一种芯片测试压块衬套防呆设计结构制造技术

本实用新型专利技术公开一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，属于芯片测试技术领域，包括测试压块本体，所述测试压块本体的四角处皆开设有安装孔，所述测试压块本体的中间位置处开设有通槽，且通槽的内部设置有测试压头机构，所述测试压头机构的外侧设置有滑动机构。本实用新型专利技术测试压头机构外部矩形滑槽、滑杆、矩形压板、定位螺栓组成的滑动机构的设置，能够在使用的时，对测试压头机构的位置进行调整，方便对不同大小的芯片进行使用，实用性更高，定位滑孔外部纵向安装槽、横向安装槽、固定板、夹块、螺杆、双向内螺管组成的固定机构的设置，通过对双向内螺管的转动，能够控制两组弧形夹块相对运动，方便对衬套进行安装与固定，使用更加方便。

【技术实现步骤摘要】
一种芯片测试压块衬套防呆设计结构
本技术涉及一种防呆结构，特别是涉及一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，属于芯片测试

技术介绍
集成电路芯片是包括一硅基板、至少一电路、一固定封环、一接地环及至少一防护环的电子元件，而在芯片的生产制作完成之后需要对芯片进行测试，通过测试压块与芯片的引脚接触进行检测，为确保测试的精确需要进行防呆设计，防呆是一种预防矫正的行为约束手段，运用避免产生错误的限制方法，让操作者不需要花费注意力、也不需要经验与专业知识即可直觉无误完成正确的操作；但现有的防呆结构测试压头机构位置固定，无法根据不同大小的芯片进行定位测试，实用性较低，且无法在压头初步接触时对引脚进行防护，同时对于衬套的更换较为不便，因此，本技术提出一种芯片测试压块衬套防呆设计结构以解决现有技术中存在的问题。
技术实现思路
本技术的主要目的是为了提供一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，以解决现有技术中无法对不同大小的芯片进行定位测试的问题。本技术的目的可以通过采用如下技术技术方案达到：一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压块本体，所述测试压块本体的四角处皆开设有安装孔，所述测试压块本体的中间位置处开设有通槽，且通槽的内部设置有测试压头机构，所述测试压头机构的外侧设置有滑动机构，所述通槽的一侧开设有矩形限位孔，且通槽的另一侧开设有圆形限位孔，所述测试压块本体两侧的中间位置处皆开设有定位滑孔，且定位滑孔的内部皆套设有衬套，所述测试压块本体上靠接定位滑孔的两侧皆设置有固定机构。优选的：所述滑动机构包括矩形滑槽、滑杆和矩形压板，所述矩形滑槽开设在通槽的内侧，所述矩形滑槽的内侧皆滑动安装有滑杆，所述滑杆皆与测试压头机构固定连接，所述矩形滑槽的内部设置有矩形压板，所述测试压块本体的顶部均匀安装有定位螺栓，所述定位螺栓皆延伸至矩形滑槽的内部。优选的：所述固定机构包括纵向安装槽、横向安装槽和固定板，所述横向安装槽开设在定位滑孔的两端，所述横向安装槽的一端与定位滑孔导通，且横向安装槽的另一端之间设置有纵向安装槽，所述横向安装槽的内部设置有固定板，且固定板靠近定位滑孔的一端皆安装有夹块，所述固定板远离夹块的一端皆固定有螺杆，两组所述螺杆之间螺纹安装有双向内螺管。优选的：所述夹块的形状皆为弧形。优选的：所述双向内螺管的外侧均匀开设有防滑纹。优选的：所述测试压头机构包括固定块、限位槽和弹簧，所述固定块的内部开设有限位槽，且限位槽的内部设置有弹簧，所述弹簧的底端固定有压头。本技术的有益效果为：本技术提供的一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，测试压头机构外部矩形滑槽、滑杆、矩形压板、定位螺栓组成的滑动机构的设置，能够在使用的时，对测试压头机构的位置进行调整，方便对不同大小的芯片进行使用，实用性更高，定位滑孔外部纵向安装槽、横向安装槽、固定板、夹块、螺杆、双向内螺管组成的固定机构的设置，通过对双向内螺管的转动，能够控制两组弧形夹块相对运动，方便对衬套进行安装与固定，使用更加方便，通过固定块、限位槽、弹簧、压头组成的测试压头机构的设置，能够在压头初步接触引脚时进行缓冲，避免接触时压力过大导致引脚的损坏。附图说明图1为本技术的仰视图；图2为本技术的俯视图；图3为本技术的俯视剖视示意图；图4为本技术的固定机构示意图；图5为本技术的测试压头机构示意图。图中：1、测试压块本体；2、安装孔；3、通槽；4、测试压头机构；5、滑动机构；6、矩形限位孔；7、圆形限位孔；8、定位滑孔；9、衬套；10、固定机构；11、矩形滑槽；12、滑杆；13、矩形压板；14、定位螺栓；15、纵向安装槽；16、横向安装槽；17、固定板；18、夹块；19、螺杆；20、双向内螺管；21、固定块；22、限位槽；23、弹簧；24、压头。具体实施方式为使本
人员更加清楚和明确本技术的技术方案，下面结合实施例及附图对本技术作进一步详细的描述，但本技术的实施方式不限于此。如图1-图5所示，本实施例提供了一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，包括测试压块本体1，测试压块本体1的四角处皆开设有安装孔2，测试压块本体1的中间位置处开设有通槽3，且通槽3的内部设置有测试压头机构4，测试压头机构4的外侧设置有滑动机构5，通槽3的一侧开设有矩形限位孔6，且通槽3的另一侧开设有圆形限位孔7，测试压块本体1两侧的中间位置处皆开设有定位滑孔8，且定位滑孔8的内部皆套设有衬套9，测试压块本体1上靠接定位滑孔8的两侧皆设置有固定机构10。在本实施例中，如图3所示，滑动机构5包括矩形滑槽11、滑杆12和矩形压板13，矩形滑槽11开设在通槽3的内侧，矩形滑槽11的内侧皆滑动安装有滑杆12，滑杆12皆与测试压头机构4固定连接，矩形滑槽11的内部设置有矩形压板13，测试压块本体1的顶部均匀安装有定位螺栓14，定位螺栓14皆延伸至矩形滑槽11的内部，需要对测试压头机构4的位置进行调节的过程中，松动定位螺栓14，矩形压板13失去对滑杆12的挤压作用，滑杆12在矩形滑槽11的内部进行位置移动，继而控制测试压头机构4的位置。在本实施例中，如图4所示，固定机构10包括纵向安装槽15、横向安装槽16和固定板17，横向安装槽16开设在定位滑孔8的两端，横向安装槽16的一端与定位滑孔8导通，且横向安装槽16的另一端之间设置有纵向安装槽15，横向安装槽16的内部设置有固定板17，且固定板17靠近定位滑孔8的一端皆安装有夹块18，固定板17远离夹块18的一端皆固定有螺杆19，两组螺杆19之间螺纹安装有双向内螺管20，衬套9放置到定位滑孔8的内部之后，转动双向内螺管20，控制螺杆19同向进行移动，继而控制两组夹块18对衬套9进行夹紧固定。在本实施例中，如图4所示，夹块18的形状皆为弧形，提高了夹块18与衬套9外侧贴合的表面积，提高夹紧效果。在本实施例中，如图4所示，双向内螺管20的外侧均匀开设有防滑纹，方便控制双向内螺管20进行转动。在本实施例中，如图5所示，测试压头机构4包括固定块21、限位槽22和弹簧23，固定块21的内部开设有限位槽22，且限位槽22的内部设置有弹簧23，弹簧23的底端固定有压头24，利用弹簧23能够降低压头24与引脚接触的压力，对引脚进行保护。如图1-图5所示，本实施例提供了一种芯片测试压块衬套防呆设计结构的工作过程如下：步骤1：将芯片放置到载板上，然后根据芯片上引脚的位置，对测试压头机构4的位置进行调节，松动定位螺栓14，矩形压板13失去对滑杆12的挤压作用，滑杆12在矩形滑槽11的内部进行位置移动，继而控制测试压头机构4的位置；步骤2：测试的过程中，载板顶部的矩形限位杆以及圆形限位板分别插在矩形限位孔6与圆形限位孔7的内部，进行预防校正，压头24与芯片引脚接触时，利用弹簧23能够降低压头24与引脚接触的压力，对引脚进行保护；步骤3：衬套9本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：包括测试压块本体(1)，所述测试压块本体(1)的四角处皆开设有安装孔(2)，所述测试压块本体(1)的中间位置处开设有通槽(3)，且通槽(3)的内部设置有测试压头机构(4)，所述测试压头机构(4)的外侧设置有滑动机构(5)，所述通槽(3)的一侧开设有矩形限位孔(6)，且通槽(3)的另一侧开设有圆形限位孔(7)，所述测试压块本体(1)两侧的中间位置处皆开设有定位滑孔(8)，且定位滑孔(8)的内部皆套设有衬套(9)，所述测试压块本体(1)上靠接定位滑孔(8)的两侧皆设置有固定机构(10)。/n

【技术特征摘要】
1.一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：包括测试压块本体(1)，所述测试压块本体(1)的四角处皆开设有安装孔(2)，所述测试压块本体(1)的中间位置处开设有通槽(3)，且通槽(3)的内部设置有测试压头机构(4)，所述测试压头机构(4)的外侧设置有滑动机构(5)，所述通槽(3)的一侧开设有矩形限位孔(6)，且通槽(3)的另一侧开设有圆形限位孔(7)，所述测试压块本体(1)两侧的中间位置处皆开设有定位滑孔(8)，且定位滑孔(8)的内部皆套设有衬套(9)，所述测试压块本体(1)上靠接定位滑孔(8)的两侧皆设置有固定机构(10)。


2.根据权利要求1所述的一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，其特征在于：所述滑动机构(5)包括矩形滑槽(11)、滑杆(12)和矩形压板(13)，所述矩形滑槽(11)开设在通槽(3)的内侧，所述矩形滑槽(11)的内侧皆滑动安装有滑杆(12)，所述滑杆(12)皆与测试压头机构(4)固定连接，所述矩形滑槽(11)的内部设置有矩形压板(13)，所述测试压块本体(1)的顶部均匀安装有定位螺栓(14)，所述定位螺栓(14)皆延伸至矩形滑槽(11)的内部。


3.根据权利要求1所述的一种芯片测...

【专利技术属性】
技术研发人员：袁凤国，
申请(专利权)人：成都卓芯科技有限公司，
类型：新型
国别省市：四川;51