一种用于电子元器件测试的装置制造方法及图纸

本实用新型专利技术提供一种用于电子元器件测试的装置，包括外罩、设置在外罩内的底板、竖直设置在底板上的挡板、设置在挡板前侧的若干放置槽、可拆卸地设置在放置槽内的测试基板、一端设置在测试基板上的测试线、从电子元器件引出的键合金丝、以及设置在放置槽前侧以固定测试线和键合金丝的固定机构，电子元器件设置在测试基板上，测试基板与挡板垂直布置地设置在放置槽内。本实用新型专利技术能够消除测试过程中外部不利因素的影响，保证试验结果的准确性，且通用性强。

【技术实现步骤摘要】
一种用于电子元器件测试的装置
本技术涉及一种用于电子元器件测试的装置。
技术介绍
微波单层电容器在生产制造过程中，需要对产品进行电压处理和老化寿命的测试，确定电容器在试验温度和试验电压下的相对变化程度，以保证产品的质量一致性及环境匹配性。现有测试方法中，因电容器体积过小，产品电极表面为金电极，在试验前需要先将微波单层电容器焊接到测试基板上，采用金丝键合方式引出试验端，再用高低温测试线连接微波单层电容器和直流稳压电源。最后直接放入精密烘箱，精密烘箱提供高温环境及额定直流电压的施加，对微波单层电容器的可靠性进行试验。但在微波单层电容器进行电压处理和老化寿命特性测试过程中，微波单层电容器易受污染，测试基板容易移位，键合金丝和高低温测试线会随测试基板移动，可能导致其脱落，对试验有不确定性的影响，且微波单层电容器还直接受到外部紊乱气流的影响。
技术实现思路
本技术的目的是针对现有技术的不足，提出一种用于电子元器件测试的装置，消除测试过程中外部不利因素的影响，保证试验结果的准确性，且通用性强。本技术通过以下技术方案实现：一种用于电子元器件测试的装置，包括外罩、设置在外罩内的底板、竖直设置在底板上的挡板、设置在挡板前侧的若干放置槽、可拆卸地设置在放置槽内的测试基板、一端设置在测试基板上的测试线、从电子元器件引出的键合金丝、以及设置在放置槽前侧以固定测试线和键合金丝的固定机构，电子元器件设置在测试基板上，测试基板与挡板垂直布置地设置在放置槽内。进一步的，还包括与底板间隔布置的顶板，挡板设置在底板与顶板之间，挡板前侧间隔设置有多个间隔板，各间隔板之间间隔设置有多根横梁，相邻两间隔板相对的两侧分别设置有凹槽，相对的两凹槽、对应位置的横梁和挡板形成所述放置槽，凹槽高度与基板高度匹配，所述测试基板两侧分别卡入两凹槽内。进一步的，所述固定机构包括若干固定条和若干螺栓螺母副，相邻两所述间隔板之间设置有一固定条，固定条两端开设有第一让位孔，横梁上开设有对应的第二让位孔，螺栓穿过第一、第二让位孔后锁紧在螺母内。进一步的，所述横梁和固定条均由铝合金材料制成。进一步的，所述外罩前侧下端间隔设置有通孔。进一步的，所述电子元器件包括微波单层电容器。本技术具有如下有益效果：1、本技术在试验之前，将电子元器件焊接在测试基板上，从电子元器件上引出键合金丝试验端，并将高低温测试线一端焊接在测试基板上，再将测试基板设置在放置槽内，整理好测试线和键合金丝后，通过固定机构固定，再将外罩罩上，即可放入精密烘箱进行试验，如此能够起到防风防尘、避免电子元器件受到污染、减少外部紊乱气流影响以维持较稳定的环境温度、防止键合金丝和高低温测试线脱落、防止测试基板跑位的作用，消除测试过程中的多种外部不利因素的影响，保证试验结果的准确性；另一方面，本技术结构简单，操作方便，且可多次重复使用，用于多种试验，通用性强，对电子元器件表面无损伤，还可以批量进行试验，提高效率，节省时间。2、外罩前侧下端间隔设置有通孔，能够方便外罩罩上与取下。附图说明下面结合附图对本技术做进一步详细说明。图1为本技术的结构示意图。图2为图1的分解结构示意图。其中，1、外罩；11、通孔；2、底板；3、顶板；4、挡板；5、放置槽；51、间隔板；52、横梁；53、凹槽；6、固定条；具体实施方式如图1和图2所示，用于电子元器件测试的装置包括外罩1、设置在外罩1内的底板2、与底板2间隔布置的顶板3、竖直设置在底板2与顶板3之间的挡板4、设置在挡板4前侧的若干放置槽5、可拆卸地设置在放置槽5内的测试基板、一端设置在测试基板上的测试线、从电子元器件引出的键合金丝、以及设置在放置槽5前侧以固定测试线和键合金丝的固定机构，电子元器件设置在测试基板上，测试基板与挡板4垂直布置地设置在放置槽5内，外罩1前侧下端间隔设置有三个通孔11。挡板4前侧间隔设置有多个间隔板51，各间隔板51之间间隔设置有多根横梁52，相邻两间隔板51相对的两侧分别设置有凹槽53，相对的两凹槽53、对应位置的横梁52和挡板4形成所述放置槽5，凹槽53高度与基板高度匹配，测试基板两侧分别卡入两凹槽53内。固定机构包括若干固定条6和若干螺栓螺母副，相邻两所述间隔板51之间设置有一固定条6，固定条6两端开设有第一让位孔，横梁52上开设有对应的第二让位孔，螺栓穿过第一让位孔、第二让位孔后锁紧在螺母内。当测试基板两侧边开入两凹槽53内后，整理好键合金丝和测试线，使其位于横梁52外侧，再将固定条6压在键合金丝与测试线上，并用螺栓螺母锁紧，即可将键合金丝和测试线固定住。在本实施例中，电子元器件为微波单层电容器。其他片式元件的类似测试也可使用本装置。在本实施例中，横梁52和固定条6均由铝合金材料制成。外罩1由玻纤板制成。底板2、顶板3、挡板4和间隔板51均由聚四氟乙烯材料制成。以上所述，仅为本技术的较佳实施例而已，故不能以此限定本技术实施的范围，即依本技术申请专利范围及说明书内容所作的等效变化与修饰，皆应仍属本技术专利涵盖的范围内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于电子元器件测试的装置，其特征在于：包括外罩、设置在外罩内的底板、竖直设置在底板上的挡板、设置在挡板前侧的若干放置槽、可拆卸地设置在放置槽内的测试基板、一端设置在测试基板上的测试线、从电子元器件引出的键合金丝、以及设置在放置槽前侧以固定测试线和键合金丝的固定机构，电子元器件设置在测试基板上，测试基板与挡板垂直布置地设置在放置槽内。/n

【技术特征摘要】
1.一种用于电子元器件测试的装置，其特征在于：包括外罩、设置在外罩内的底板、竖直设置在底板上的挡板、设置在挡板前侧的若干放置槽、可拆卸地设置在放置槽内的测试基板、一端设置在测试基板上的测试线、从电子元器件引出的键合金丝、以及设置在放置槽前侧以固定测试线和键合金丝的固定机构，电子元器件设置在测试基板上，测试基板与挡板垂直布置地设置在放置槽内。


2.根据权利要求1所述的一种用于电子元器件测试的装置，其特征在于：还包括与底板间隔布置的顶板，挡板设置在底板与顶板之间，挡板前侧间隔设置有多个间隔板，各间隔板之间间隔设置有多根横梁，相邻两间隔板相对的两侧分别设置有凹槽，相对的两凹槽、对应位置的横梁和挡板形成所述放置槽，凹槽高度与基板高度匹配，所述测试基板两...

【专利技术属性】
技术研发人员：林泽清，潘甲东，谢艺精，
申请(专利权)人：福建毫米电子有限公司，
类型：新型
国别省市：福建;35