一种芯片测试压块衬套防呆设计结构制造技术

本实用新型专利技术公开一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，属于芯片测试技术领域，包括测试压块本体，所述测试压块本体的四角处皆开设有安装孔，所述测试压块本体的中间位置处开设有通槽，且通槽的内部设置有测试压头机构，所述测试压头机构的外侧设置有滑动机构。本实用新型专利技术测试压头机构外部矩形滑槽、滑杆、矩形压板、定位螺栓组成的滑动机构的设置，能够在使用的时，对测试压头机构的位置进行调整，方便对不同大小的芯片进行使用，实用性更高，定位滑孔外部纵向安装槽、横向安装槽、固定板、夹块、螺杆、双向内螺管组成的固定机构的设置，通过对双向内螺管的转动，能够控制两组弧形夹块相对运动，方便对衬套进行安装与固定，使用更加方便。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试压块衬套防呆设计结构
本技术涉及一种防呆结构，特别是涉及一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，属于芯片测试

技术介绍
集成电路芯片是包括一硅基板、至少一电路、一固定封环、一接地环及至少一防护环的电子元件，而在芯片的生产制作完成之后需要对芯片进行测试，通过测试压块与芯片的引脚接触进行检测，为确保测试的精确需要进行防呆设计，防呆是一种预防矫正的行为约束手段，运用避免产生错误的限制方法，让操作者不需要花费注意力、也不需要经验与专业知识即可直觉无误完成正确的操作；但现有的防呆结构测试压头机构位置固定，无法根据不同大小的芯片进行定位测试，实用性较低，且无法在压头初步接触时对引脚进行防护，同时对于衬套的更换较为不便，因此，本技术提出一种芯片测试压块衬套防呆设计结构以解决现有技术中存在的问题。
技术实现思路
本技术的主要目的是为了提供一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，以解决现有技术中无法对不同大小的芯片进行定位测试的问题。本技术的目的可以通过采用如下技术技术方案达到：一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：包括测试压块本体(1)，所述测试压块本体(1)的四角处皆开设有安装孔(2)，所述测试压块本体(1)的中间位置处开设有通槽(3)，且通槽(3)的内部设置有测试压头机构(4)，所述测试压头机构(4)的外侧设置有滑动机构(5)，所述通槽(3)的一侧开设有矩形限位孔(6)，且通槽(3)的另一侧开设有圆形限位孔(7)，所述测试压块本体(1)两侧的中间位置处皆开设有定位滑孔(8)，且定位滑孔(8)的内部皆套设有衬套(9)，所述测试压块本体(1)上靠接定位滑孔(8)的两侧皆设置有固定机构(10)。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：包括测试压块本体(1)，所述测试压块本体(1)的四角处皆开设有安装孔(2)，所述测试压块本体(1)的中间位置处开设有通槽(3)，且通槽(3)的内部设置有测试压头机构(4)，所述测试压头机构(4)的外侧设置有滑动机构(5)，所述通槽(3)的一侧开设有矩形限位孔(6)，且通槽(3)的另一侧开设有圆形限位孔(7)，所述测试压块本体(1)两侧的中间位置处皆开设有定位滑孔(8)，且定位滑孔(8)的内部皆套设有衬套(9)，所述测试压块本体(1)上靠接定位滑孔(8)的两侧皆设置有固定机构(10)。


2.根据权利要求1所述的一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：所述滑动机构(5)包括矩形滑槽(11)、滑杆(12)和矩形压板(13)，所述矩形滑槽(11)开设在通槽(3)的内侧，所述矩形滑槽(11)的内侧皆滑动安装有滑杆(12)，所述滑杆(12)皆与测试压头机构(4)固定连接，所述矩形滑槽(11)的内部设置有矩形压板(13)，所述测试压块本体(1)的顶部均匀安装有定位螺栓(14)，所述定位螺栓(14)皆延伸至矩形滑槽(11)的内部。


3.根据权利要求1所述的一种芯片测...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁凤国，
申请(专利权)人：成都卓芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51