本实用新型专利技术公开了一种LED芯片的测试装置，包括积分球和用于固定LED芯片的测试载台，所述积分球的下方设有围绕LED芯片并接收LED芯片发出的光的收光口。本实用新型专利技术提供的LED芯片的测试装置在测试过程中，能够利用积分球下方的收光口围绕LED芯片，使得LED芯片顶面和各个侧面发出的光均能够被收光口采集到，因此，本方案能够提高积分球的收光率，减小测试偏差，提高测试准确性。
【技术实现步骤摘要】
一种LED芯片的测试装置
本技术涉及LED芯片测试
，尤其涉及一种LED芯片的测试装置。
技术介绍
目前，LED芯片的光学测试装置一般包括测试载台、探针座、探针、寻边器、积分球、探测器、光谱仪等，其中，测试载台用于放置待测的LED芯片；寻边器用于搭载探针并配合探针座调整探针位置和扎针深度；积分球是一个内壁涂有白色漫反射材料的空腔球体，又称光度球、光通球等，积分球的下部为设有开口的收光口结构，通常设计为筒状结构，用于对LED芯片发出的光进行收集；探测器用于测试LED芯片的亮度参数；光谱仪用于将光信号转换成电信号，并对不同波段的光进行分析。现有的LED芯片测试方法为：将探针和LED芯片布置在积分球收光口下方，测试过程中LED芯片发光时，照射到积分球收光口内的光信号会被积分球收集，通过计算得出LED芯片的光参数。其具体测试过程为：将LED芯片置于测试载台上，操作测试载台使LED芯片移动至待测位置，通过寻边器和探针座调整探针位置及针压，然后进行测试。现有的测试装置中，积分球的收光率较低，LED芯片侧面发出的光无法被积分球采集，因此，使得积分球采集到的光信号与LED芯片实际发出的光信号存在较大差异，进而导致测试结果与LED芯片的实际光参数存在较大偏差。因此，如何提高LED芯片的测试准确性，是本领域技术人员目前需要解决的技术问题。
技术实现思路
有鉴于此，本技术的目的是提供一种LED芯片的测试装置，用于提高积分球的收光率，减小测试偏差，提高测试准确性。为了达到上述目的，本技术提供了如下技术方案：一种LED芯片的测试装置，包括积分球和用于固定LED芯片的测试载台，所述积分球的下方设有围绕所述LED芯片并接收所述LED芯片发出的光的收光口。优选地，上述LED芯片的测试装置还包括探针，所述收光口的侧壁开设有供所述探针穿过的探针槽口。优选地，所述探针槽口的下端开口于所述收光口的下端面。优选地，所述探针槽口为直缝开口，所述探针槽口的延伸方向与所述收光口的高度方向平行或存在锐角夹角。优选地，所述探针槽口的长度大于所述探针与所述LED芯片的下端面之间的垂直距离。优选地，所述探针槽口的长度小于等于所述收光口的高度。优选地，所述收光口的高度为18～22mm。优选地，所述探针槽口的长度为14～16mm。优选地，所述探针槽口的宽度大于等于所述探针的外径。优选地，所述探针槽口的宽度为所述探针的外径的1.6～2倍。优选地，所述探针槽口的宽度为0.8～1mm。优选地，所述测试载台设有与所述LED芯片的底部配合固定的固定凹槽。优选地，上述LED芯片的测试装置还包括用于移动所述测试载台的载台移动装置。优选地，所述载台移动装置包括升降所述测试载台的升降装置和水平移动所述测试载台的水平移动装置。优选地，上述LED芯片的测试装置还包括连接于所述积分球的探测器和通过光纤连接于所述积分球的光谱仪。优选地，上述LED芯片的测试装置还包括探针座和设置于所述探针座上的寻边器，所述寻边器上安装有探针。优选地，上述LED芯片的测试装置还包括槽口开闭机构，所述槽口开闭机构包括活动连接于所述探针槽口的遮挡条，所述遮挡条朝向所述收光口内侧的一侧表面与所述收光口的内侧表面为相同材质的表面。优选地，所述遮挡条沿长度方向滑动配合于所述探针槽口，所述遮挡条朝向所述收光口内侧的一侧表面与所述收光口的内侧表面相切布置。本技术提供的LED芯片的测试装置，包括积分球和用于固定LED芯片的测试载台，所述积分球的下方设有围绕所述LED芯片并接收所述LED芯片发出的光的收光口。本技术提供的LED芯片的测试装置在测试过程中，能够利用积分球下方的收光口围绕LED芯片，使得LED芯片顶面和各个侧面发出的光均能够被收光口采集到，因此，本方案能够提高积分球的收光率，减小测试偏差，提高测试准确性。附图说明为了更清楚地说明本技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为本技术具体实施例中的LED芯片的测试装置的结构示意图；图2为本技术具体实施例中的积分球的收光口与LED芯片以及探针的位置关系示意图；图3为本技术具体实施例中的积分球的收光口的侧视图。图1至图3中的各项附图标记的含义如下：1-LED芯片、2-测试载台、3-收光口、4-光线、5-积分球、6-光纤、7-探测器、8-寻边器、9-探针座、10-探针、11-载台移动装置、12-探针槽口。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。请参照图1至图3，图1为本技术具体实施例中的LED芯片的测试装置的结构示意图；图2为本技术具体实施例中的积分球的收光口与LED芯片以及探针的位置关系示意图；图3为本技术具体实施例中的积分球的收光口的侧视图。本技术提供了一种LED芯片的测试装置，包括积分球5和用于固定LED芯片1的测试载台2，积分球5的下方设有围绕LED芯片1并接收LED芯片1发出的光的收光口3。需要说明的是，与现有的测试装置类似，本方案提供的LED芯片的测试装置还包括连接于积分球5的探测器7和通过光纤6连接于积分球5的光谱仪，探测器7用于测试LED芯片1的亮度参数；光谱仪用于将信号转换成电信号，并对不同波段的光进行分析。该测试装置还可以包括探针10、探针座9和设置于探针座9上的寻边器8，探针10安装在寻边器8上。寻边器8用于搭载探针10并配合探针座9调整探针10的位置和扎针深度。探针座9中包含三组定位螺丝，可分别调整探针10的前后、左右、上下方向的位置。其中，探针10与LED芯片1的一端电极接触，LED芯片1的另一端的电极与测试载台2直接接触，测试载台2与测试装置的负极同电位，从而可以实现LED芯片的测试。本技术提供的LED芯片的测试装置在测试过程中，能够利用积分球5下方的收光口3围绕LED芯片1，使得LED芯片1的顶面和各个侧面发出的光均能够被收光口3采集到，因此，本方案能够提高积分球5的收光率，减小测试偏差，提高测试准确性。需要说明的是，本方案可以通过多种实现方式将收光口3围绕LED芯片1布置，例如，通过采用弯折的探针10连接LED芯片1，可以使LED芯片1在测试过程中位于收光口3的内侧；或者采用直的探针10，并在收光口3的侧壁开设槽口供探针10上升，从而使LED芯片1在本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种LED芯片的测试装置，其特征在于，包括积分球和用于固定LED芯片的测试载台，所述积分球的下方设有围绕所述LED芯片并接收所述LED芯片发出的光的收光口。/n
【技术特征摘要】
1.一种LED芯片的测试装置，其特征在于，包括积分球和用于固定LED芯片的测试载台，所述积分球的下方设有围绕所述LED芯片并接收所述LED芯片发出的光的收光口。
2.根据权利要求1所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，还包括探针，所述收光口的侧壁开设有供所述探针穿过的探针槽口。
3.根据权利要求2所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述探针槽口的下端开口于所述收光口的下端面。
4.根据权利要求2所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述探针槽口为直缝开口，所述探针槽口的延伸方向与所述收光口的高度方向平行或存在锐角夹角。
5.根据权利要求2所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述探针槽口的长度大于所述探针与所述LED芯片的下端面之间的垂直距离。
6.根据权利要求2或5所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述探针槽口的长度小于等于所述收光口的高度。
7.根据权利要求1所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述收光口的高度为18～22mm。
8.根据权利要求2所述的LED芯片的测试装置，其特征在于，所述探针槽口的长度为14～16mm。...
【专利技术属性】
技术研发人员：李龙，张帅，
申请(专利权)人：厦门士兰明镓化合物半导体有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35
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