多功能智能编程测试仪制造技术

本实用新型专利技术涉及一种多功能智能编程测试仪，可独立完成集成电路测试和ＥＰＲＯＭ拷贝，可与ＰＣ联机完成ＥＰＲＯＭ、ＧＡＬ编程、ＧＡＬ解析。由ＣＰＵ控制及与其连接的电源、键盘及显示、ＲＳ－２３２通讯、输入输出激励头等部件构成。与测试夹具连接的激励头在ＣＰＵ控制下对被测芯片的相应管脚加工作电源、接地、高阻接地、加高／低激励、回读、加编程电压、升降沿触发等，激励头由一系列开关器件组成，在ＣＰＵ控制下开或关，输出测试所需的各种逻辑电平。（*该技术在2004年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
本技术涉及一种测试装置，更确切地说是涉及一种集成电路测试仪。通用集成电路（74／54系列、4000系列、4500系列）、EPROM存贮器，通用门阵列电路GAL等已被广泛地应用在以微处理器为核心的数字逻辑电路及其他逻辑电路中，为方便开发和维修人员使用、测试这些电路，各种各样的集成电路测试仪也应运而生。如“万用编程器”、“拷贝卡”、GAL／PAL解析仪等。这些仪器专用性强、专项功能较完善，但功能单一，很难满足用户在开发及维修过程中的各种需求，而不得不购买多种设备来满足工作中的需要，不仅增加了开支，而且不便于使用及管理。本技术的目的是设计一种多功能智能编程测试仪，具有集集成电路测试、EPROM编程和拷贝、GAL编程、GAL解析于一身的特点，可克服现有测试设备功能单一的缺陷。本技术的多功能智能编程测试仪，在与PC机脱机的独立工作状态下，可完成常用集成电路IC中74、40、45系列大部分芯片的逻辑功能测试和EPROM－2716、EPROM－27512上可擦只读存贮器的拷贝工作；在与PC机联机的条件下完成上述EPROM及GAL16V8、GAL20V8可编程逻辑器件的编程和对已加密的GAL器件作逻本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多功能智能编程测试仪，由ＣＰＵ控制部件和与ＣＰＵ控制部件连接的电源部件、键盘和显示部件、ＲＳ－２３２通讯接口、输入／输出激励头，与输入／输出激励头连接的测试夹具组成，其特征在于：所述的测试夹具包括用于ＩＣ测试及ＥＰＲＯＭ拷贝子片的Ａ 夹具、用于ＥＰＲＯＭ拷贝母片的Ｂ夹具及用于ＧＡＬ逻辑解析的Ｃ夹具；所述Ａ、Ｂ夹具每一管脚上并接有输入激励部件、输出回读部件、上拉电阻Ｒ１、上拉电阻Ｒ２、电子开关３、电子开关４、电阻Ｒ３、电子开关６和电阻Ｒ４；上拉电阻Ｒ１另一端串接电子开 关１后与上拉电源ＶＤ连接，上拉电阻Ｒ２另一端串接电子开关２后与上拉电源ＶＤ连接电子开关３另一端接工作电源ＶＤＤ，...

【技术特征摘要】
1、一种多功能智能编程测试仪，由CPU控制部件和与CPU控制部件连接的电源部件、键盘和显示部件、RS-232通讯接口、输入/输出激励头，与输入/输出激励头连接的测试夹具组成，其特征在于：所述的测试夹具包括用于IC测试及EPROM拷贝子片的A夹具、用于EPROM拷贝母片的B夹具及用于GAL逻辑解析的C夹具；所述A、B夹具每一管脚上并接有输入激励部件、输出回读部件、上拉电阻R1、上拉电阻R2、电子开关3、电子开关4、电阻R3、电子开关6和电阻R4；上拉电阻R1另一端串接电子开关1后与上拉电源VD连接，上拉电阻R2另一端串接电子开关2后与上拉电源VD连接电子开关3另一端接工作电源VDD，电子开关4另一端接编程电源VPP，电阻R3另一端串接电子开关5后与地连接，电子开关6另一端接地，电阻R4另一端并接C夹具一管脚和输入输出特性判别部件；所述电子开关1至电子开关6的控制端分别连接所述CPU控制部件译码电路的输出端，所述输入激励部...

【专利技术属性】
技术研发人员：李沛时，罗志强，杨曦，刘久文，
申请(专利权)人：北京市融力实业公司，
类型：实用新型
国别省市：11[中国|北京]