一种具有开短路测试功能的安规测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开并提供了一种具有开短路测试功能的安规测试仪，它包括普通安规测试仪和开短路测试功能电路，所述普通安规测试仪连接被测设备，所述开短路测试功能电路装置在所述普通安规测试仪内，所述开短路测试功能电路包括信号发生电路、采样电路、单片机，所述采样电路连接所述单片机，所述信号发生电路和所述采样电路及单片机均连接被测设备，所述信号发生电路所发出的信号经过所述被测设备后由所述采样电路进行采样，所述采样得到的信号反馈至单片机进行比较和运算处理，所述运算处理后的结果由所述具有开短路测试功能的安规测仪显示。本实用新型专利技术可广泛应用于安规测试仪技术领域。

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及安规功能测试仪技术应用领域，尤其涉及一种具有开短路测试功能的安规测试仪。
技术介绍
随着电子技术的飞速发展，安规功能测试仪作为电子产品出厂例行检测的基本工具，其应用十分的广泛和普遍。目前市场上的安规功能测试仪没有检测被测设备与测试设备之间的连接通断情况以及被测设备本身短路这一预预警和处理测试功能，因而现有技术主要存在有以下方面的缺点:1）没有待测产品和仪器间是否连接正常的通断路的预处理测试功能:在测试过程中，工作人员并不知到测试设备与被测设备连接的情况，有可能导线的损坏或继电器的氧化等原因，从而在被测设备与测试设备之间存在断路现象。由于产品本身的电源脚和接地脚之间的阻抗非常大，和断开未连接的情况下的测试结果（漏电流值）比较类似，容易造成未连接的情况下也测试完成的假测现象。2）没有监测产品本身是否短路的预处理测试功能：测试过程中，由于被测设备有可能出现设备本身短路现象，导致测试高压的时候瞬间电流巨大，对测试人员和设备都有潜在的危害。综上所述，现有技术中的安规测试仪技术中，存在缺少开短路的测试功能的缺陷，对测试人员和设备有潜在的危害。
技术实现思路
本技术所要解决的问提是克服现有技术的不足，提供一种具有开短路测试功能的安规测试仪。本技术的技术方案是：本技术它包括普通安规测试仪和开短路测试功能电路，所述普通安规测试仪连接被测设备，所述开短路测试功能电路装置在所述普通安规测试仪内，所述开短路测试功能电路包括信号发生电路、采样电路、单片机，所述采样电路连接所述单片机，所述信号发生电路和所述采样电路及单片机均连接被测设备，所述信号发生电路所发出的信号经过所述被测设备后由所述采样电路进行采样，所述采样得到的信号反馈至单片机进行比较和运算处理，所述运算处理后的结果由所述普通安规测试仪显示，相关测试人员即可明确所述被测设备与所述普通安规测试仪之间连接的开短路状态。所述信号发生电路包括多个运放集成电路和电阻、电容、线圈及二极管构成的迟滞比较器和多谐振荡器，产生10HZ的方波信号流经所述被测设备后输入所述采样电路。所述采样电路包括多个集成电路和电阻、电容、线圈组成的电压放大器、电压跟随器、控制模拟开关，将从所述被测设备取样所得的电压信号和电容值送入单片机。所述单片机对所述采样电路输入的信号进行计算处理，与设置存储的数据比较计算并处理，将结果输出至所述普通安规测试仪内显示装置。本技术的有益效果是：由于本技术它包括普通安规测试仪和开短路测试功能电路，所述普通安规测试仪连接被测设备，所述开短路测试功能电路装置在所述普通安规测试仪内，所述开短路测试功能电路包括信号发生电路、采样电路、单片机，所述采样电路连接所述单片机，所述信号发生电路和所述采样电路及单片机均连接被测设备，所述信号发生电路所发出的信号经过所述被测设备后由所述采样电路进行采样，所述采样得到的信号反馈至单片机进行比较和运算处理，所述运算处理后的结果由所述普通安规测试仪显示，相关测试人员即可明确所述被测设备与所述普通安规测试仪之间连接的开短路状态。所以本技术是一种具有开短路测试功能的安规测试仪。附图说明图1是本技术的电路结构方框示意图；图2是本技术中信号发生电路原理示意图；图3是本技术中采样电路原理示意图。具体实施方式如图1至图3所示，本技术它包括普通安规测试仪1和开短路测试功能电路，所述普通安规测试仪1连接被测设备2，所述开短路测试功能电路装置在所述普通安规测试仪1内，所述开短路测试功能电路包括信号发生电路3、采样电路4、单片机5，所述采样电路4连接所述单片机5，所述信号发生电路3和所述采样电路4及单片机均连接所述被测设备2，所述信号发生电路3所发出的信号经过所述被测设备2后由所述采样电路4进行采样，所述采样得到的信号反馈至所述单片机5进行比较和运算处理，所述运算处理后的结果由所述普通安规测试仪1显示，相关测试人员即可明确所述被测设备2与所述普通安规测试仪1之间连接的开短路状态。所述信号发生电路3包括多个运放集成电路和电阻、电容、线圈及二极管构成的迟滞比较器和多谐振荡器，产生10HZ的方波信号流经所述被测设备2后输入所述采样电路4。所述采样电路4包括多个集成电路和电阻、电容、线圈组成的电压放大器、电压跟随器、控制模拟开关，将从所述被测设备2取样所得的电压信号和电容值送入所述单片机5。所述单片机5对所述采样电路输入的信号进行计算处理，与设置存储的数据比较计算并处理，将结果输出至普通安规测试仪1内并显示。本实施例中针对现有技术的一些缺陷和改进的需求，本专利技术提供了一种安规功能测试仪的开短路测试的预处理测试功能，该功能采用的原理是由信号源产生10HZ频率的信号，该信号经过被设备也就是说负载，所述采样电路4得出流过所述被测设备2的电流与电压，根据I=2πfUC计算出电容的值，最后比较电容值判断开短路。当所述被测设备2与测试设备连接正常时，其电容值是Cx。如果被测设备2与测试设备连接不好，负载电容值有变化，当被测设备2与测试设备开路时，负载电容值为C=Cc*Cx/(Cc+Cx)<<Cx。当被测设备与测试设备短路时，负载电容值为C>>Cx。单片机计算出来的电容值与其正常的电容值比较，如果远远大于设定的电容值（正常电容值），说明被测设备2与测试设备短路，如果测量出的电容值远远小于说明被测设备2与测试设备之间开路。也就是说通过测量出来的电容值来确定连接情况，再反馈到显示屏幕上便于操作人员观察。图2是本技术中信号发生电路原理示意图，前面部分由U16，R59,C30,C82,R31,R56,R37构成了迟滞比较器所构成的多谐振荡电路，产生10HZ的方波信号，该信号流过由TL082AC构成低通滤波器，滤除不必要的高次谐波，最后从HV输出的是一个正弦信号。其中C43是一个大的电容，它与D10/D11构成的网路对HV输出端起保护作用。图3是本技术中采样电路原理示意图，采样电路中信号源产生的正弦信号从HV输入一方面经过分压电阻R3、R4、R5各为10M欧的电阻和R1610K电阻降压后，到ICU54-A模拟开关的第８脚，从U54-A的第１脚输出，再流经U2，U2在这里是作为一个电压放大器使用，模拟开关U12-A用来切换U2的放大倍数，U12-A的１脚切换到２脚，U2就构成一个电压跟随器，电压放大倍数为１；如果U12-A的１脚切换到８脚，U2就构成一个电压正相放大器，放大倍数...

【技术保护点】
一种具有开短路测试功能的安规测试仪，它包括普通安规测试仪（1）和开短路测试功能电路，所述普通安规测试仪（1）连接被测设备（2），其特征在于：所述开短路测试功能电路装置在所述普通安规测试仪（1）内，所述开短路测试功能电路包括信号发生电路（3）、采样电路（4）、单片机（5），所述采样电路（4）连接所述单片机（5），所述信号发生电路（3）和所述采样电路（4）及所述单片机（5）均连接所述被测设备（2），所述信号发生电路（3）所发出的信号经过所述被测设备（2）后由所述采样电路（4）进行采样，所述采样得到的信号反馈至所述单片机（5）进行比较和运算处理，所述运算处理后的结果由所述普通安规测试仪（1）显示，相关测试人员即可明确所述被测设备（2）与所述普通安规测试仪（1）之间连接的开短路状态。

【技术特征摘要】
1.一种具有开短路测试功能的安规测试仪，它包括普通安规测试仪（1）和开短路测试
功能电路，所述普通安规测试仪（1）连接被测设备（2），其特征在于：所述开短路测试功能电
路装置在所述普通安规测试仪（1）内，所述开短路测试功能电路包括信号发生电路（3）、采
样电路（4）、单片机（5），所述采样电路（4）连接所述单片机（5），所述信号发生电路（3）和所
述采样电路（4）及所述单片机（5）均连接所述被测设备（2），所述信号发生电路（3）所发出的
信号经过所述被测设备（2）后由所述采样电路（4）进行采样，所述采样得到的信号反馈至所
述单片机（5）进行比较和运算处理，所述运算处理后的结果由所述普通安规测试仪（1）显
示，相关测试人员即可明确所述被测设备（2）与所述普通安规测试仪（1）之间连接的开短路
状态。
2...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵建，
申请(专利权)人：珠海市芬诺科技有限公司，
类型：新型
国别省市：广东;44