用于透明或半透明材料曲面的测量系统技术方案

一种用于透明或半透明材料曲面的测量系统(1)，包括：表面处理装置(10)、三维测量装置(20)和第二传送装置；表面处理装置(10)用于对透明或半透明材料的表面进行霜化或雾化，形成霜化或雾化表面，即在透明或半透明材料的表面形成均匀的霜或雾；三维测量装置(20)用于对霜化或雾化后的透明或半透明材料的表面进行三维测量，从而获取测量数据；第二传送装置用于将表面霜化或雾化后的材料传送到三维测量装置(20)。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】用于透明或半透明材料曲面的测量系统
本专利技术涉及测量系统，尤其涉及一种用于透明或半透明材料曲面的测量系统。
技术介绍
对透明或半透明材料(例如透明玻璃)面型的检测，现有的第一种方法是用干涉方法检，但这需要特定的面型，而且对检测环境要求非常高，难以用在工业在线检；第二种方法是接触检，如轮廓仪或三坐标，用这类方法虽然精度很高，效率很低；第三种方法是采用共焦方法实现，但共焦方法检受角度限制，且多是采用线扫的方式，效率很低。特别的，对于第二、三种方法，都需要高精度多维平台配合，对平台要求到微米级精度，且长期使用，稳定性可靠性是存在风险的。第四种方法是结构光三维测量方法，该方法本身具有快速、高效、高精度的特点，但是，结构光测量目前只能对漫反射目标有较好效果，对这种透明或半透明目标却存在较大的局限性；现有的改进方案是对镜面喷粉改性，比如德国GOM公司就是采用喷粉方式测量玻璃曲面。喷粉是可以使玻璃表面成为漫反射面的，但是，粉层的厚度和均匀性很难控制得好，而且粉的清洁也是个麻烦的问题。
技术实现思路
为克服上述技术问题，本专利技术提供了一种用于透明或半透本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于透明或半透明材料(例如玻璃面板)曲面的测量系统，其特征在于，包括：表面处理装置、三维测量装置和第二传送装置；所述表面处理装置用于对所述材料的表面进行霜化或雾化，形成霜化或雾化表面，即在所述材料的表面形成均匀的霜或雾；所述三维测量装置(例如结构光三维测量装置)用于对霜化或雾化后的所述材料的表面进行三维测量(例如通过投射结构光并拍摄结构光在曲面形成的图案的方式进行三维测量)，从而获取测量数据；所述第二传送装置用于将表面霜化或雾化后的材料传送到所述三维测量装置。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20181015 CN 2018111950275一种用于透明或半透明材料(例如玻璃面板)曲面的测量系统，其特征在于，包括：表面处理装置、三维测量装置和第二传送装置；所述表面处理装置用于对所述材料的表面进行霜化或雾化，形成霜化或雾化表面，即在所述材料的表面形成均匀的霜或雾；所述三维测量装置(例如结构光三维测量装置)用于对霜化或雾化后的所述材料的表面进行三维测量(例如通过投射结构光并拍摄结构光在曲面形成的图案的方式进行三维测量)，从而获取测量数据；所述第二传送装置用于将表面霜化或雾化后的材料传送到所述三维测量装置。


根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述表面处理装置包括容纳所述透明或半透明材料(或材料表面)的第一冷却仓、霜化室，所述测量系统还包括第一传送装置；所述第一冷却仓用于对未霜化的材料(或材料表面)进行冷却，所述第一传送装置用于将冷却后的材料传送到所述霜化室；在所述霜化室中，所述透明或半透明材料的表面霜化。


根据权利要求2所述的测量系统，其特征在于，所述第一冷却仓中的温度被设置为T
c1，所述霜化室中的温度被设置为T
1，湿度被设置为H
1，所述透明或半透明材料(或材料表面)在霜化室的霜化时间被控制在t
1时间内；t
1为30秒，更优选的t
1为10秒。



根据权利要求1所述的测量系统，其特征在于，所述表面处理装置包括容纳所述透明或半透明材料(或材料表面)的第二冷却仓、雾化室，所述测量系统还包括第一传送装置；所述第二冷却仓用于对未雾化的材料(或材料表面)进行冷却，所述第一传送装置用于将冷却后的材料传送到所述雾化室；在所述雾化室中，所述透明或半透明材料的表面雾化。


根据权利要求4所述的测量系统，其特征在于，所述第二冷...

【专利技术属性】
技术研发人员：向贤毅，吴明军，
申请(专利权)人：成都频泰鼎丰企业管理中心有限合伙，
类型：发明
国别省市：四川;51