固定连接有连接杆，多个所述固定杆位于活动板和第二固定板之间的
外壁均套设连接有弹簧，通过拉动连接杆带动固定杆运动，进而带动活动板做远离第一固定板的动作，松开连接杆后，通过弹簧自动复位，带动活动板做靠近第一固定板的动作。
[0009]作为本专利技术再进一步的方案：所述工作台相互远离两侧的侧壁均匀固定连接有多个凸块，多个所述凸块的顶部均贯穿开设有贯穿槽，通过凸块和贯穿槽配合使用，方便在工作台的两侧添加储物盒。
[0010]作为本专利技术再进一步的方案：所述工作台相互远离两侧的侧壁均设有储物盒，两个所述储物盒分别与凸块位置相匹配的侧壁均固定连接有卡块，多个所述卡块分别与位置相匹配的贯穿槽卡合连接，两个所述储物盒的顶部均开设有储物槽，通过卡块和贯穿槽配合使用，对储物盒和工作台进行连接限位，通过储物盒和储物槽配合使用，方便放置检测工具。
[0011]作为本专利技术再进一步的方案：所述工作台远离检测台一侧的顶部固定连接有验证台，所述验证台一端的顶部贯穿开设有顶槽，所述顶槽的内壁活动连接有升降板，所述升降板的一端侧壁固定连接有显示屏，所述升降板相互远离两侧的侧壁均活动连接有限位块，通过验证台对晶体振荡器进行验证式性能检测。
[0012]作为本专利技术再进一步的方案：所述验证台远离升降板一侧的顶部固定连接有第一控制按钮，所述验证台位于第一控制按钮和升降板之间的顶部均匀固定连接有多个第二控制按钮，所述验证台顶部远离第二控制按钮的一侧开设有插入孔，所述验证台的内壁固定连接有显示屏电路，通过插入孔将待检测的晶体振荡器与显示屏电路进行连接，对晶体振荡器进行验证检测。
[0013]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：
[0014]1、本专利技术中，通过工作台提供检测作业平台，通过检测台对晶体振荡器进行检测操作，通过活动板和第一固定板配合使用，对晶体振荡器进行夹紧限位，此时第一缓冲板和第二缓冲板对晶体振荡器提供防护，然后通过第一检测头和第二检测头分别配合电压表和示波器使用，对晶体振荡器的波形和电压进行检测，若晶体振荡器的波形和电压检测合格，即可进行下一步性能检测作业。
[0015]2、本专利技术中，通过插入孔将待检测的晶体振荡器插入，通过第一控制按钮控制显示屏电路开启，通过第二控制按钮完成对显示屏的调节作业，若显示屏可正常点亮操作，即说明晶体振荡器可正常使用。
[0016]3、本专利技术中，通过两个储物盒和储物槽可放置一些检测辅助工具，提高实际使用效果。
[0017]本专利技术使用简单，在对晶体振荡器的性能进行检测时，可对晶体振荡器的波形及电压进行检测，同时可对晶体振荡器的实际使用性能进行检测，提高晶体振荡器的检测准确性。
附图说明
[0018]图1为本专利技术的主视结构示意图；
[0019]图2为本专利技术中升降板收起的结构示意图；
[0020]图3为本专利技术中凸块的结构示意图；
[0021]图4为本专利技术中储物盒的结构示意图；
[0022]图5为本专利技术中活动块的放大结构示意图。
[0023]图中：1、工作台；2、支撑柱；3、检测台；4、连接块；5、连接螺栓；6、第一固定板；7、活动板；8、第二固定板；9、示波器；10、电压表；11、第一检测头；12、第一贯穿孔；13、第二检测头；14、验证台；15、第一控制按钮；16、插入孔；17、第二控制按钮；18、顶槽；19、升降板；20、显示屏；21、限位块；22、凸块；23、储物盒；24、储物槽；25、贯穿槽；26、卡块；27、第一缓冲板；28、第二缓冲板；29、第二贯穿孔；30、固定杆；31、连接杆。
具体实施方式
[0024]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0025]请参阅图1～5，本专利技术实施例中，一种晶体振荡器用性能检测仪，包括工作台1，其特征在于：工作台1的底部均匀固定连接有多个支撑柱2，工作台1顶部的一侧设有检测台3，检测台3顶部的一端固定安装有示波器9，检测台3远离示波器9一侧的顶部固定安装有电压表10，检测台3远离示波器9一端的顶部固定连接有第一固定板6本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种晶体振荡器用性能检测仪，包括工作台(1)，其特征在于：所述工作台(1)的底部均匀固定连接有多个支撑柱(2)，所述工作台(1)顶部的一侧设有检测台(3)，所述检测台(3)顶部的一端固定安装有示波器(9)，所述检测台(3)远离示波器(9)一侧的顶部固定安装有电压表(10)，所述检测台(3)远离示波器(9)一端的顶部固定连接有第一固定板(6)，所述检测台(3)位于示波器(9)和第一固定板(6)之间的顶部固定连接有第二固定板(8)，所述第一固定板(6)和第二固定板(8)之间的侧壁设有活动板(7)，所述检测台(3)相互远离两端的侧壁均匀开设有多个第一贯穿孔(12)，多个所述第一贯穿孔(12)的内壁分别贯穿活动连接有第一检测头(11)和第二检测头(13)，多个所述第一检测头(11)贯穿过第一贯穿孔(12)的一端均与示波器(9)的输入端电性连接，多个所述第二检测头(13)贯穿过第一贯穿孔(12)的一端均与电压表(10)的输入端电性连接。2.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器用性能检测仪，其特征在于：所述检测台(3)相互远离两侧的底部均固定连接有连接块(4)，两个所述连接块(4)的顶部均匀贯穿连接有多个连接螺栓(5)，多个所述连接螺栓(5)贯穿过连接块(4)的一端均与位置相匹配工作台(1)的顶部啮合连接。3.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器用性能检测仪，其特征在于：所述第一固定板(6)靠近活动板(7)一侧的侧壁固定连接有第一缓冲板(27)，所述活动板(7)靠近第一固定板(6)的一端侧壁固定连接有第二缓冲板(28)。4.根据权利要求1所述的一种晶体振荡器用性能检测仪，其特征在于：所述第二固定板(8)远离活动板(7)一侧的侧壁均匀贯穿开设有多个第二贯穿孔(29)，多个所述第二贯穿孔(29)的内壁均活动...
【专利技术属性】
技术研发人员：李瑶，李秀琴，
申请(专利权)人：深圳市福浪电子有限公司，
类型：发明
国别省市：
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