一种晶振测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了晶振领域的一种晶振测试装置，包括测试盒，测试盒的左右两侧内壁上分别安装有一个定位夹紧装置，测试盒内安装有晶振本体，晶振本体上安装有两个导电杆，晶振本体位于两个定位夹紧装置之间，定位夹紧装置包括：夹紧块、压缩弹簧、永磁铁和电磁铁，夹紧块通过多个压缩弹簧与测试盒的内壁弹性连接，夹紧块的侧面安装有永磁铁，测试盒的内壁上安装有与永磁铁相配合的电磁铁，测试盒的顶部左右两端对称安装有一个翻转机构，两个翻转机构分别与测试盒转动连接，测试盒的左右两侧内壁上均安装有一个限位器，每个翻转机构上均安装有一个导电装置。本发明专利技术测试方便，安全性高。安全性高。安全性高。

A crystal oscillator testing device

【技术实现步骤摘要】
一种晶振测试装置


[0001]本专利技术涉及晶振领域，具体是一种晶振测试装置。

技术介绍

[0002]晶振是电子电路中最常用的电子元件之一。晶振具有压电效应，即在晶片两极外加电压后晶体会产生变形，反过来如外力使晶片变形，则两极上金属片又会产生电压。如果给晶片加上适当的交变电压，晶片就会产生谐振(谐振频率与石英斜面倾角等有关系，且频率一定)。晶振利用一种能把电能和机械能相互转化的晶体，在共振的状态下工作可以提供稳定、精确的单频振荡。在通常工作条件下，普通的晶振频率绝对精度可达百万分之五十。
[0003]在生产晶振时需要将其通交流电，测试其振荡特性是否合格，在测试多个晶振时需要频繁的拆卸导线，导致工作效率降低，且在接线和拆线时容易发生漏电，有安全风险，因此，针对以上现状，迫切需要开发一种测试方便，安全性高的晶振测试装置，以克服当前实际应用中的不足，满足当前的需求。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的在于提供一种晶振测试装置，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。
[0005]为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：
[0006]一种晶振测试装置，包括测试盒，所述测试盒的左右两侧内壁上分别安装有一个定位夹紧装置，所述测试盒内安装有晶振本体，所述晶振本体上安装有两个导电杆，所述晶振本体位于两个定位夹紧装置之间，所述定位夹紧装置包括：夹紧块、压缩弹簧、永磁铁和电磁铁，所述夹紧块通过多个压缩弹簧与测试盒的内壁弹性连接，所述夹紧块的侧面安装有永磁铁，所述测试盒的内壁上安装有与永磁铁相配合的电磁铁，所述测试盒的顶部左右两端对称安装有一个翻转机构，两个所述翻转机构分别与测试盒转动连接，所述测试盒的左右两侧内壁上均安装有一个限位器，每个所述翻转机构上均安装有一个导电装置。
[0007]作为本专利技术进一步的方案：两个所述定位夹紧装置关于测试盒的中轴线对称设置。
[0008]作为本专利技术进一步的方案：所述电磁铁和永磁铁的同性磁极相对设置。
[0009]作为本专利技术进一步的方案：所述翻转机构包括：轴套、转动轴和翻转板，所述轴套的数量为两个，两个所述轴套之间转动连接有转动轴，所述转动轴与翻转板相连。
[0010]作为本专利技术进一步的方案：所述限位器包括：L型支架和限位球，所述L型支架与测试盒的内壁相连，所述L型支架的顶部安装有限位球。
[0011]作为本专利技术进一步的方案：所述导电装置包括：螺纹套、螺纹杆、滚珠、轴承、转动把手、卡环、铜杆、绝缘外套和接触片，所述螺纹套通过轴承与翻转板转动连接，所述螺纹套内安装有延伸至其外部的螺纹杆，所述螺纹杆通过多个滚珠与螺纹套相连，所述螺纹套的外部安装有多个转动把手，所述螺纹杆的底部与卡环相连，所述螺纹套的右侧安装有铜杆，所述铜杆的外部安装有绝缘外套，所述铜杆贯穿翻转板，所述卡环与绝缘外套相连，所述铜
杆的底部安装有接触片，所述铜杆的顶部安装有电线。
[0012]作为本专利技术进一步的方案：所述接触片呈圆弧形。
[0013]作为本专利技术进一步的方案：所述测试盒采用绝缘材料制成。
[0014]与现有技术相比，本专利技术的有益效果是：该晶振测试装置，使用时，先把晶振本体放置到测试盒内，再把电磁铁通电，通过电磁铁和永磁铁的之间的排斥力带动永磁铁移动，通过永磁铁移动带动夹紧块将晶振本体夹紧，有利于对晶振本体进行固定；待晶振本体的位置固定好之后，通过转动把手带动螺纹套转动，通过螺纹套转动带动螺纹杆移动，通过螺纹杆移动带动卡环移动，通过卡环移动带动铜杆移动，通过铜杆移动带动接触片移动，使得接触片与导电杆相贴合，再打开交流电源，使得晶振本体通电，进而对晶振本体进行测试，减少接线的步骤，使得测试更加方便，且安全性更高。综上所述，本专利技术测试方便，安全性高。
附图说明
[0015]图1为本专利技术的结构示意图。
[0016]图2为本专利技术的内部结构示意图。
[0017]图3为本专利技术结构示意图中A处的局部放大图。
[0018]图4为本专利技术的翻转状态示意图。
[0019]图5为本专利技术中定位夹紧装置的打开状态示意图。
[0020]图中：1
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测试盒，2
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晶振本体，201
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导电杆，3
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翻转机构，301
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轴套，302
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转动轴，303
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翻转板，4
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导电装置，401
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螺纹套，402
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螺纹杆，403
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滚珠，404
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轴承，405
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转动把手，406
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卡环，407
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铜杆，408
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绝缘外套，409
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接触片，5
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限位器，501
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L型支架，502
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限位球，6
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电线，7
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定位夹紧装置，701
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夹紧块，702
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压缩弹簧，703
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永磁铁，704
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电磁铁。
具体实施方式
[0021]为使本专利技术实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。
[0022]在本专利技术实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“第一”“第二”“第三”是为了清楚说明产品部件进行的编号，不代表任何实质性区别。“上”“下”“左”“右”的方向均以附图所示方向为准。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本专利技术实施例中的具体含义。
[0023]需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“连接”应做广义理解，例如，可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在专利技术实施例中的具体含义。
[0024]实施例1
[0025]请参阅图1～5，本专利技术实施例中，一种晶振测试装置，包括测试盒1，所述测试盒1的左右两侧内壁上分别安装有一个定位夹紧装置7，两个所述定位夹紧装置7关于测试盒1的中轴线对称设置，所述测试盒1内安装有晶振本体2，所述晶振本体2上安装有两个导电杆
201，所述晶振本体2位于两个定位夹紧装置7之间，所述定位夹紧装置7包括：夹紧块701、压缩弹簧702、永磁铁703和电磁铁704，所述夹紧块701通过多个压缩弹簧702与测试盒1的内壁弹性连接，所述夹紧块701的侧面安装有永磁铁703，所述测试盒1的内壁上安装有与永磁铁703相配合的电磁铁704，所述电磁铁704和永磁铁703的同性磁极相对设置，当电本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种晶振测试装置，包括测试盒(1)，其特征在于，所述测试盒(1)的左右两侧内壁上分别安装有一个定位夹紧装置(7)，所述测试盒(1)内安装有晶振本体(2)，所述晶振本体(2)上安装有两个导电杆(201)，所述晶振本体(2)位于两个定位夹紧装置(7)之间，所述定位夹紧装置(7)包括：夹紧块(701)、压缩弹簧(702)、永磁铁(703)和电磁铁(704)，所述夹紧块(701)通过多个压缩弹簧(702)与测试盒(1)的内壁弹性连接，所述夹紧块(701)的侧面安装有永磁铁(703)，所述测试盒(1)的内壁上安装有与永磁铁(703)相配合的电磁铁(704)，所述测试盒(1)的顶部左右两端对称安装有一个翻转机构(3)，两个所述翻转机构(3)分别与测试盒(1)转动连接，所述测试盒(1)的左右两侧内壁上均安装有一个限位器(5)，每个所述翻转机构(3)上均安装有一个导电装置(4)。2.根据权利要求1所述的晶振测试装置，其特征在于，两个所述定位夹紧装置(7)关于测试盒(1)的中轴线对称设置。3.根据权利要求1所述的晶振测试装置，其特征在于，所述电磁铁(704)和永磁铁(703)的同性磁极相对设置。4.根据权利要求1所述的晶振测试装置，其特征在于，所述翻转机构(3)包括：轴套(301)、转动轴(302)和翻转板(303)，所述轴套(301)的数量为两个，两个所述轴套(301)之间转动连接有转动轴(302)，所述转动轴(...

【专利技术属性】
技术研发人员：李瑶，李秀琴，
申请(专利权)人：深圳市福浪电子有限公司，
类型：发明
国别省市：