一种探测精度高的地下金属探测仪制造技术

本发明专利技术公开了一种探测精度高的地下金属探测仪，包括立柱、升降底板、滑动条和金属检测头，所述立柱上套有滑动套筒，所述升降底板的一端与立柱进行连接，所述升降底板上连接有驱动电机和遮光罩，所述滑动条与升降底板之间设有滑动轨道，所述滑块设置在滑动条的下方，所述滑动架安置在滑动条与滑块之间，所述金属检测头与滑块之间设有连接头，所述聚焦点检测头与金属检测头安装在一起，所述聚焦点检测头位于金属检测头的一侧。本发明专利技术能够调节升降底板的位置高度，实现升降底板的上下移动，遮光罩通过螺栓与升降底板呈可拆卸式连接，能够快速组装在一起，能够自由调节金属检测头的位置，保证金属的焦点位置正好落在物体的表面上。

【技术实现步骤摘要】
一种探测精度高的地下金属探测仪
本专利技术涉及探测仪
，具体为一种探测精度高的地下金属探测仪。
技术介绍
金属是一种具有光泽(即对可见光强烈反射)、富有延展性、容易导电、导热等性质的物质。金属的上述特质都跟金属晶体内含有自由电子有关。在自然界中，绝大多数金属以化合态存在，少数金属例如金、铂、银、铋以游离态存在。金属矿物多数是氧化物及硫化物。其他存在形式有氯化物、硫酸盐、碳酸盐及硅酸盐。金属之间的连结是金属键，因此随意更换位置都可再重新建立连结，这也是金属延展性良好的原因。金属元素在化合物中通常只显正价。相对原子质量较大的被称为重金属。但现有的金属探测仪需要通过手动进行调节，较为麻烦，且精确度较低，需要进行多次调节校准，且操作复杂，从而影响了金属检测的效率。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种探测精度高的地下金属探测仪，以解决上述
技术介绍
中提出的问题。为实现上述目的，本专利技术提供如下技术方案：一种探测精度高的地下金属探测仪，包括立柱、升降底板、滑动条和金属检测头，所述立柱呈竖直安置，所述立柱上套本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种探测精度高的地下金属探测仪，包括立柱(1)、升降底板(2)、滑动条(6)、滑动架(10)、滚轮(11)、聚焦点检测头(14)和金属检测头(13)，其特征在于：所述立柱(1)呈竖直安置，所述立柱(1)上套有滑动套筒(3)，所述升降底板(2)与立柱(1)呈垂直安置，所述升降底板(2)的一端与立柱(1)进行连接，所述升降底板(2)上连接有驱动电机(4)和遮光罩(5)，所述驱动电机(4)安装在升降底板(2)的上板面，所述遮光罩(5)连接在升降底板(2)的下板面，所述遮光罩(5)的上端连接有安装块(7)，所述安装块(7)分别位于遮光罩(5)的上端四角处，所述滑动条(6)卡放在遮光罩(5)内侧，所...

【技术特征摘要】
1.一种探测精度高的地下金属探测仪，包括立柱(1)、升降底板(2)、滑动条(6)、滑动架(10)、滚轮(11)、聚焦点检测头(14)和金属检测头(13)，其特征在于：所述立柱(1)呈竖直安置，所述立柱(1)上套有滑动套筒(3)，所述升降底板(2)与立柱(1)呈垂直安置，所述升降底板(2)的一端与立柱(1)进行连接，所述升降底板(2)上连接有驱动电机(4)和遮光罩(5)，所述驱动电机(4)安装在升降底板(2)的上板面，所述遮光罩(5)连接在升降底板(2)的下板面，所述遮光罩(5)的上端连接有安装块(7)，所述安装块(7)分别位于遮光罩(5)的上端四角处，所述滑动条(6)卡放在遮光罩(5)内侧，所述滑动条(6)与升降底板(2)之间设有滑动轨道(8)，所述滑动条(6)的一侧与滑动轨道(8)呈垂直连接，所述滑动条(6)的另一侧与滑块(9)连接在一起，所述滑块(9)设置在滑动条(6)的下方，所述滑动架(10)安置在滑动条(6)与滑块(9)之间，所述滑动架(10)的底端与滑块(9)通过螺栓固定在一起，所述滑动架(10)的顶端卡放在滑动条(6)的凹槽内，所述滚轮(11)设置在滑动架(10)上，所述金属检测头(13)连接在滑块(9)的下方，所述金属检测头(13)与滑块(9)之间设有连接头(12)，所述聚焦点检测头(14)与金属检测头(13)安装在一起，所述聚焦点检测头...

【专利技术属性】
技术研发人员：吴亚玲，
申请(专利权)人：吴亚玲，
类型：发明
国别省市：湖南;43