紫外-近红外宽波段微区光致发光光谱测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种紫外‑近红外宽波段微区光致发光光谱测试装置，包括激发光源系统和光谱测量及照明观察系统；激发光源系统包括高重频超快激光源、激光脉冲选择器、第一分光器和谐波发生器；光谱测量及照明观察系统包括显微物镜、恒温样品池、六轴六足精密电动位移台、透镜、光栅光谱仪、CCD相机、光电倍增管PMT、电脑控制端、光电探测器、观测样品表面的成像相机、光纤耦合的LED光源。本发明专利技术采用高重频超快激光源，与激光脉冲选择器及谐波发生器结合，构成激发波长宽波段可调、重频可调的激发光源，大大拓展了传统方法在材料体系上的限制，可以实现对PL光谱、荧光寿命及二阶相关性的测试，从而能够对更丰富样品特性和器件性质进行研究。

【技术实现步骤摘要】
紫外-近红外宽波段微区光致发光光谱测试装置
本专利技术属于量子点、纳米线、缺陷等等天然或人工微纳结构，及其可应用的量子光源、量子传感、量子信息等领域，特别涉及一种紫外-近红外宽波段微区光致发光光谱测试装置。
技术介绍
光致发光光谱(Photoluminescence，简写为PL)是一种常用的研究材料电子结构等特性的无损伤、非接触式测量方法。当激发光照射到待测样品上，由于激发光的光子能量大于待测样品的带隙且光子流的密度足够高，激发光被样品吸收，样品中的原子获得能量从基态跃迁到激发态，然后从激发态返回到基态时通过辐射光子的方式释放能量的过程叫做光致发光。光致发光的光谱可以通过光谱仪耦合CCD等探测器进行接收。基于探测到的光谱，就可对材料的组分、缺陷、杂质、材料均匀性进行分析，还可以用于各种发光器件的评价与研究中，是人们认识相关材料光电特性和物理过程的不可或缺的研究手段。由于PL方法对样品的制备要求较为简单且无损伤，近年来为新型材料特别是量子材料和器件的发展做出了重要的贡献。目前常见的PL测试方法及所采取的装置主要面向可见光激发下的宏观样品，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.紫外-近红外宽波段微区光致发光光谱测试装置，其特征在于，包括激发光源系统和光谱测量及照明观察系统；/n所述激发光源系统包括高重频超快激光源(1)、激光脉冲选择器(2)、第一分光器(3)和谐波发生器(4)；/n高重频超快激光源(1)产生的原始激发光进入激光脉冲选择器(2)进行选择，然后通过第一分光器(3)进行分束，分束后一部分光进入谐波发生器(4)中，另一部分光用作起始时间参考信号输入光电探测器(17)中；/n所述光谱测量及照明观察系统包括显微物镜(8)、恒温样品池(9)、六轴六足精密电动位移台(10)、透镜(12)、光栅光谱仪(13)、CCD相机(14)、光电倍增管PMT(15)、电脑控制...

【技术特征摘要】
1.紫外-近红外宽波段微区光致发光光谱测试装置，其特征在于，包括激发光源系统和光谱测量及照明观察系统；
所述激发光源系统包括高重频超快激光源(1)、激光脉冲选择器(2)、第一分光器(3)和谐波发生器(4)；
高重频超快激光源(1)产生的原始激发光进入激光脉冲选择器(2)进行选择，然后通过第一分光器(3)进行分束，分束后一部分光进入谐波发生器(4)中，另一部分光用作起始时间参考信号输入光电探测器(17)中；
所述光谱测量及照明观察系统包括显微物镜(8)、恒温样品池(9)、六轴六足精密电动位移台(10)、透镜(12)、光栅光谱仪(13)、CCD相机(14)、光电倍增管PMT(15)、电脑控制端(16)、光电探测器(17)、可拆卸的反射镜(18)、分光棱镜(19)、观测样品表面的成像相机(20)、光纤耦合的LED光源(21)；
恒温样品池(9)放置在六轴六足精密电动位移台(10)上，显微物镜(8)设置在恒温样品池(9)上方，显微物镜(8)上方依次设有第三分光器(6)和第二分光器(5)；
第三分光器(6)用于将谐波发生器(4)射出的激发光引导到显微物镜中照射到样品上，激发样品产生荧光；第二分光器(5)用于将LED光源照明光引导到显微镜中照射到样品上，对样品进行观察，同时将激发光与样品相互作用产生的荧光引导回测试...

【专利技术属性】
技术研发人员：李沫，陈飞良，张健，
申请(专利权)人：电子科技大学，
类型：发明
国别省市：四川;51