备用电路分派方法、装置、设备及介质制造方法及图纸

技术编号:28717414 阅读:28 留言:0更新日期:2021-06-06 02:30
本申请涉及一种备用电路分派方法、装置、设备及介质,所述方法包括:执行第一测试项目,获取第一测试数据;根据第一测试数据确定包括已分派的地域备用电路的数量和对应的位置数据的第一次备用电路分派结果;执行第二测试项目,获取第二测试数据;当执行第二测试项目期间获取的失效位元包括已分派的地域备用电路及已分派的全域备用电路的修补范围之外的失效位元,且已分派完可分派的地域备用电路时,基于第一测试数据和第二测试数据获取处于目标子域及关联子域的失效位元的目标位置数据;根据目标位置数据第一测试数据和第二测试数据确定第二次备用电路分派结果,以提高备用电路的利用效率及存储芯片良率。路的利用效率及存储芯片良率。路的利用效率及存储芯片良率。

【技术实现步骤摘要】
备用电路分派方法、装置、设备及介质


[0001]本申请涉及半导体
,具体涉及一种备用电路分派方法、装置、设备及介质。

技术介绍

[0002]随着半导体存储技术的快速发展,市场对半导体存储装置的存储性能与可靠性提出了更高的要求。半导体存储装置中记忆单元的数量及密度不断增加,导致半导体存储装置中失效位元的总数及相对于记忆单元总数的百分比不断增加,影响半导体存储装置的存储性能与可靠性。
[0003]在半导体存储装置的存储阵列区预先增设预定数量的备用电路,利用备用电路调换具有失效位元的地址线,对具有失效位元的半导体存储装置进行修补,可以有效地提高半导体存储装置的存储性能与可靠性。
[0004]如何在半导体存储装置中可利用的备用电路的数量已知的情况下,确定备用电路分派修补方案,在保证所有失效位元均能够被修补的前提下,提高备用电路的利用效率,成为进一步提高半导体存储装置的存储性能与可靠性过程中亟待解决的技术难题之一。

技术实现思路

[0005]基于此,有必要针对上述
技术介绍
中的技术问题,提供一种备用电路分派方法、装置、本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种备用电路分派方法,其特征在于,包括:执行第一测试项目并获取第一测试数据,所述第一测试数据包括执行第一测试项目期间获取的失效位元的位置数据;根据所述第一测试数据确定第一次备用电路分派结果,所述第一次备用电路分派结果包括已分派的地域备用电路的数量和对应的位置数据;执行第二测试项目并获取第二测试数据,所述第二测试数据包括执行第二测试项目期间获取的失效位元的位置数据;当执行第二测试项目期间获取的失效位元包括已分派的地域备用电路及已分派的全域备用电路的修补范围之外的失效位元,且已分派的地域备用电路的数量等于可分派的地域备用电路的数量时,基于所述第一测试数据和所述第二测试数据获取处于目标子域及关联子域的失效位元的目标位置数据,并根据所述目标位置数据确定第二次备用电路分派结果,其中,所述目标子域为所述修补范围之外的失效位元所处的子域。2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,在执行第一测试项目并获取第一测试数据的步骤之前,还包括:获取预设子域内可分派的地域备用电路的数量及可分派的全域备用电路的数量。3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于:所述地域备用电路的延伸方向与位线的延伸方向一致;所述全域备用电路的延伸方向与字线的延伸方向一致。4.根据权利要求2或3所述的方法,其特征在于,在根据所述第一测试数据确定第一次备用电路分派结果的步骤之后,且在执行第二测试项目并获取第二测试数据的步骤之前,还包括:获取第一累计失效位元位置数据,所述第一累计失效位元位置数据包括在各已执行的测试项目期间获取的失效位元的位置数据之和;获取第一备用电路分派累计结果,所述第一备用电路分派累计结果包括在各已执行的测试项目之后已分派的地域备用电路的数量和对应的位置数据之和,以及已分派的全域备用电路的数量和对应的位置数据之和。5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,在根据所述第一测试数据确定第一次备用电路分派结果的步骤之后,且在执行第二测试项目并获取第二测试数据的步骤之前,还包括:获取第一测试项目的名称;生成第一累计失效位元位置结果,所述第一累计失效位元位置结果包含所述第一测试项目的名称及所述第一累计失效位元位置数据。6.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述基于所述第一测试数据和所述第二测试数据获取处于目标子域及关联子域的失效位元的目标位置数据,包括:根据所述第一备用电路分派累计结果和所述第二测试数据,查找已分派的地域备用电路及已分派的全域备用电路的修补范围之外的失效位元的关联失效位元,及所述的关联失效位元所处的关联子域;所述关联失效位元为与所述修补范围之外的失效位元处于同一区域且在同一字线的失效位元;根据所述第一累计失效位元位置数据和所述第二测试数据,获取处于所述目标子域及
关联子域的失效位元的目标位置数据。7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,在执行第二测试项目并获取第二测试数据的步骤之后,还包括:获取第二累计失效位元位置数据,所述第二累计失效位元位置数据为所述第一累计失效位元位置数据与执行第二测试项目期间获取的失效位元的位置数据之和;获取第二测试项目的名称;生成第二累计失效位元位置结果,所述第二累计失效位元位置结果包含第二测试项目的名称及第二累计失效位元位置数据。8.根据权利要求7所述的方法,其特征在于,在执行第二测试项目并获取第二测试数据的步骤之后,还包括:根据所述...

【专利技术属性】
技术研发人员:陈予郎
申请(专利权)人:长鑫存储技术有限公司
类型:发明
国别省市:

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