三维测量设备制造技术

技术编号:28753851 阅读:16 留言:0更新日期:2021-06-09 10:19
一种三维测量设备,包括照明系统(I)和成像系统(II);照明系统包括沿着照明光路的光源(8)、光束整形装置(8)、图案调制装置(6)和投影镜头(2)。图案调制装置用于形成编码图案,光束整形装置用于将光源发出的光正形成近平行光,投影镜头用于将编码图案透射到目标物体上。成像系统包括沿着成像光路的成像镜头(3)、第一分光系统(12,13)、以及包括N个图像传感器(9,10,11)的图像传感器组。第一分光系统用于将成像镜头接收到的投射到目标物体上的编码图案传输到图像传感器组的N个图像传感器形成图像信号。由此获得结构紧凑的、能实现单帧多光谱测量的三维测量设备。测量的三维测量设备。测量的三维测量设备。测量的三维测量设备。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】

【技术保护点】

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员:ꢀ七四专利代理机构
申请(专利权)人:成都频泰鼎丰企业管理中心有限合伙
类型:发明
国别省市:

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