光电器件与信道的测量方法及系统、装置、介质制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种步骤S1：配置周期性激励源发送周期性激励信号A；步骤S2：在周期性激励信号A的输出点用采样设备AA采集输出信号A+N

【技术实现步骤摘要】
光电器件与信道的测量方法及系统、装置、介质


[0001]本专利技术涉及光电子
，具体地，涉及一种光电器件与信道的测量方法及系统、装置、介质。

技术介绍

[0002]电信号到电信号之间的传输特性可以通过网络分析仪或者TDT进行测量，但是这些设备通常只能测量电信号，光电信号或者光信号之间的传输特性无法用常用的试验设备进行测量，而且测量精度也受噪声的影响。
[0003]经过检索，专利文献CN108007564A公开了一种大动态范围光电信号测量系统及测量方法，包括光纤束单元、光电传感单元和分析判断单元；所述光纤束单元具有多个光纤输入端和多个光纤输出端，光电传感单元包含多个传感子单元，光纤束单元用光纤束重组的方法把任意一个输入端的光信号按比例同时传输到每一个输出端，每一输出端对应光电传感单元中一个光电传感子单元，每个光电传感子单元把光信号线性地转成电信号输出给分析判断单元，分析判断单元进行分析判断得到一个最终的光电信号测量值。该现有技术的不足之处在于要采用专门的光电信号测量系统才能测量，需要将光信号转化成电信号之后才能进行光电信号的测量。
[0004]因此，亟需研发一种既能进行电信号测量，又能进行光电信号或者光信号的测量的系统及方法。

技术实现思路

[0005]针对现有技术中的缺陷，本专利技术的目的是提供一种光电器件与信道的测量方法及系统、装置、介质。
[0006]根据本专利技术提供的一种光电器件与信道的测量方法，包括如下步骤：
[0007]步骤S1：配置周期性激励源发送周期性激励信号A；
[0008]步骤S2：在周期性激励信号A的输出点用采样设备AA采集输出信号A+N
A
，并进行多个周期的平均，过滤噪声；
[0009]步骤S3：将采集到的输出信号A+N
A
作为输入接到待测器件或者信道H；
[0010]步骤S4：在待测器件或者信道H的输出点用采样设备BB采集输出信号B+N
B
，并进行多个周期的平均值计算，过滤噪声；
[0011]步骤S5：将采样设备AA和采样设备BB的采样结果传送给分析软件C，计算待测器件或信道H的传递函数。
[0012]优选地，步骤S1中的周期性激励信号A是通过脉冲波形和时域中的码型冲击序列进行时域卷积时得到，其中，所述周期性激励信号A能够由码型发生器、任意波发生器、芯片或者具备此类功能的装置产生。
[0013]优选地，步骤S2中是通过对采样码型进行多组周期性激励信号A的平均，对噪声信号进行过滤。
[0014]优选地，根据被测器件或者信道的要求，选择激励信号是电信号或者光信号，对采样设备选择对应的电接口或者光接口。
[0015]优选地，待测器件或信道H的脉冲传递函数是输出信号和输入信号时域冲击序列乘积的归一化结果。
[0016]优选地，当周期性激励信号A不属于理想的脉冲输出时，将A和输入信号时域冲击序列乘积，推导出A的脉冲反应传递函数，然后从B点得到的脉冲反应传递函数中将A的脉冲反应效应通过反卷积取消掉，得到仅含待测器件或信道的传递函数。
[0017]根据本专利技术提供的一种光电器件与信道的测量系统，包括：
[0018]模块M1：配置周期性激励源发送周期性激励信号A；
[0019]模块M2：在周期性激励信号A的输出点用采样设备采集输出信号A+N
A
，并进行多个周期的平均，过滤噪声；
[0020]模块M3：将采集到的输出信号A+N
A
作为输入接到待测器件或者信道H；
[0021]模块M4：在待测器件或者信道H的输出点用采样设备采集输出信号B+N
B
，并进行多个周期的平均值计算，过滤噪声；
[0022]模块M5：将采样设备AA和采样设备BB的采样结果传送给分析软件C，计算待测器件或信道H的传递函数，获得待测器件或者信道的损耗、反射、带宽的性能指标。
[0023]根据本专利技术提供的一种存储有计算机程序的计算机可读存储介质，计算机程序被处理器执行时实现上述的方法的步骤。
[0024]根据本专利技术提供的一种测量装置，包括上述的光电器件与信道的测量系统或者上述的存储有计算机程序的计算机可读存储介质。
[0025]与现有技术相比，本专利技术具有如下的有益效果：
[0026]1、本专利技术通过采用硬件对周期信号的采样及平均，过滤测量中引入的噪声，并通过选择满足随机性和相关性的周期激励。
[0027]2、本专利技术通过对待测器件或通道的输入/输出采样信号的相关计算，可以采样实验室常有的码型发生器和采样示波器得到输入/输出之间的传输函数，解决了光信号到电信号或电信号到光信号或光信号到光信号之间器件或者信道传输函数无法方便实际测量的问题。
[0028]3、本专利技术同样可以常用设备(如信号发生器、示波器)测量电信号和电信号之间器件或者信道的传递函数，无需网络分析仪或者TDT等特别设备。
附图说明
[0029]通过阅读参照以下附图对非限制性实施例所作的详细描述，本专利技术的其它特征、目的和优点将会变得更明显：
[0030]图1为本专利技术的整体流程示意图。
具体实施方式
[0031]下面结合具体实施例对本专利技术进行详细说明。以下实施例将有助于本领域的技术人员进一步理解本专利技术，但不以任何形式限制本专利技术。应当指出的是，对本领域的普通技术人员来说，在不脱离本专利技术构思的前提下，还可以做出若干变化和改进。这些都属于本专利技术
的保护范围。
[0032]如图1所示，本专利技术提供了一种光电器件与信道的测量方法，包括如下步骤：
[0033]步骤S1：配置周期性激励源发送周期性激励信号A；
[0034]步骤S2：在周期性激励信号A的输出点用采样设备AA采集输出信号A+N
A
，并进行多个周期的平均，过滤噪声；
[0035]步骤S3：将采集到的输出信号A+N
A
作为输入接到待测器件或者信道H；
[0036]步骤S4：在待测器件或者信道H的输出点用采样设备BB采集输出信号B+N
B
，并进行多个周期的平均值计算，过滤噪声；
[0037]步骤S5：将采样设备AA和采样设备BB的采样结果传送给分析软件C，计算待测器件或信道H的传递函数。
[0038]具体地来说，光电器件或信道H是待测器件或传输信道，周期性激励源G受器件/信道相关性分析软件C控制产生周期性激励信号A，A的每个波特周期为T，码型长度为M，以M波特长度为周期重复，N
A
是激励源的噪声，A+N
A
经过光电器件或信道H后转变为信号B+噪声N
B
，噪声N
H
是待测器件或信道H产生的噪声。信号A和B可以是电信号或者光信号，采样设备AA和采样设备BB采样输入信号和输出信号，并以M波特长度为周期对采样信号进行多次平均，M波特周期平均后的信号中，噪本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光电器件与信道的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤S1：配置周期性激励源发送周期性激励信号A；步骤S2：在周期性激励信号A的输出点用采样设备AA采集输出信号A+N
A
，并进行多个周期的平均，过滤噪声；步骤S3：将采集到的输出信号A+N
A
作为输入接到待测器件或者信道H；步骤S4：在待测器件或者信道H的输出点用采样设备BB采集输出信号B+N
B
，并进行多个周期的平均值计算，过滤噪声；步骤S5：将采样设备AA和采样设备BB的采样结果传送给分析软件C，计算待测器件或信道H的传递函数。2.根据权利要求1所述的光电器件与信道的测量方法，其特征在于，所述步骤S1中的周期性激励信号A是通过脉冲波形和时域中的码型冲击序列进行时域卷积时得到。3.根据权利要求1所述的光电器件与信道的测量方法，其特征在于，所述步骤S2中是通过对采样码型进行多组周期性激励信号A的平均，对噪声信号进行过滤。4.根据权利要求1所述的光电器件与信道的测量方法，其特征在于，根据被测器件或者信道的要求，选择激励信号是电信号或者光信号，对采样设备选择对应的电接口或者光接口。5.根据权利要求1所述的光电器件与信道的测量方法，其特征在于，所述待测器件或信道H的脉冲传递函数是输出信号和输入信号时域冲击序列乘积的...

【专利技术属性】
技术研发人员：王珲，王炯明，孙政国，
申请(专利权)人：上海橙科微电子科技有限公司，
类型：发明
国别省市：