一种基于多次曝光的三维场降噪的方法技术

本发明专利技术公开了一种基于多次曝光的三维场降噪的方法，具体涉及摄像降噪技术领域，包括以下步骤：1)多次曝光成像：连续多次曝光进行图像采集，在降噪过程中对多次成像中的同一像素点进行对比，同一个像素在多次曝光下的亮度值差异度大于该像素点周围指定采样空间下亮度差异的程度可以表达为该像素点为噪点的置信度。将图片中含有噪点处的像素进行水平排布、垂直排布及亮度值的三个维度得分析。本发明专利技术采用三维场降噪将图片中含有噪点处的像素进行水平排布、垂直排布及亮度值的三个维度得分析，通过水平排布及垂直排布确定噪点位置，通过亮度值对该位置的像素点及周边设定的空间像素点进行立体建模，分析该模型从而确定对噪点的处理，达到降噪得效果。

【技术实现步骤摘要】
一种基于多次曝光的三维场降噪的方法
本专利技术涉及线摄像降噪
，更具体地说，本专利技术涉及一种基于多次曝光的三维场降噪的方法。
技术介绍
在照片拍摄过程中，由于热噪音，电磁干扰，芯片制造工艺缺陷等条件在影像成像中不可避免地出现噪点。目前对噪点处理的手段主要靠后期对原始图像采用多值形态滤波器进行滤波处理，但这容易出现无法精确识别噪点并对原图像细节产生影响。
技术实现思路
为了克服现有技术的上述缺陷，本专利技术的实施例提供一种基于多次曝光的三维场降噪的方法，本专利技术所要解决的技术问题是：目前，主要依靠滤波处理达到降噪的效果，但会出现无法精确识别噪点、降噪后会对影像细节造成影响、算法不够精准，降噪效果差的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种基于多次曝光的三维场降噪的方法，其特征在于：包括以下步骤：1)多次曝光成像：连续多次曝光进行图像采集，在降噪过程中对多次成像中的同一像素点进行对比，同一个像素在多次曝光下的亮度值差异度大于该像素点周围指定采样空间下亮度差异的程度可以表达为该像素点为噪点的置信度；2)三维场降噪：将图片中含有噪点处的像素进行水平排布、垂直排布及亮度值的三个维度得分析；通过水平排布及垂直排布用来确定噪点的像素点位置；第三维度的亮度值基于上述两个维度的值，对该位置噪点的像素点及周边设定的空间像素点进行立体建模；通过分析该点在周围空间指定采样范围内曲面的曲率，可得到该点在本影像中的有效性，进而得知该点是否为噪点，从而确定对噪点的处理，达到降噪得效果；3)、设立噪点抑制权重为噪点置信度和重建亮度三维场该点曲率积分值的反比函数，得到过滤滤镜。优选的，所述步骤1)中，采用多次曝光成像，以便降噪处理时可以通过多次成像中的同一像素点进行对比，达到对噪点进行精准识别。本专利技术的技术效果和优点：1、本专利技术基于多次曝光的三维场降噪的方法，采用多次曝光成像连续多次曝光进行图像采集，以便降噪处理时可以通过多次成像中的同一像素点进行对比，达到对噪点进行精准识别。2、本专利技术基于多次曝光的三维场降噪的方法，采用三维场降噪将图片中含有噪点处的像素进行水平排布、垂直排布及亮度值的三个维度得分析，通过水平排布及垂直排布确定噪点位置，通过亮度值对该位置的像素点及周边设定的空间像素点进行立体建模，进一步分析该模型从而确定对噪点的处理，达到降噪得效果。附图说明图1为本专利技术的非噪点3X3空间范围内像素块及三维场建模模型；图2为本专利技术的噪点3X3空间范围内像素块及三维场建模模型。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。请参阅图1-2，本专利技术提供一种基于多次曝光的三维场降噪的方法技术方案：一种基于多次曝光的三维场降噪的方法，其特征在于：包括以下步骤：1)多次曝光成像：连续多次曝光进行图像采集，在降噪过程中对多次成像中的同一像素点进行对比，同一个像素在多次曝光下的亮度值差异度大于该像素点周围指定采样空间下亮度差异的程度可以表达为该像素点为噪点的置信度；2)三维场降噪：将图片中含有噪点处的像素进行水平排布、垂直排布及亮度值的三个维度得分析；通过水平排布及垂直排布用来确定噪点的像素点位置；第三维度的亮度值基于上述两个维度的值，对该位置噪点的像素点及周边设定的空间像素点进行立体建模；通过分析该点在周围空间指定采样范围内曲面的曲率，可得到该点在本影像中的有效性，进而得知该点是否为噪点，从而确定对噪点的处理，达到降噪得效果；3)、设立噪点抑制权重为噪点置信度和重建亮度三维场该点曲率积分值的反比函数，得到过滤滤镜。所述步骤1)中，采用多次曝光成像，以便降噪处理时可以通过多次成像中的同一像素点进行对比，达到对噪点进行精准识别。使用时，连续多次曝光进行图像采集，在降噪过程中对多次成像中的同一像素点进行对比，同一个像素在多次曝光下的亮度值差异度大于该像素点周围指定采样空间下亮度差异的程度可以表达为该像素点为噪点的置信度，将图片中含有噪点处的像素进行水平排布、垂直排布及亮度值的三个维度得分析。其中，水平排布及垂直排布用来确定噪点的像素点位置；第三维度的亮度值基于上述两个维度的值，对该位置噪点的像素点及周边设定的空间像素点进行立体建模，通过分析该点在周围空间指定采样范围内曲面的曲率，可得到该点在本影像中的有效性，进而得知该点是否为噪点。如附图1和2所示，在3X3的空间范围内进行三维立体建模，分析其曲面的曲率。结合上述两方法的结论，设立噪点抑制权重为噪点置信度和重建亮度三维场该点曲率积分值的反比函数，得到过滤滤镜。最后应说明的几点是：首先，在本申请的描述中,需要说明的是,除非另有规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,可以是机械连接或电连接,也可以是两个元件内部的连通,可以是直接相连,“上”、“下”、“左”、“右”等仅用于表示相对位置关系，当被描述对象的绝对位置改变，则相对位置关系可能发生改变；其次：本专利技术公开实施例附图中，只涉及到与本公开实施例涉及到的结构，其他结构可参考通常设计，在不冲突情况下，本专利技术同一实施例及不同实施例可以相互组合；最后：以上所述仅为本专利技术的优选实施例而已，并不用于限制本专利技术，凡在本专利技术的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本专利技术的保护范围之内。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于多次曝光的三维场降噪的方法，其特征在于：包括以下步骤：/n1)多次曝光成像：连续多次曝光进行图像采集，在降噪过程中对多次成像中的同一像素点进行对比，同一个像素在多次曝光下的亮度值差异度大于该像素点周围指定采样空间下亮度差异的程度可以表达为该像素点为噪点的置信度；/n2)三维场降噪：/n将图片中含有噪点处的像素进行水平排布、垂直排布及亮度值的三个维度得分析；/n通过水平排布及垂直排布用来确定噪点的像素点位置；/n第三维度的亮度值基于上述两个维度的值，对该位置噪点的像素点及周边设定的空间像素点进行立体建模；/n通过分析该点在周围空间指定采样范围内曲面的曲率，可得到该点在本影像中的有效性，进而得知该点是否为噪点，从而确定对噪点的处理，达到降噪得效果；/n3)、设立噪点抑制权重为噪点置信度和重建亮度三维场该点曲率积分值的反比函数，得到过滤滤镜。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于多次曝光的三维场降噪的方法，其特征在于：包括以下步骤：
1)多次曝光成像：连续多次曝光进行图像采集，在降噪过程中对多次成像中的同一像素点进行对比，同一个像素在多次曝光下的亮度值差异度大于该像素点周围指定采样空间下亮度差异的程度可以表达为该像素点为噪点的置信度；
2)三维场降噪：
将图片中含有噪点处的像素进行水平排布、垂直排布及亮度值的三个维度得分析；
通过水平排布及垂直排布用来确定噪点的像素点位置；
第三维度的亮度值基于上述两个维度的值，对该位置噪点...

【专利技术属性】
技术研发人员：樊天放，
申请(专利权)人：辽宁省视讯技术研究有限公司，
类型：发明
国别省市：辽宁;21