键盘测试装置制造方法及图纸

技术编号:2886715 阅读:204 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种键盘测试装置,它包括一对夹持元件及至少一定位装置;一灯号测试装置,用以测试该键盘中之灯号显示状态;一压按测试装置,具有系列伸缩压按元件,以该动作杆末端接触于待测键盘之按键,以伸缩动作压按按键,并以一位移机构来带动该压按测试装置平移,以依序移动压按所有的按键,再由一键盘信号连结装置,连结该按键压按信号至一判读控制机构,以判读灯号及按键压按信号是否正确,并由一警示装置于异常时发出警讯,以构成一自动测试键盘之装置。(*该技术在2018年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种键盘测试装置,尤其涉及一种自动测试电子设备键盘按键压按及灯号显示功能之装置。键盘广泛使用于各种电子设备中,以作为电子设备之控制命令或资料输入的周边设备,例如常见之个人电脑、工业控制器、收银机… …等等具信息输入功能的电子设备,因此,键盘之品质优劣及其功能是否可正常操作,将直接影响该电子设备之操作稳定性,又,在键盘中最为直接的操作单元件为按键,故按键的测试对于键盘而言,实为重要的一环。传统上,一般对于上述键盘按键的测试,是以人工方式来测试,即以人工方式逐一压按键盘中每一个按键,但费时费工,且其测试效率较低;再者,以人工逐一压按按键的测试方式,由于压按的力度大小不一,或因按键键帽表面压按受力不均,极易产生误判之情况,将使该键盘之测试品质更加恶坏,况且,在测试更多种不同型态键盘之状态下,诸如机械接点式键盘及电容薄膜式键盘,其两者压按压力间明显有差距,以公知的人工一逐一按测试,将使测试者因指尖压按力度需随时调节变动而倍感艰辛,同时,在测试过程中,亦极易因压力变化过大,而使误判的机率大幅增加,严重影响键盘产品的品质管理,这乃是目前所极待解的主要课题。本专利技术的目的在于本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种键盘测试装置,其特征在于,它包含:一对夹持元件,它分置于两端,该两夹持元件间可供容置待测键盘;一定位装置,它用以夹置固定该置于夹持元件上的待测键盘;一灯号测试装置,设于两夹持元件间之适当位置,具有若干个光感测器,以由光感测器 感测该待测键盘的显示灯是否显示正常;一压按测试装置,它包括有若干系列伸缩压按元件,每一伸缩压按元件具有一动作杆,可受该伸缩压按元件驱动作伸或缩之动作,该动作杆末端则抵触于该待测键盘之按键上,以配合该动作杆之伸或缩之动作来压按测试该待测键 盘之按键;一位移机构,它具有一移动轨道,与该待测键盘平行,并得作反复往、返之动作,并供该压按测试装置连结...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:范成青
申请(专利权)人:英群企业股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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