一种电子装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种电子装置，包括多个外围元件、闪存及测试模式电路。闪存提供多个测试参考数据。测试模式电路反应于测试进入信号将基于测试参考数据的多个测试数据分别提供至外围元件，以进行外围元件的测试。本发明专利技术实施例的电子装置中，将通过闪存提供的数据作为测试模式电路进行测试所参考的测试参考数据，而不需从电子装置输入测试相关数据，因此在进入测试模式时可省略输入接脚而把大部分的或全部的接脚用于输出数据或测试结果。藉此，可以提高电子装置进行测试的能力，且可以缩短测试的时间及成本。时间及成本。时间及成本。

【技术实现步骤摘要】
一种电子装置


[0001]本专利技术是涉及一种电子装置，特别涉及一种进入测试模式的电子装置。

技术介绍

[0002]在过去，电子装置的测试模式是由输入输出接口，例如通用型的输入输出(GPIO)，输入特定的数据且判断所输入的数据是否为进入密钥(Entry Key)来判断是否进入测试模式。然而，为了避免客户使用输入输出接口时误入测试模式进而影响芯片的行为，进入密钥会被设计成复杂度高、位数多且不容易随机进入的形式。但是，这样的操作模式同时提升了测试人员进入测试模式的困难度。此外，操作人员进入测试模式后必须将重置接脚的电压状态维持在重置状态下，才能使处理器，例如中央处理单元(CPU)，不参与运作，进而能够在测试模式下进行测试。因此，如何使测试模式可以更简易的进入且不会被使用者误入则成为设计电子装置的一个重点。

技术实现思路

[0003]本专利技术提供一种电子装置，可以提高电子装置进行测试的能力，且可以缩短测试的时间及成本。
[0004]本专利技术的电子装置，包括多个外围元件、闪存及测试模式电路。闪存提供多个测试参考数据。测试模式电路反应于测试进入信号将基于测试参考数据的多个测试数据分别提供至外围元件，以进行外围元件的测试。
[0005]基于上述，本专利技术实施例的电子装置中，将通过闪存提供的数据作为测试模式电路进行测试所参考的测试参考数据，而不需从电子装置输入测试相关数据，因此在进入测试模式时可省略输入接脚而把大部分的或全部的接脚用于输出数据或测试结果。藉此，可以提高电子装置进行测试的能力，且可以缩短测试的时间及成本。
附图说明
[0006]为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
[0007]图1为依据本专利技术一实施例的电子装置的系统示意图；
[0008]图2为依据本专利技术另一实施例的电子装置的系统示意图。
[0009]附图标号说明
[0010]100、200：电子装置
[0011]110：电源电路
[0012]120：闪存
[0013]130：处理器
[0014]140、220：测试模式电路
[0015]150、160：外围元件
[0016]210：栓锁电路
[0017]230：多任务器
[0018]Clk_I：内部频率信号
[0019]D_PAT3：第三部分数据
[0020]D_Test1、D_Test2：测试数据
[0021]Data：数据
[0022]DPc、DP1、DP2、DPT：初始化参数
[0023]DTS：测试参考数据
[0024]HRESETn：重置信号
[0025]Mtest：测试储存区域
[0026]Pon：电源启动信号
[0027]S_Ext：外部信号
[0028]S_LAT：栓锁信号
[0029]S_Test：测试进入信号
[0030]Vdd：系统电压
具体实施方式
[0031]下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0032]图1为依据本专利技术一实施例的电子装置的系统示意图。请参照图1，在本实施例中，电子装置100包括电源电路110、闪存120、处理器130、测试模式电路140及外围元件150、160，其中外围元件150、160至少包括压控振荡器、稳压器及参考电压电路。闪存120耦接至电源电路110、处理器130、测试模式电路140及外围元件150、160，电源电路110耦接至处理器130，并且测试模式电路140耦接外围元件150、160。
[0033]在本实施例中，电子装置100反应于电源启动信号Pon而启动，其中电源启动信号Pon可以由电子装置100的输入接口(例如按键、触控键、开关等)产生。进一步来说，电源电路110反应于电源启动信号Pon至少会提供系统电压Vdd至闪存120，并且闪存120反应于接收系统电压Vdd启动初始化程序。
[0034]在初始化期间中，电源电路110会控制处理器130的重置接脚处于重置状态，例如电源电路110可提供为逻辑低准位或逻辑准位“0”的重置信号HRESETn至处理器130的重置接脚。
[0035]在初始化程序中，闪存120依序提供多个初始化参数DPc、DP1、DP2、DPT至处理器130、外围元件150、160及测试模式电路140，以依序设定处理器130、外围元件150、160及测试模式电路140的操作模式及操作状态。
[0036]在初始化程序后，也就是初始化完成后，电子装置100反应于是否接收到(或产生)
测试进入信号S_Test而决定是操作于测试模式或用户模式，其中测试进入信号S_Test可以通过输入接口(例如接脚)自电子装置100的外部输入或者由电子装置100自行产生。
[0037]并且，在初始化程序后，闪存120可以依序提供多个数据Data至处理器130及测试模式电路140。当电子装置100接收到(或产生)测试进入信号S_Test时，测试模式电路140反应于测试进入信号S_Test而被启用，并且电源电路110会反应于测试进入信号S_Test使处理器130的重置接脚维持于重置状态，也就是重置信号HRESETn维持于逻辑低准位或逻辑准位“0”，使得处理器130保持于不能运作的状态。
[0038]此时，闪存120的数据会作为测试参考数据DTS提供至处理器130及测试模式电路140，但处理器130不会反应于测试参考数据DTS，而测试模式电路140会反应于测试进入信号S_Test将基于测试参考数据DTS的多个测试数据D_Test1、D_Test2(例如模拟电路的输入控制信号)分别提供至外围元件150、160，以进行外围元件150、160的测试。
[0039]当电子装置100未接收到(或未产生)测试进入信号S_Test时，测试模式电路140反应于未接收到测试进入信号S_Test而被禁用，并且电源电路110会反应于未接收到测试进入信号S_Test使处理器130的重置接脚从重置状态中释放，也就是重置信号HRESETn会从逻辑低准位或逻辑准位“0”改变到逻辑高准位或逻辑准位“1”，使得处理器130进入可以运作的状态。
[0040]接着，电子装置100会回到开机流程，以恢复所有元件(例如处理器130、外围元件150、160)的电力供应。在完成开机流程后，会进入用户模式，此时处理器130可以自闪存120存取数据Data，以执行由使用者写入闪存120的应用程序。...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种电子装置，其特征在于，包括：多个外围元件；闪存，提供多个测试参考数据；以及测试模式电路，独立于处理器，反应于一测试进入信号，将基于所述多个测试参考数据的多个测试数据分别提供至所述多个外围元件，以对所述多个外围元件进行测试。2.根据权利要求1所述的电子装置，其特征在于，还包括电源电路，其中，所述处理器，具有重置接脚；以及所述电源电路，反应于所述测试进入信号使所述重置接脚维持于一重置状态。3.根据权利要求2所述的电子装置，其特征在于，所述电源电路反应于一电源启动信号提供一系统电压至所述闪存，并且所述闪存反应于接收所述系统电压启动一初始化程序，在所述初始化程序中所述闪存依序提供多个初始化参数至所述处理器、所述多个外围元件及所述测试模式电路。4.根据权利要求3所述的电子装置，其特征在于，所述闪存于所述初始化程序后提供所述多个测试参考数据。5.根据权利要求3所述的电子装置，其特征在于，各所述多个测试数据为对应的测试参考数据的第一部分数据。6.根据权利要求5所述的电子装置，其特征...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘则言，张佑任，
申请(专利权)人：新唐科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：