芯片测试用例管理方法及装置制造方法及图纸

本申请提供一种芯片测试用例管理方法及装置。其中，所述方法包括：获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集；获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集；通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果；当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取未测试的测试用例；通过PYQT5输出管理端，输出所述未测试的测试用例。这样，能够在大量测试用例的情况下使得工作人员或检测系统能够及时察觉到芯片测试用例的遗漏，从而保证了芯片验证的完整性并提升芯片验证结果的准确性。完整性并提升芯片验证结果的准确性。完整性并提升芯片验证结果的准确性。

【技术实现步骤摘要】
芯片测试用例管理方法及装置


[0001]本申请涉及芯片验证
，尤其涉及一种芯片测试用例管理方法及装置。

技术介绍

[0002]随着芯片技术的发展，芯片具有的架构和功能也日益复杂。因此，需要编写大量的测试用例来验证芯片功能的正确性。在进行芯片测试时，由于芯片测试用例的数量以及类别非常多，极易造成测试用例遗漏的现象并无法掌握芯片测试的实时进度。这样，使得工作人员以及检测系统无法及时察觉到芯片测试用例的遗漏，导致芯片验证的完整性有所欠缺，降低了芯片验证结果的准确性。
[0003]因此，需要提供一种芯片测试用例管理方法及装置。

技术实现思路

[0004]本申请实施例提供一种芯片测试用例管理的技术方案，用以解决芯片测试用例易被遗漏的技术问题。
[0005]具体的，一种芯片测试用例管理方法，包括以下步骤：
[0006]获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集；
[0007]获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集；
[0008]通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果；
[0009]当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取未测试的测试用例；
[0010]通过PYQT5输出管理端，输出所述未测试的测试用例。
[0011]进一步的，所述方法还包括：
[0012]当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，生成警示信息；
[0013]输出所述警示信息。
[0014]进一步的，所述方法还包括：
[0015]根据芯片测试记录集中若干已完成测试的测试用例，更新芯片测试计划集中的若干测试用例；
[0016]输出所述更新后的芯片测试计划集。
[0017]进一步的，获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集，具体包括：
[0018]获取本次完成测试的测试用例；
[0019]调用上一次测试完成时生成的测试用例记录集；
[0020]将所述测试用例添加至上一次测试完成时生成的测试用例记录集。
[0021]进一步的，获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集，具体包括：
[0022]接收测试完成的测试用例的获取周期预设信息；
[0023]根据所述获取周期预设信息，获取本次获取周期内若干完成测试的测试用例；
[0024]调用上一次获取周期获取完成后生成的测试用例记录集；
[0025]将所述若干测试用例添加至上一次获取周期获取完成后生成的测试用例记录集。
[0026]进一步的，通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，查找所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例，具体包括：
[0027]调用Python数据管理端中的比较算法；
[0028]通过所述比较算法比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果。
[0029]本申请实施例还提供一种芯片测试用例管理装置。
[0030]具体的，一种芯片测试用例管理装置，包括：
[0031]获取模块，用于获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集；还用于获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集；
[0032]比较模块，用于通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果；
[0033]提取模块，用于当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取未测试的测试用例；
[0034]输出模块，用于通过PYQT5输出管理端，输出所述未测试的测试用例。
[0035]进一步的，所述装置还包括：
[0036]警示模块，用于当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，生成警示信息；
[0037]其中，输出模块还用于输出所述警示信息。
[0038]进一步的，所述装置还包括：
[0039]更新模块，用于根据芯片测试记录集中若干已完成测试的测试用例，更新芯片测试计划集中的若干测试用例；
[0040]其中，输出模块还用于输出所述更新后的芯片测试计划集。
[0041]进一步的，所述比较模块用于通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果，具体用于：
[0042]调用Python数据管理端中的比较算法；
[0043]通过所述比较算法比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果。
[0044]本申请实施例提供的技术方案，至少具有如下有益效果：
[0045]通过芯片测试用例管理方法及装置对芯片测试用例进行有效管理，将未测试的测试用例进行可视化输出，能够在大量测试用例的情况下使得工作人员或检测系统能够及时察觉到芯片测试用例的遗漏，从而保证了芯片验证的完整性并提升芯片验证结果的准确性。
附图说明
[0046]此处所说明的附图用来提供对本申请的进一步理解，构成本申请的一部分，本申请的示意性实施例及其说明用于解释本申请，并不构成对本申请的不当限定。在附图中：
[0047]图1为本申请实施例提供的一种芯片测试用例管理方法的流程图。
[0048]图2为本申请实施例提供的一种芯片测试用例管理装置的结构示意图。
[0049]100
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芯片测试用例管理装置
[0050]11
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获取模块
[0051]12
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比较模块
[0052]13
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提取模块
[0053]14
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输出模块
具体实施方式
[0054]为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本申请具体实施例及相应的附图对本申请技术方案进行清楚、完整地描述。显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
[0055]请参照图1，为本申请实施例提供的一种芯片测试用例管理方法，包括以下步骤：
[0056]S110：获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集。
[0057]可以理解的是，为了保证芯片功能的正确性，需要编写大量测试的测试用例进行验证。其中，所述测试用例为用于验证芯片某一功能，且已编写好相关功能验证代码的相关程序数据。通过在芯片上运行若干测试用例，即可进行芯片相关功能的验证。为了保证芯片功能验证的完整性，需要对拟测试的所有测试用例进行有效统计。因此，需要获取由若干测试用本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试用例管理方法，其特征在于，包括以下步骤：获取由若干测试用例构成的芯片测试计划集；获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集；通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，得到所述芯片测试计划集中是否存在未测试的测试用例的比较结果；当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，提取未测试的测试用例；通过PYQT5输出管理端，输出所述未测试的测试用例。2.如权利要求1所述的芯片测试用例管理方法，其特征在于，所述方法还包括：当芯片测试计划集中存在未测试的测试用例时，生成警示信息；输出所述警示信息。3.如权利要求1所述的芯片测试用例管理方法，其特征在于，所述方法还包括：根据芯片测试记录集中若干已完成测试的测试用例，更新芯片测试计划集中的若干测试用例；输出所述更新后的芯片测试计划集。4.如权利要求1所述的芯片测试用例管理方法，其特征在于，获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集，具体包括：获取本次完成测试的测试用例；调用上一次测试完成时生成的测试用例记录集；将所述测试用例添加至上一次测试完成时生成的测试用例记录集。5.如权利要求1所述的芯片测试用例管理方法，其特征在于，获取由若干已测试完成的测试用例构成的芯片测试记录集，具体包括：接收测试完成的测试用例的获取周期预设信息；根据所述接收的周期预设信息，获取本次获取周期内若干完成测试的测试用例；调用上一次获取周期获取完成后生成的测试用例记录集；将所述若干测试用例添加至上一次获取周期获取完成后生成的测试用例记录集。6.如权利要求1所述的芯片测试用例管理方法，其特征在于，通过Python数据管理端，比较所述芯片测试计划集与所述芯片测试记录集，查找所述芯...

【专利技术属性】
技术研发人员：罗灏文，
申请(专利权)人：广州粒子微电子有限公司，
类型：发明
国别省市：