一种半导体发光二极管检测设备制造技术

本实用新型专利技术公开了一种半导体发光二极管检测设备，包括底座，还包括：整流器，所述整流器可拆卸设置于底座的顶部；机架，所述机架可拆卸设置于底座的顶部，且整流器处于机架内侧；检测机构，所述检测机构可拆卸设置于机架的顶部。所述检测机构包括：外壳，所述外壳可拆卸设置于机架的顶部，且外壳的内壁沿周向均开设有滑道；制动组件，所述制动组件可拆卸设置于外壳的左侧壁顶部；螺杆，所述螺杆的两端通过轴承分别转动连接于外壳的左右内壁中心位置。该半导体发光二极管检测设备，对视力要求不高，也不用手握电笔，避免工作人员过度劳累，便于发光二极管与电源连接，提高检测效率，大大的满足了发光二极管的检测需求。大的满足了发光二极管的检测需求。大的满足了发光二极管的检测需求。

【技术实现步骤摘要】
一种半导体发光二极管检测设备


[0001]本技术涉及半导体制造
，具体为一种半导体发光二极管检测设备。

技术介绍

[0002]发光二极管简称LED。当电子与空穴复合时能辐射出可见光，因而可以用来制成发光二极管。在电路及仪器中作为指示灯，或者组成文字或数字显示。砷化镓二极管发红光，磷化镓二极管发绿光，碳化硅二极管发黄光，氮化镓二极管发蓝光。因化学性质又分有机发光二极管OLED和无机发光二极管LED；
[0003]无论哪种发光二极管，在出厂前都需要对其进行检测，通过能否发光判断其好坏。检测时，工作人员拿起万用表的两只电笔分别与两个发光二极管的引脚接触，表有读数，且二极管发光，即为合格的发光二极管。由于二极管较小，工作人员长时间肉眼工作会造成眼疲劳，手部酸痛，检测效率低，因此，有必要提出一种发光二极管检测设备。

技术实现思路

[0004]本技术的目的在于提供一种半导体发光二极管检测设备，以至少解决现有技术手动检测发光二极管费时费力，容易造成工作人员身体疲劳，检测效率低下的问题。
[0005]为实现上述目的，本技术提供如下技术方案：一种半导体发光二极管检测设备，包括底座，还包括：
[0006]整流器，所述整流器可拆卸设置于底座的顶部；
[0007]机架，所述机架可拆卸设置于底座的顶部，且整流器处于机架内侧；
[0008]检测机构，所述检测机构可拆卸设置于机架的顶部；
[0009]所述检测机构包括：
[0010]外壳，所述外壳可拆卸设置于机架的顶部，且外壳的内壁沿周向均开设有滑道；
[0011]制动组件，所述制动组件可拆卸设置于外壳的左侧壁顶部；
[0012]螺杆，所述螺杆的两端通过轴承分别转动连接于外壳的左右内壁中心位置，且螺杆的端部延伸出外壳的外壁；
[0013]摩擦片，所述摩擦片可拆卸设置于螺杆的一端，且外壁呈圆形；
[0014]旋钮，所述旋钮可拆卸设置于螺杆的另一端；
[0015]移动块，两个所述移动块分别螺接于螺杆的外壁中部左右两侧；
[0016]滑块，若干个所述滑块沿周向设置于移动块的外壁，且可左右移动的内嵌于滑道的内腔；
[0017]接触组件，所述接触组件可拆卸设置于移动块的前侧，且前侧延伸出外壳的内腔；
[0018]刻度尺，所述刻度尺粘接于外壳的前侧右下角。
[0019]优选的，所述螺杆的外壁左右两侧螺纹为正反螺纹。
[0020]优选的，所述制动组件包括：支撑板，所述支撑板可拆卸设置于外壳的左侧顶部；导杆，两个所述导杆分别上下贯穿的内嵌于支撑板的内腔顶部前后两侧；第一弹簧，所述第
一弹簧套接于导杆的外壁；拉柄，所述拉柄可拆卸设置于导杆的顶端；刹车片，所述刹车片可拆卸设置于导杆的底端，且在第一弹簧的作用下刹车片与摩擦片接触对螺杆制动。
[0021]优选的，所述刹车片的底部呈弧形，且与摩擦片相匹配。
[0022]优选的，所述接触组件包括：绝缘筒，所述绝缘筒可拆卸设置于移动块的前侧；第二弹簧、金属触点，所述第二弹簧和金属触点从后至前内嵌于绝缘筒的内腔，所述第二弹簧的一端与绝缘筒的内腔后端卡接，且另一端与金属触点后端卡接，所述金属触点与整流器电性连接。
[0023]优选的，所述绝缘筒的内径从前至后逐渐变小。
[0024]与现有技术相比，本技术的有益效果是：该半导体发光二极管检测设备，通过制动组件可使刹车片上下移动，实现螺杆的自由转动与制动，通过螺杆、移动块和滑块的配合可使两个绝缘筒同时向内或向外侧移动，根据发光二极管的规格改变两个绝缘筒之间的间距，可使发光二极管的引脚插入接触组件，利用接触组件为发光二极管通电，进而判断发光二极管的好与坏，从而在发光二极管检测时，对视力要求不高，也不用手握电笔，避免工作人员过度劳累，便于发光二极管与电源连接，提高检测效率，大大的满足了发光二极管的检测需求。
附图说明
[0025]图1为本技术结构示意图；
[0026]图2为图1中的检测机构正面剖视图；
[0027]图3为图2的右侧剖视图；
[0028]图4为图1中的制动组件结构示意图。
[0029]图中：1、底座，2、整流器，3、机架，4、检测机构，41、外壳，42、滑道，43、制动组件，431、支撑板，432、导杆，433、第一弹簧，434、拉柄， 435、刹车片，44、螺杆，45、摩擦片，46、旋钮，47、移动块，48、滑块，49、接触组件，491、绝缘筒，492、第二弹簧，493、金属触点，410、刻度尺。
具体实施方式
[0030]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本技术保护的范围。
[0031]请参阅图1
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4，本技术提供一种技术方案：一种半导体发光二极管检测设备，包括底座1，还包括整流器2、机架3和检测机构4，整流器2可拆卸设置于底座1的顶部，整流器2可将交流电转化为直接电，为发光二极管提供工作电能，机架3可拆卸设置于底座1的顶部，且整流器2处于机架3内侧，检测机构4可拆卸设置于机架3的顶部；
[0032]检测机构4包括外壳41、滑道42、制动组件43、螺杆44、摩擦片45、旋钮46、移动块47、滑块48、接触组件49和刻度尺410，外壳41可拆卸设置于机架3的顶部，且外壳41的内壁沿周向均开设有滑道42，滑道42为三个，且三个滑道42按顺时针每隔120度分布于外壳41的内壁，通过滑道42与滑块48 的配合可从三个方向对移动块47限位，提高移动块47水平移动
的稳定性，制动组件43可拆卸设置于外壳41的左侧壁顶部，螺杆44的两端通过轴承分别转动连接于外壳41的左右内壁中心位置，且螺杆44的端部延伸出外壳41的外壁，摩擦片45可拆卸设置于螺杆44的一端，且外壁呈圆形，旋钮46可拆卸设置于螺杆44的另一端，旋钮46外壁设置有防滑棱，避免旋拧旋钮46时出现打滑，两个移动块47分别螺接于螺杆44的外壁中部左右两侧，移动块47用于绝缘筒 491的支撑，若干个滑块48沿周向设置于移动块47的外壁，且可左右移动的内嵌于滑道42的内腔，接触组件49可拆卸设置于移动块47的前侧，且前侧延伸出外壳41的内腔，刻度尺410粘接于外壳41的前侧右下角，刻度尺410的零点与外壳41的中心点在同一直线上，绝缘筒491中心点所对应刻度尺410上刻度的两倍，即为两个绝缘筒491之间的发光二极管引脚宽度。
[0033]作为优选方案，更进一步的，螺杆44的外壁左右两侧螺纹为正反螺纹，当螺杆44顺时针或逆时针旋转时，螺杆44螺纹旋转力可驱动两个移动块47同时向内或向外侧移动。
[0034]作为优选方案，更进一步的，制动组件43包括本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种半导体发光二极管检测设备，包括底座(1)，其特征在于，还包括：整流器(2)，所述整流器(2)可拆卸设置于底座(1)的顶部；机架(3)，所述机架(3)可拆卸设置于底座(1)的顶部，且整流器(2)处于机架(3)内侧；检测机构(4)，所述检测机构(4)可拆卸设置于机架(3)的顶部；所述检测机构(4)包括：外壳(41)，所述外壳(41)可拆卸设置于机架(3)的顶部，且外壳(41)的内壁沿周向均开设有滑道(42)；制动组件(43)，所述制动组件(43)可拆卸设置于外壳(41)的左侧壁顶部；螺杆(44)，所述螺杆(44)的两端通过轴承分别转动连接于外壳(41)的左右内壁中心位置，且螺杆(44)的端部延伸出外壳(41)的外壁；摩擦片(45)，所述摩擦片(45)可拆卸设置于螺杆(44)的一端，且外壁呈圆形；旋钮(46)，所述旋钮(46)可拆卸设置于螺杆(44)的另一端；移动块(47)，两个所述移动块(47)分别螺接于螺杆(44)的外壁中部左右两侧；滑块(48)，若干个所述滑块(48)沿周向设置于移动块(47)的外壁，且可左右移动的内嵌于滑道(42)的内腔；接触组件(49)，所述接触组件(49)可拆卸设置于移动块(47)的前侧，且前侧延伸出外壳(41)的内腔；刻度尺(410)，所述刻度尺(410)粘接于外壳(41)的前侧右下角。2.根据权利要求1所述的一种半导体发光二极管检测设备，其特征在于：所述螺杆(44)的外壁左右两侧螺纹为正反...

【专利技术属性】
技术研发人员：ꢀ七四专利代理机构，
申请(专利权)人：苏州奥肯思电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：