一种军用热像观瞄具的检测设备及检测方法技术

一种军用热像观瞄具的检测设备及检测方法，军用热像观瞄具的检测设备，包括：变温发热源，变温发热源受控制地改变其温度；阻挡格栅，设置在变温发热源以及军用热像观瞄具二者之间；格栅控温机构，与阻挡格栅相连，用于改变阻挡格栅的温度。通过上述相互配合的变温发热源、阻挡格栅以及格栅控温机构，可以有效地解决现有技术中用于军用热像观瞄具的检测设备无法有效地检测其各个红外线检测部件的好坏，且无法准确测量军用热像观瞄具其热辐射检测精度的问题。

【技术实现步骤摘要】
一种军用热像观瞄具的检测设备及检测方法
本专利技术涉及检测方法及设备
，具体涉及一种军用热像观瞄具的检测设备及检测方法。
技术介绍
热像观瞄具为将目标热辐射图像转换为可见光图像的瞄准镜。热像观瞄具是被动红外瞄准镜的一种。热像观瞄具可以区分目标与背景之间热辐射的微小差别,昼夜均可发现和瞄准目标,还可透过云雾和某些伪装发现目标。由于军用热像观瞄具由密集布置的多个热成像检测发生机构组成，现有技术中的军用热像观瞄具具有多个密集布置的红外线检测部件，军用热像观瞄具通过上述多个红外线检测部件从而区分目标与背景之间热辐射，进而发现和瞄准目标。但是，现有技术中缺乏用于检测军用热像观瞄具其各个红外线检测部件是否均处于完好状态的检测设备。并且，现有的检测设备也无法测量到军用热像观瞄具是否能准确检测到标与背景之间热辐射的微小差别，导致现有用于军用热像观瞄具的检测设备无法精准检测军用热像观瞄具其热辐射检测精度的问题。
技术实现思路
本专利技术旨在提供一种军用热像观瞄具的检测设备及检测方法，以解决现有技术中用于军用热像观瞄具的检测设备无本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种军用热像观瞄具的检测设备，其特征在于，包括：/n变温发热源(1)，所述变温发热源(1)受控制地改变其温度；/n阻挡格栅(2)，设置在所述变温发热源(1)以及军用热像观瞄具(3)二者之间；/n格栅控温机构(4)，与所述阻挡格栅(2)相连，用于改变所述阻挡格栅(2)的温度。/n

【技术特征摘要】
1.一种军用热像观瞄具的检测设备，其特征在于，包括：
变温发热源(1)，所述变温发热源(1)受控制地改变其温度；
阻挡格栅(2)，设置在所述变温发热源(1)以及军用热像观瞄具(3)二者之间；
格栅控温机构(4)，与所述阻挡格栅(2)相连，用于改变所述阻挡格栅(2)的温度。


2.根据权利要求1所述的军用热像观瞄具的检测设备，其特征在于，所述格栅控温机构(4)包括：第一控制器，以及设置在所述阻挡格栅(2)上的帕尔贴半导体器件；
所述第一控制器根据帕尔贴原理通过所述帕尔贴半导体器件对所述阻挡格栅(2)进行加热；所述格栅控温机构(4)上还设置有用于检测其温度的温度传感器，所述第一控制器与所述温度传感器通讯相连以控制帕尔贴半导体器件所需功率和电流方向。


3.根据权利要求2所述的军用热像观瞄具的检测设备，其特征在于，
所述变温发热源(1)包括：发热源控温机构(5)以及导热体(6)；
所述发热源控温机构(5)包括：第二控制器，以及设置在所述导热体(6)上的帕尔贴半导体器件；
所述第二控制器根据帕尔贴原理通过所述帕尔贴半导体器件对该导热体(6)进行加热；所述导热体(6)上还设置有用于检测其温度的温度传感器，所述第二控制器与所述温度传感器通讯相连以控制帕尔贴半导体器件所需功率和电流方向。


4.根据权利要求3所述的军用热像观瞄具的检测设备，其特征在于，所述导热体(6)和/或所述阻挡格栅(2)为紫铜材质。


5.根据权利要求1至4中任一项所述的军用热像观瞄具的检测设备，其特征在于，
所述阻挡格栅(2)包括：沿水平方向布置的横向隔板(7)和/或沿竖直方向布置的竖向隔板(8)。


6.根据权利要求5所述的军用热像观瞄具的检测设备，其...

【专利技术属性】
技术研发人员：张国光，崔明宝，王文良，
申请(专利权)人：北京天创凯睿科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11