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本实用新型公开一种芯片测试压块衬套防呆设计结构，属于芯片测试技术领域，包括测试压块本体，所述测试压块本体的四角处皆开设有安装孔，所述测试压块本体的中间位置处开设有通槽，且通槽的内部设置有测试压头机构，所述测试压头机构的外侧设置有滑动机构。本...
该专利属于成都卓芯科技有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过成都卓芯科技有限公司授权不得商用。

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