本实用新型专利技术公开了一种小型方块电阻测试装置，包括万用电表和测试盒，万用电表包括第一测试表笔和第二测试表笔，测试盒为绝缘体且为中空的腔体结构，测试盒顶部设有上下贯通的测试孔，两个测试孔间隔一定距离设置，测试盒底部设有上下贯通的通槽，两个通槽分别设在两个测试孔下方，测试盒内设有通过弹性件挂设的测试体，测试体为导电体，两个测试体分别设在两个测试孔下方，每一测试体顶部设有向下的凹槽，底部设有测试件，测试件与通槽位置相对，将第一测试表笔和第二测试表笔分别从两个测试孔穿过，分别按压两个凹槽，使两个测试体下降，进而使两个测试体分别穿过两个通槽，接触导电薄膜，结构简单，轻便小巧，使用方便。使用方便。使用方便。
【技术实现步骤摘要】
一种小型方块电阻测试装置
[0001]本技术涉及电学测试
，具体涉及一种小型方块电阻测试装置。
技术介绍
[0002]方块电阻是衡量导体导电性的电学参数之一，方块电阻的大小与样品长宽尺寸无关，其定义为任意大小的正方形导体边到边的电阻，方块电阻仅与导电膜的厚度和电阻率有关。常用于衡量薄膜膜层的导电性能。在导电薄膜及半导体领域较为常见。
[0003]常见的方块电阻的电阻测试方法为四探针法，该方法精度较高但是测试步骤繁琐，测试需要专门的仪器，价格昂贵且不便携，对于此方面测试要求精度不高的场合而言其效率和实用性较低。
技术实现思路
[0004]根据现有技术的不足，本技术的目的是提供一种小型方块电阻测试装置，配合万用电表即可测试方块电阻参数，结构简单，轻便小巧，使用方便。
[0005]为了解决上述技术问题，本技术采用的技术方案为：
[0006]一种小型方块电阻测试装置，包括万用电表和测试盒，所述万用电表包括第一测试表笔和第二测试表笔，所述测试盒为绝缘体且为中空的腔体结构，所述测试盒顶部设有上下贯通的测试孔，两个测试孔间隔一定距离设置，所述测试盒底部设有上下贯通的通槽，两个通槽分别设在两个测试孔下方，所述测试盒内设有通过弹性件挂设的测试体，所述测试体为导电体，两个测试体分别设在两个测试孔下方，每一所述测试体顶部设有向下的凹槽，底部设有测试件，两个所述测试孔分别与两个所述凹槽上下位置相对应，两个所述测试件分别与两个所述通槽上下位置相对应，将第一测试表笔和第二测试表笔分别从两个测试孔穿过，分别按压两个凹槽，使两个测试体下降，进而使两个测试体分别穿过两个通槽，接触导电薄膜。
[0007]进一步地，所述测试体包括接触件，所述凹槽设在所述接触件顶部，所述测试件设在所述接触件底部且与所述接触件一体成型呈“T”字形。
[0008]进一步地，所述测试件顶部相对于所述接触件对称设有挂耳，每一所述挂耳通过所述弹性件与所述测试盒连接。
[0009]进一步地，所述测试盒内相对于所述接触件固定有两根挂杆，所述弹性件为弹簧，所述弹性件一端挂设在所述挂杆上，另一端挂设在所述挂耳上。
[0010]进一步地，所述测试盒内设有两个限位腔，每一所述接触件穿过一个所述限位腔，通过所述限位腔限制所述接触件在竖直方向上下移动。
[0011]进一步地，所述测试件的底部为细线状。
[0012]进一步地，每一所述测试件底部的长度和两个所述测试件底部的间距相等。
[0013]进一步地，所述测试盒底面为平滑面。
[0014]与现有技术相比，本技术具有以下优点和有益效果：
[0015]1.本技术所述的一种小型方块电阻测试装置，配合万用电表即可快速测试方块电阻参数，相比于四探针法，结构简单，轻便小巧，测试步骤简单，使用方便。
[0016]2.本技术所述的一种小型方块电阻测试装置，测试时，第一测试表笔和第二测试表笔分别从两个测试孔中插入，通过在通槽内的测试体与导电薄膜接触，可有效避免探针划伤导电薄膜。
[0017]3.本技术所述的一种小型方块电阻测试装置，在测试完毕后，撤去万用电表第一测试表笔和第二测试表笔，测试体会因为弹性件的弹性作用，缩回到测试盒内，使得在不使用本装置时，作为绝缘体的测试盒可以充分保护测试体，防止测试体损坏，且不影响其他设备。
附图说明
[0018]图1为本技术的整体结构示意图。
[0019]图2为本技术一个角度的爆炸示意图。
[0020]图3为本技术另一个角度的爆炸示意图。
[0021]图4为本技术一个实施例中测试体的结构示意图。
[0022]图5为本技术另一个实施例中测试体的结构示意图。
[0023]其中：1、测试盒；11、测试孔；12、通槽；2、测试体；21、接触件；211、凹槽；22、测试件；23、挂耳；3、弹性件；4、挂杆；5、限位腔。
具体实施方式
[0024]下面将结合本技术实施例中的附图，对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述。
[0025]本申请实施例通过提供一种小型方块电阻测试装置，解决了现有技术中采用四探针法测试方块电阻阻值，步骤繁琐且造价高的问题，利用简单的装置和万用表组合实现方块电阻阻值的测量结构简单，轻便小巧，测试步骤简单，使用方便。
[0026]本申请实施例中的技术方案为解决上述问题，总体思路如下：
[0027]一种小型方块电阻测试装置，参照图1
‑
图4所示，包括万用电表和测试盒1，万用电表包括第一测试表笔和第二测试表笔，测试盒1为绝缘体且为中空的矩形腔体结构，测试盒1 顶部设有上下贯通的测试孔11，测试孔11为方形孔，两个测试孔11间隔一定距离设置，方便第一测试表笔和第二测试表笔的插入，测试盒1底部设有上下贯通的通槽12，两个通槽12 分别设在两个测试孔11下方，测试盒1内设有通过弹性件3挂设的测试体2，测试体2为导电体，两个测试体2分别设在两个测试孔11下方，每一测试体2顶部设有向下的凹槽211，底部设有测试件22，两个测试孔11分别与两个凹槽211上下位置相对应，两个测试件22分别与两个通槽12上下位置相对应。在使用过程中，两个测试体2的底部与导电薄膜接触面宽度极窄，可近似为线接触，每一测试件22底部的长度和两个测试件底部22的间距相等，使得两个测试体2底部两线长与两线宽相同，两个测试体2底部在导电薄膜上围成正方形，此时万用电表测试的是正方形导体边到边的电阻，即方块电阻。
[0028]在本装置的使用过程中，将测试盒1放置在导电薄膜上，将万用电表调节到欧姆档，将第一测试表笔和第二测试表笔分别从两个测试孔11中插入，使第一测试表笔和第二
测试表笔分别接触到两个凹槽211，使第一测试表笔和第二测试表笔分别按压两个凹槽211，使两个测试体2下降，进而使两个测试体2的底部分别穿过两个通槽12，接触到导电薄膜，由于两个测试体2为导电体，测试盒1为绝缘体，第一测试表笔、第二测试表笔、两个测试体2和导电薄膜间形成一个回路，使得万用表笔测得导电薄膜的方块电阻阻值。另外，测试时，第一测试表笔和第二测试表笔分别从两个测试孔11中插入，通过在通槽12内的测试体2与导电薄膜接触，可有效避免探针划伤导电薄膜，由于测试盒1为绝缘体，可以减少触电的可能性。在测试完毕后，撤去万用电表第一测试表笔和第二测试表笔，测试体2会因为弹性件3的弹性作用，缩回到测试盒1内，使得在不使用本装置时，作为绝缘体的测试盒1可以充分保护测试体2，防止测试体2损坏，且不影响其他设备。
[0029]在一个实施例中，参照图4所示，测试件22为三棱柱结构，测试件22的底部为细线状。
[0030]在另一个实施例中，参照图5所示，测试件22为半圆柱结构，测试件22的底部为细线状。
[0031]参照图4和图5所示，测试体2包括接触件21，接触件21为方形柱体结构，凹槽211 设在接触本文档来自技高网...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种小型方块电阻测试装置，其特征在于：包括万用电表和测试盒，所述万用电表包括第一测试表笔和第二测试表笔，所述测试盒为绝缘体且为中空的腔体结构，所述测试盒顶部设有上下贯通的测试孔，两个测试孔间隔一定距离设置，所述测试盒底部设有横向设置的通槽，两个通槽分别设在两个测试孔下方，所述测试盒内设有通过弹性件挂设的测试体，所述测试体为导电体，两个测试体分别设在两个测试孔下方，每一所述测试体顶部设有向下的凹槽，底部设有测试件，两个所述测试孔分别与两个所述凹槽上下位置相对应，两个所述测试件分别与两个所述通槽上下位置相对应。2.根据权利要求1所述的小型方块电阻测试装置，其特征在于：所述测试体包括接触件，所述凹槽设在所述接触件顶部，所述测试件设在所述接触件底部且与所述接触件一体成型呈“T”字形。3.根据权利要求2所述的小型方块电阻测试装置，其...
【专利技术属性】
技术研发人员：许扬，施伟利，
申请(专利权)人：黄冈师范学院，
类型：新型
国别省市：
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