本实用新型专利技术涉及炉温均匀性检测技术领域，尤其是一种精确检测炉温均匀性的装置，包括支撑框、若干个过程温度测试块、若干个热电偶和多通道温度记录仪，所述过程温度测试块固定在支撑框的不同位置，用于采集炉内不同区域的温度，所述过程温度测试块上设有测温孔，所述热电偶的一端插入测温孔内测量过程温度测试块的内部温度，另一端与多通道温度记录仪连接，通过多通道温度记录仪显示过程温度测试块的内部温度。本实用新型专利技术的精确检测炉温均匀性的装置，通过设置过程温度测试块，并在过程温度测试块上设置测温孔，将热电偶的一端插入测温孔内，从而检测到过程温度测试块的内部温度，以代表零件的真实温度，检测结果更接近零件的实际温度，更为精确。更为精确。更为精确。
【技术实现步骤摘要】
一种精确检测炉温均匀性的装置
[0001]本技术涉及炉温均匀性检测
，尤其是一种精确检测炉温均匀性的装置。
技术介绍
[0002]对金属零件进行热处理时经常需要用到电阻炉，为了保证产品质量，需要确保置于炉内的零件的各部位温度均匀，因此，检测炉温均匀性是热处理过程中至关重要的一环。目前的炉温均匀性检测都是将热电偶直接放置在炉腔内， 虽然可以测试炉腔内的温度，但无法代表零件的实际温度，尤其是零件内部的温度精确度不够。因此，有必要开发一种能够代表热处理零件的实际温度的炉温均匀性检测装置，从而更精确地获知炉内各区域的温度，为产品的热处理提供准确的指示。
技术实现思路
[0003]为了解决上述问题，本技术提供了一种精确检测炉温均匀性的装置，通过设置过程温度测试块，并在过程温度测试块上设置测温孔，将热电偶的一端插入测温孔内，从而检测到过程温度测试块的内部温度，以代表零件的真实温度，检测结果更接近零件的实际温度，更为精确。
[0004]本技术解决其技术问题所采用的技术方案是：
[0005]一种精确检测炉温均匀性的装置，包括支撑框、若干个过程温度测试块、若干个热电偶和多通道温度记录仪，所述过程温度测试块固定在支撑框的不同位置，用于采集炉内不同区域的温度，所述过程温度测试块上设有测温孔，所述热电偶的一端插入测温孔内测量过程温度测试块的内部温度，另一端与多通道温度记录仪连接，通过多通道温度记录仪显示过程温度测试块的内部温度。
[0006]具体地，上述支撑框呈长方体结构，所述过程温度测试块设有五个，其中一个设置在长方体的几何中心，另外四个分别设置在长方体互不相邻的四个顶点上。
[0007]具体地，上述测温孔为盲孔，所述盲孔的底部位于过程温度测试块的几何中心，所述热电偶的一端插入并固定在盲孔的底部。
[0008]具体地，上述过程温度测试块为圆柱形，所述测温孔为从圆柱形过程温度测试块的一个底面沿轴向开设的盲孔。
[0009]具体地，上述测温孔位于底面的中央，深度为圆柱形过程温度测试块的高度的一半，所述测温孔的直径与热电偶的直径相等。
[0010]具体地，上述圆柱形过程温度测试块竖直固定在支撑框上，使所述测温孔位于圆柱形过程温度测试块的顶部。
[0011]本技术的有益效果是：
[0012]（1）本技术的精确检测炉温均匀性的装置，通过设置过程温度测试块，并在过程温度测试块上设置测温孔，将热电偶的一端插入测温孔内，从而检测到过程温度测试块
的内部温度，以代表零件的真实温度，检测结果更接近零件的实际温度，更为精确；
[0013]（2）现有的炉温均匀性检测装置一般都是在长方体的八个顶点和几何中心设置热电偶，共9个测试点，但专利技术人经试验发现，在长方体的几何中心和互不相邻的四个顶点上设置5个测试点获得的检测结果与设置9个测试点所获得的检测结果基本一致，因此，本申请通过合理的布局设置5个检测点，在保证检测结果的前提下减少热电偶个数；
[0014]（3）过程温度测试块上测温孔为盲孔，盲孔的底部位于过程温度测试块的几何中心，并将热电偶插入并固定在盲孔的底部，即，可以使热电偶的检测部位为过程温度测试块的几何中心，更能够代表零件的实际温度，检测结果更加精确。
附图说明
[0015]下面结合附图和实施例对本技术进一步说明。
[0016]图1是本技术的结构示意图；
[0017]图2是本技术中过程温度测试块的结构示意图；
[0018]图中：1. 支撑框；2. 过程温度测试块；21. 测温孔；3. 热电偶；4. 多通道温度记录仪；9. 炉腔。
具体实施方式
[0019]现在结合附图对本技术作进一步详细的说明。这些附图均为简化的示意图，仅以示意方式说明本技术的基本结构，因此其仅显示与本技术有关的构成。
[0020]一种快速检测炉温均匀性的装置，如图1所示，包括支撑框1、若干个过程温度测试块2、若干个热电偶3和多通道温度记录仪4，过程温度测试块2固定在支撑框1的不同位置，用于采集炉内不同区域的温度，过程温度测试块2上设有测温孔21，热电偶3的一端插入测温孔21内测量过程温度测试块2的内部温度，另一端与多通道温度记录仪4连接，通过多通道温度记录仪4显示过程温度测试块2的内部温度。
[0021]在测试过程中，用钢丝将过程温度测试块2固定在支撑框1的不同部位，然后将支撑框1放入炉腔9内，使支撑框1的顶部及四周与炉腔9的内壁保持一定距离（约6
‑
8cm），然后将热电偶3的一端穿过炉壁插入过程温度测试块2的测温孔21内，另一端插在多通道温度记录仪4上，将零件放在支撑框1上，关闭炉门，打开多通道温度记录仪4，按规定要求升温至目标温度，保温一段时间，过程中随时记录多通道温度记录仪4上显示的不同过程温度测试块2的温度，可快速、精确地识别热处理过程中炉内的最高温度点和最低温度点。
[0022]在一种具体的实施方式中，如图1所示，支撑框1呈长方体结构，过程温度测试块2设有五个，其中一个设置在长方体的几何中心，另外四个分别设置在长方体互不相邻的四个顶点上。现有的炉温均匀性检测装置一般都是在长方体的八个顶点和几何中心设置热电偶，共9个测试点，但专利技术人经试验发现，在长方体的几何中心和互不相邻的四个顶点上设置5个测试点获得的检测结果与设置9个测试点所获得的检测结果基本一致，因此，本申请通过合理的布局设置5个检测点，在保证检测结果的前提下减少热电偶个数。
[0023]在一种具体的实施方式中，测温孔21为盲孔，盲孔的底部位于过程温度测试块2的几何中心，热电偶3的一端插入并固定在盲孔的底部。测温孔21（盲孔）的底部位于过程温度测试块2的几何中心，并将热电偶3插入并固定在盲孔的底部，即，可以使热电偶3的检测部
位为过程温度测试块2的几何中心，更能够代表零件的实际温度。在具体实施例中，可以将过程温度测试块2的形状设置为与热处理的零件一致的形状。
[0024]在一种具体的实施方式中，如图2所示，过程温度测试块2为圆柱形，测温孔21为从圆柱形过程温度测试块2的一个底面沿轴向开设的盲孔。过程温度测试块2设置为圆柱形，适用于圆柱形零件。
[0025]在一种具体的实施方式中，如图2所示，测温孔21位于底面的中央，深度为圆柱形过程温度测试块2的高度的一半，测温孔21的直径与热电偶3的直径相等。
[0026]测温孔21的直径与热电偶3的直径相等，在将热电偶3插入测温孔21之后，可以使测量结果更接近零件的实际温度，检测结果更精确。
[0027]在一种具体的实施方式中，如图1所示，圆柱形过程温度测试块2竖直固定在支撑框1上，使测温孔21位于圆柱形过程温度测试块2的顶部。
[0028]以上述依据本技术的理想实施例为启示，通过上述的说明内容，相关工作人员完全可以在不偏离本项技术技术思想的范围内，进行多样的变更以及修改。本项技术的技术性范围并不本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种精确检测炉温均匀性的装置，其特征在于：包括支撑框（1）、若干个过程温度测试块（2）、若干个热电偶（3）和多通道温度记录仪（4），所述过程温度测试块（2）固定在支撑框（1）的不同位置，用于采集炉内不同区域的温度，所述过程温度测试块（2）上设有测温孔（21），所述热电偶（3）的一端插入测温孔（21）内测量过程温度测试块（2）的内部温度，另一端与多通道温度记录仪（4）连接，通过多通道温度记录仪（4）显示过程温度测试块（2）的内部温度。2.如权利要求1所述的精确检测炉温均匀性的装置，其特征在于：所述支撑框（1）呈长方体结构，所述过程温度测试块（2）设有五个，其中一个设置在长方体的几何中心，另外四个分别设置在长方体互不相邻的四个顶点上。3.如权利要求1所述的精确检测炉温均匀性的装...
【专利技术属性】
技术研发人员：赖晓锋，戎虎威，
申请(专利权)人：派瑞格医疗器械常州有限公司，
类型：新型
国别省市：
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。