多型态键盘自动测试装置制造方法及图纸

多形态键盘自动测试装置，包括一对夹持元件及至少一定位装置，一形态测试模组，若干压按测试元件、旋钮测试器及灯号检测器，及一压按测试装置，具系列伸缩气动压按元件，内部连结气压源，藉由气体喷出的气压碰触压按待测键盘按键，以一位移机构带动压按测试装置平移，依序压按键盘按键，由一键盘讯号连结装置连结待测键盘按键压按讯号至一判读控制机构，以判读上述灯号及按键压按讯号是否正确，并由警示装置于判读异常时发出警讯。（*该技术在2019年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种键盘自动测试装置，尤指一种可自动测试多种按键布设型态的电子设备键按键压按、音量旋钮及灯号显示功能之装置-多型态键盘自动测试装置按，键盘已广泛应用于各种电子设备中，以作为电子设备之控制命令或资料输入之周边设备，例如常见的个人电脑、工业控制器、收银机……等具资讯输入功能之电子设备，因此，键盘之品质优劣及是否可正常操作，将直接影响该电子设备之操作稳定性，又，在于键盘中最为直接之操作单元件为按键，故按键之测试对于键盘而言，实为重要之一环。然，传统上，一般业界对于键盘按键的测试，是以人工方式，即以人工方式逐一压按键盘中的每一个按键，不但费时费工，且测试效率较低；再者，以人工逐一压按按键的测试方式，由于压按力量大小不一，或因按键键帽表面受力不均，极易产生误判的情况，使该键盘的测试品质更加恶坏，况且，在测试多种不同按键型态键盘的状态下，诸如机械接点式键盘及电容薄膜式键盘，其两者压按压力间明显有差距，以习知之人工逐一压按测试，将使测试者因指尖压按力量需随时调节变动而倍感艰辛，同时，在测试过程中，亦极易因压力变化过大，而使误判机率大幅增加，严重影响键盘产品的品质控制。此外，在习知之键盘测试中，除了上述键盘按键以人工压按测试之不便外，还在于针对不同厂牌或型态的键盘测试方面，由于设于键盘上的特殊功能按键、灯号或音量按钮之元件增加及布设位置不同，而使该键盘在测试时，测试人员必需针对各不同型态、厂牌的键盘逐一加以适应及变更测试模式，如此，势必使原先繁复不易的键盘按键测试，变得更加滞碍难行。本专利技术的主要目的，在于提供一种多型态键盘自动测试装置，以气压压按方式，自动逐一测试每一键盘的按键压按及灯号显示，节省键盘测试之人力及工时，进而提升健盘的测试效率；本专利技术的再一目的，在于提供一种多型态键盘自动测试装置，该测试压按键盘之输出压按力量，系以气压方式输出而使之达到均匀一致之效果，使各按键压按测试力量均匀，降低误判机率，以提高键盘的测试品质。本专利技术的又一目的，在于提供一种多型态键盘自动测试装置，该测试压按键盘之力量可精确经气压调整控制，以符合不同压按力量的键盘测试。本专利技术的再又一目的，在于提供一种多型态键盘自动测试装置，系具有一可更换之测试模组，可针对不同厂牌、型态之键盘上所布设的特殊功能按键、显示灯及音量旋钮等元件作对应测试元件之安排，得以针对各种不同厂牌、型态之键盘作自动测试。为达上述之目的，本专利技术提供一种多型态键盘自动测试装置，系包含一对夹持元件，系分置于两端，该两夹持元件间可供穿置待测键盘；一定位装置，系用以夹置固定该置于夹持元件上之待测键盘；一型态测试模组，设于两夹持元件间之适当位置，具有若干个压按测试元件、旋钮测试器及灯号检测器，以分别检测夹持元件上之待测键盘上之特殊功能按键、音量旋钮及显示灯；一压按测试装置，系包括有若干系列伸缩压按元件，每一伸缩压按元件具有一动作杆，可受该伸缩压按元件驱动作伸或缩之动作，该动作杆未端则分别连结一气压输出元件，以输出气体之气压方式，压触该待测键盘之按键，以气压输出动作来压按测试该待测键盘之按键；一位移机构，系具有一移动轨道，与该待测键盘平行，并得作反复往、返之动作，并供该压按测试装置连结，以使该压按测试装置得以沿待测键盘逐一平行位移，以使该压筏测试装置之每一压按元件之动作杆末端之压按元件，得以逐一对待测键盘之每一按键作压按测试；一判读控制机构，系接受该灯号测试装置之待测键盘显示灯测试信号及键盘讯号连结装置之按键压按测试信号，以判读该待测键盘之显示灯及按键压按是否动作正常；一警示装置，系受判读控制机构之驱动，以作该待测键盘之显示灯及按键动作判读异常之警示，如此形成一可针对不同厂牌、型态的键盘测试装置。本技术以气压压按方式，可自动逐一测试每一键盘的按键压按及灯号显示，节省键盘测试的人力及工时，进而提升健盘的测试效率；并且本技术具有一可更换的测试模组，可针对不同厂牌、型态键盘上所布设的特殊功能按键、显示灯及音量旋钮等元件作对应测试元件之安排，因而可以针对各种不同厂牌、型态的键盘作自动测试。同时，本技术的测试压按键盘的输出压按力量，系以气压方式输出，因而力量可达均匀一致，而使各按键压按测试力量均匀，可降低误判机率，提高键盘的测试品质。并且，由于该测试压按键盘力量可精确经气压调整控制，所以可以符合不同压按力量的键盘测试。以下结合附图及实施例对本专利技术作进一步详细说明附图说明图1系本专利技术立体外观结构图；图2系本专利技术之前视图，显示本专利技术键盘测试装置中，该键盘置于一对夹持元件间，及受定位装置夹持定位之状态；图3系本专利技术一局部前视图，系显示压按测试装置以气压碰触按键压按测试之状态；图4为一局部放大视图，系显示本专利技术中型态测试模组结构；图5为一局部放大剖视图，系显示本专利技术中型态测试模组之压按测试元件结构；图6为一局部放大视图，系显示本专利技术中压按测试装置之结构；图7为一局部放大剖视图，系显示本专利技术中之压按测试装置中之气压输出元件之结构；图8为一局部侧视图，系显示本专利技术中压按测试装置及型态测试模组对键盘按键、特殊功能按键与音量旋钮作测试之状态；图9为一局部放大图，系显示本专利技术中压按测试装置以气压压按键盘按键，及型态测试模组中旋钮测试器旋转转动音量旋钮测试之状态；图10系本专利技术中恃测键盘之实施例图；图11为一正视图，系显示本专利技术中之另一结构实施例态样；附图标号100键盘测试装置10机架11支架20、21夹持元件201、202感应器30定位装置31板片32压杆40型态测试模组41压按测试元件411作动杆412弹性组件42旋钮测试器421齿轮43灯号测试器431光感测器50压按测试装置51伸缩压按元件511动作杆512气压输出元件513压杆514固定座52定位座521垂直部522长孔523水平部524固定长孔53滑动座531连结部532凹槽512’通槽60位移机构61驱动马达62移动轨道70键盘讯号连结装置71连结插孔80判读控制机构81状态显示器811指示灯90警示装置A待测键盘A1特殊功能按键A2音量旋钮A3显示灯A4按键A5讯号线缆接头B气压管路B1气压控制元件33压盘首先请参阅图1～图3所示，本专利技术多型态键盘自动测试装置，以下称键盘测试装置，并在各相关附图中，系以编号100标示。其中，包含一机架10，其型态不拘，在本专利技术中系为以若干铝挤型之支架11搭接构成者，其中，在于该前端支架11上设有一对夹持元件20及21分别固定于两侧，该夹持元件20及21的断面形状不限，系配合待测键盘A(参阅图2及图10所示)断面形状而定，且其两者间之距离亦配合该待测键盘A之长度而定，故可经由调整该夹持元件20及21，及其两者间之距离，而使本专利技术键盘测试装置100应用于各种型态大小的待测键盘A中。另外，于该夹持元件20及21上分别设有一感应器201及211，其型态不拘，为微动开关、近接开关、光电开关等位置感应元件构成，以共同侦测感应该待测键盘A是否安置于该两个夹持元件20及21上。至少一定位装置30，其型态不拘，本实施例为气压缸元件型态所构成，设于机架10前方之支架11下方，在本实施例中，系以一板片31连结固定于机架10前方之支架11的下方，定位装置30的固定位置，亦可随上述待测键盘A型态不本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种多型态键盘自动测试装置，其特征在于，系包含：一对夹持元件，系分置于两端，该两夹持元件间可供穿置待测键盘；一定位装置，系用以夹置固定该置于夹持元件上的待测键盘；一型态测试模组，设于两夹持元件间之适当位置，具有若干个压按测试元件 、旋钮测试器及灯号检测器，以分别检测夹持元件上的待测键盘上之特殊功能按键、音量旋钮及显示灯；一压按测试装置，系包括有若干系列伸缩压按元件，每一伸缩压按元件具有一动作杆，可受该伸缩压按元件驱动作伸或缩之动作，该动作杆末端则分别连结一气压输 出元件，以输出气体之气压方式，压触该待测键盘之按键，以气压输出动作来压按测试该待测键盘之按键；一位移机构，系具有一移动轨道，与该待测键盘平行，并得作反复往、返之动作，并供该压按测试装置连结，以使该压按测试装置得以沿待测键盘逐一平行位移， 以使该压按测试装置之每一压按元件动作杆末端的压按元件，得以逐一对待测键盘之每一按键作压按测试；一键盘讯号连结装置，系用以连结上述待测键盘之讯号线缆，以检出其按键压按信号；一判读控制机构，系接受该灯号测试装置之待测键盘显示灯测试信号及 键盘讯号连结装置之按键压按测试信号，以判读该待测键盘显示灯及按键压按是否动作正常；一警示装置，系受判读控制机构驱动，以作该待测键盘显示灯及按键动作判读异常之警示。...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李衍文，
申请(专利权)人：英群企业股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]