发光二极管检测装置和方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开一种发光二极管检测装置，所述装置包括：采集部件和控制芯片；其中，所述采集部件，用于采集待检测发光二极管发射的光信号，并将所述光信号转换为电信号；所述控制芯片，用于对所述电信号进行检测，以获得所述待检测发光二极管的检测结果。本发明专利技术还公开了一种发光二极管检测方法。本发明专利技术的发光二极管检测装置，达到了提高待检测发光二极管检测效率的技术效果。

【技术实现步骤摘要】
发光二极管检测装置和方法
本专利技术涉及发光二极管
，特别涉及一种发光二极管检测装置和方法。
技术介绍
在显示和照明
，LED(LightEmittingDiode，发光二极管)的应用极为广泛。通常，LED生产完成之后，需要对LED的发光效果进行检测，以获检测结果，并基于LED的检测结果确定LED是否合格。目前，在LED检测
，通过测试员利用人眼观测LED的发光效果，并由测试员基于观测到的发光效果，获得LED的检测结果。但是，利用现有的LED检测方法对LED进行检测时，检测速度较慢，检测效率较低。
技术实现思路
本专利技术的主要目的是提供一种发光二极管检测装置和方法，旨在解决现有技术中利用现有的LED检测方法对LED进行检测时，检测速度较慢，检测效率较低的技术问题。为实现上述目的，本专利技术提出一种发光二极管检测装置，所述装置包括：采集部件和控制芯片；其中，所述采集部件，用于采集待检测发光二极管发射的光信号，并将所述光信号转换为电信号；所述控制芯片，用于对所述电信号进本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种发光二极管检测装置，其特征在于，所述装置包括：采集部件和控制芯片；其中，/n所述采集部件，用于采集待检测发光二极管发射的光信号，并将所述光信号转换为电信号；/n所述控制芯片，用于对所述电信号进行检测，以获得所述待检测发光二极管的检测结果。/n

【技术特征摘要】
1.一种发光二极管检测装置，其特征在于，所述装置包括：采集部件和控制芯片；其中，
所述采集部件，用于采集待检测发光二极管发射的光信号，并将所述光信号转换为电信号；
所述控制芯片，用于对所述电信号进行检测，以获得所述待检测发光二极管的检测结果。


2.如权利要求1所述的装置，其特征在于，所述待检测发光二极管包括多个；
所述采集部件，还用于采集所述多个待检测发光二极管发射的多个光信号，并将所述多个光信号转换为多个电信号；
所述控制芯片，还用于对所述多个电信号分别进行检测，以获得所述多个待检测发光二极管的检测结果。


3.如权利要求2所述的装置，其特征在于，所述装置还包括滤波部件；
所述滤波部件，用于对所述多个电信号进行滤波处理，以获得多个滤波电信号；
所述控制芯片，还用于对所述多个滤波电信号分别进行检测，以获得所述多个待检测发光二极管的检测结果。


4.如权利要求3所述的装置，其特征在于，
所述控制芯片，还用于对所述多个滤波电信号进行滤波处理，以获得多个结果电信号，并对所述多个结果电信号分别进行检测，以获得所述多个待检测发光二极管的检测结果。


5.如权利要求4所述的装置，其特征在于，
所述控制芯片，还用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：薛方，宁荣彬，
申请(专利权)人：深圳市沛城智能控制技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44