本发明专利技术公开一种具有调节位置功能的电阻测试治具，包括底座，底座包括底板、设于底板上的电阻测试组件、设于电阻测试组件一侧的定位组件和设于定位组件上的压紧组件，电阻测试组件包括设于底板上的被测电阻件、若干与被测电阻件电连接的测试针和与测试针电连接的电阻测试仪，底板上设有若干定位柱，定位柱与所述测试针对应设置且定位柱与测试针滑动连接。本发明专利技术提出的一种具有调节位置功能的电阻测试治具，是通过设置电阻测试组件、定位组件和压紧组件，电阻测试组件还上设有可调节位置的调节点，由于被测电阻件上设有多个可调节的测试点，多个测试方案，在试验过程中可以得到准确的测试数据，多个测试方案切换可以节省更多的时间。
【技术实现步骤摘要】
具有调节位置功能的电阻测试治具
本专利技术涉及电阻测试治具领域，特别涉及一种具有调节位置功能的电阻测试治具。
技术介绍
目前电阻测试都是使用测试镊子进行测试，对于测试点的下针准确性存在有较大的难度，使得测试数据不够精确，测试多个测试点时，需要花费时间比较长，而且效率也非常低。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提出一种具有调节位置功能的电阻测试治具，旨在解决人工调节测试镊子位置导致测试数据不精确以及在电阻测试过程中测试效率低的问题。为实现上述目的，本专利技术提出一种具有调节位置功能的电阻测试治具，该具有调节位置功能的电阻测试治具包括底座，所述底座包括设于所述底座上的底板、设于所述底板上的电阻测试组件、设于所述电阻测试组件一侧的定位组件和设于所述定位组件上的压紧组件，所述电阻测试组件包括设于所述底板上的被测电阻件、若干与所述被测电阻件电连接的测试针和与所述测试针电连接的电阻测试仪，所述底板上设有若干定位柱，所述定位柱与所述测试针对应设置且所述定位柱与所述测试针滑动连接。优选地，所述定位组件为定位块，所述定位块嵌入式设置在所述被测电阻件上且用于固定所述被测电阻件。优选地，所述压紧组件为压板且用于固定所述被测电阻件沿水平方向的移动。优选地，所述被测电阻件上设有若干电阻测试点，所述电阻测试点与所述测试针电连接。优选地，所述电阻测试点设为四个。优选地，所述测试针设为四个，所述定位柱设为四个。优选地，所述定位柱上均设有夹紧组件，所述夹紧组件与所述测试针抵接。本专利技术技术方案的有益效果在于：本专利技术提出的一种具有调节位置功能的电阻测试治具，是通过设置电阻测试组件、定位组件和压紧组件，其中电阻测试组件包括被测电阻件、测试针和电阻测试仪，测试针还上设有可调节位置的调节点，由于被测电阻件上设有多个可调节的测试点，多个测试方案，在试验过程中可以得到准确的测试数据，多个测试方案切换可以节省更多的时间。附图说明图1为本专利技术所提出的具有调节位置功能的电阻测试治具的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的方案进行清楚完整的描述，显然，所描述的实施例仅是本专利技术中的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。本专利技术提出一种具有调节位置功能的电阻测试治具，参考图1，该具有调节位置功能的电阻测试治具，包括底座1，底座1包括设于底座1上的底板11、设于底板11上的电阻测试组件12、设于电阻测试组件12一侧的定位组件13和设于定位组件13上的压紧组件14，电阻测试组件12包括设于底板11上的被测电阻件121、若干与被测电阻件121电连接的测试针122和与测试针122电连接的电阻测试仪123，底板11上设有若干定位柱15，定位柱15与测试针122对应设置且定位柱15与测试针122滑动连接。本专利技术提出的一种具有调节位置功能的电阻测试治具，是通过设置电阻测试组件12、定位组件13和压紧组件14，其中电阻测试组件12包括被测电阻件121、测试针122和电阻测试仪123，测试针122还上设有可调节位置的调节点，由于被测电阻件121上设有多个可调节的测试点，多个测试方案，在试验过程中可以得到准确的测试数据，多个测试方案切换可以节省更多的时间。其中，该具有调节位置功能的电阻测试治具包括底座1，底座1包括底板11、电阻测试组件12、定位组件13和压紧组件14，底板11设置在底座1上，电阻测试组件12与底板11抵接，定位组件13设置在电阻测试组件12一侧，压紧组件14设置在电阻测试组件12一侧，其中电阻测试组件12包括被测电阻件121、若干测试针122和电阻测试仪123，被测电阻件121设置在底板11上，测试针122与被测电阻件121电连接，电阻测试仪123与测试针122电连接，底板11上还设有定位柱15，定位柱15与测试针122对应设置，并且定位柱15与测试针122滑动连接，定位柱15和测试针122形成多个测试点，测试点的位置可以变动，使得测试精度变得更精准。在一较佳实施例中，参考图1，本专利技术提出的定位组件13为定位块131，定位块131嵌入式设置在被测电阻件121上且用于固定被测电阻件121。本实施例中，具有调节位置功能的电阻测试治具的定位组件13是定位块131，其中定位块131嵌入式设置在被测电阻件121上，并且定位块131的作用在于固定被测电阻件121，限制电阻件沿水平方向的移动，其中定位组件13的类型在此不做限定，具体根据实际工艺需求而定。在一较佳实施例中，参考图1，本专利技术提出的压紧组件14为压板141且用于固定被测电阻件121沿水平方向的移动。本实施例中，压紧组件14选为压板141，并且压板141用于固定被测电阻件121，压板141限制被测电阻件121沿水平方向的移动，其中具体压紧组件14的类型根据实际工艺需求而定，在此不做限定。在一较佳实施例中，参考图1，本专利技术提出的被测电阻件121上设有若干电阻测试点124，电阻测试点124与测试针122电连接。本实施例中，被测电阻件121上设有若干被测电阻测试点124，电阻测试点124与测试针122对应设置，并且电阻测试点124与测试针122电连接。在一较佳实施例中，参考图1，本专利技术提出的电阻测试点124设为四个。本实施例中，电阻测试点124设为四个，具体电阻测试点124的个数根据实际工艺需求而定，在此不做限定。在一较佳实施例中，参考图1，本专利技术提出的测试针122设为四个，定位柱15设为四个。本实施例中，定位柱15设为四个，具体定位柱15的个数根据实际工艺需求而定，在此不做限定。在一较佳实施例中，参考图1，本专利技术提出的定位柱15上均设有夹紧组件151，夹紧组件151与测试针122抵接。本实施例中，定位柱15上均设有夹紧组件151，其中夹紧组件151的作用在于固定测试针122，当找到一个电阻测试点124时，通过固定测试针122从而使得电阻测试点124固定，从而得到一个稳定的数据。以上所述的仅为本专利技术的部分或优选实施例，无论是文字还是附图都不能因此限制本专利技术保护的范围，凡是在与本专利技术一个整体的构思下，利用本专利技术说明书及附图内容所作的等效结构变换，或直接/间接运用在其他相关的
均包括在本专利技术保护的范围内。本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种具有调节位置功能的电阻测试治具，其特征在于，包括底座，所述底座包括设于所述底座上的底板、设于所述底板上的电阻测试组件、设于所述电阻测试组件一侧的定位组件和设于所述定位组件上的压紧组件，所述电阻测试组件包括设于所述底板上的被测电阻件、若干与所述被测电阻件电连接的测试针和与所述测试针电连接的电阻测试仪，所述底板上设有若干定位柱，所述定位柱与所述测试针对应设置且所述定位柱与所述测试针滑动连接。/n
【技术特征摘要】
1.一种具有调节位置功能的电阻测试治具，其特征在于，包括底座，所述底座包括设于所述底座上的底板、设于所述底板上的电阻测试组件、设于所述电阻测试组件一侧的定位组件和设于所述定位组件上的压紧组件，所述电阻测试组件包括设于所述底板上的被测电阻件、若干与所述被测电阻件电连接的测试针和与所述测试针电连接的电阻测试仪，所述底板上设有若干定位柱，所述定位柱与所述测试针对应设置且所述定位柱与所述测试针滑动连接。
2.根据权利要求1所述的具有调节位置功能的电阻测试治具，所述定位组件为定位块，所述定位块嵌入式设置在所述被测电阻件上且用于固定所述被测电阻件。
3.根据权利要求1所述的具有调节位置功能的电...
【专利技术属性】
技术研发人员：胡紫阳，黄明孟，李智德，
申请(专利权)人：深圳市业展电子有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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