【技术实现步骤摘要】
一种基于可编程电路的芯片防伪方法
[0001]本专利技术涉及防伪
,尤其涉及一种基于可编程电路的芯片防伪方法。
技术介绍
[0002]纪念币、证照、印章、运钞等产品需要采用专门的防伪技术来保证产品安全。现有技术中多采用专用防伪芯片来实现这以上目的,现有防伪芯片具备高可控(能够抵抗日常生活中变形、潮湿、静电等环境因素)、长寿命(芯片寿命应大于受保护产品使用期限,正常环境下设计使用寿命大于50年,宜达到100年)、高安全(应能抵御已知攻击方式,或攻击成本远大于受保护产品价值)的特点。
[0003]为了实现通过防伪芯片实现对产品保护,需要先将UID及校验码烧写入芯片的存储介质中,此环节直接关乎到防伪芯片是否能够有效实现防伪的目的。现有技术中是将UID及校验码等内容编码烧写入RAM等可反复读写的存储器中,以实现对RAM内存储的灵活控制,但该技术易导致不安全的因素。因为在后续的普通读写和受到攻击的过程中,RAM无法保证UID及校验码等内容一直稳定不被造假者篡改,而一旦数据不稳定则会导致防伪能力失效。
[0004] ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种基于可编程电路的芯片防伪方法,其特征在于,所述方法包括:根据排布需求,通过指令使得大电流将芯片ROM中的电路单元熔断,得到复数个体积不同的熔断块;结合所述排布需求,对所述熔断块进行排布;在使用芯片前,基于可编程电路将保密内容烧写入经排布且编码后的所述熔断块中,在所述熔断块上构造不同的结构特征,使得所述复数个熔断块具有各不相同的不可逆的可视的防伪特征;通过电子和/或光学读取方式对所述防伪特征进行识别校验。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,采用大电流熔断金属/多晶硅的手段将所述ROM中电路单元中的金属/硅化物熔断,使得当前电路单元开路;具体的,在大电流电迁移的作用下,金属原子受到运动的导电电子作用沿晶粒从阴极向阳极迁移,阴极的原子减少形成空洞。3.根据权利要求1所...
【专利技术属性】
技术研发人员:马哲,潘雨洋,李彦昭,李晓伟,张永峰,
申请(专利权)人:北京银联金卡科技有限公司,
类型:发明
国别省市:
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