一种人工耳蜗植入体的失效分析方法技术

本发明专利技术提供了一种人工耳蜗植入体的失效分析方法。该人工耳蜗植入体失效分析方法包括：ID遥测、阻抗遥测、顺应性测试及刺激输出的测试。本发明专利技术提供的人工耳蜗植入体的失效分析方法，旨在解决现有人工耳蜗耳蜗植入体失效分析方法的失效原因定位难、定位不准的问题，有效提升人工耳蜗植入体产品量产的合格率。

【技术实现步骤摘要】
一种人工耳蜗植入体的失效分析方法
本专利技术涉及人工耳蜗植入体
，具体而言，涉及一种人工耳蜗植入体的失效分析方法。
技术介绍
目前，人工耳蜗植入体在使用或生产过程中时有发生失效，需要定位失效原因。由于人工耳蜗植入体的构成组件多，不同组件的失效需要不同的分析技术，由此面临人工耳蜗失效分析原因定位难、定位不准的问题。
技术实现思路
鉴于此，本专利技术提出了一种人工耳蜗植入体失效分析方法，旨在解决现有人工耳蜗植入体失效分析中失效原因定位难、定位不准的问题。本专利技术提出了一种人工耳蜗植入体的失效分析方法，包括如下步骤：对人工耳蜗植入体的电性能进行分析，上述电性能的分析过程包括对ID遥测、阻抗遥测、顺应性测试及刺激输出的测试过程。进一步地，上述ID遥测、阻抗遥测、顺应性测试及刺激输出测试的测试过程包括如下步骤：执行ID遥测，如果测试结果正常，结束，如果测试结果异常，继续以下测试；执行阻抗遥测，将人工耳蜗植入体电极置于生理盐水中，如果阻抗遥测结果大于等于20000Ω，判定植入体电极开路，或将植入体电极置于空气中，如果阻抗遥测结果小于等于20000Ω，判定植入体电极存在短路情况；执行顺应性测试，测试幅度设置为255cl，将人工耳蜗植入体电极置于生理盐水中，如果测试电流为0或小于1500μA,表示植入体顺应性测试异常，判定芯片或电极存在开路或半开路状态，或将植入体电极置于空气中，如果测试电流大于50μA,判定芯片或电极存在短路情况；执行刺激输出测试，测量电极输出的信号幅度，通过信号幅度判断人工耳蜗植入体的正向解码电路是否存在故障。进一步地，上述失效分析方法还包括对人工耳蜗植入体进行扫频分析以判断植入体谐振电路是否存在故障。进一步地，上述失效分析方法还包括通过漏电流分析定位人工耳蜗植入体电极是否存在短路，上述漏电流分析方法包括如下步骤：人工耳蜗植入体电极置于空气中，其他部位浸入生理盐水中，执行顺应性测试，通过顺应性测试结果，分析人工耳蜗植入体内部是否存在短路情况，如果是，结束漏电流分析，否则，继续以下测试；人工耳蜗植入体所有电极置于生理盐水中，在调试软件中执行顺应性测试，通过顺应性测试结果，对人工耳蜗植入体顺应性输出电流进行判断分析，如正常，结束漏电流分析，否则，继续以下测试；人工耳蜗植入体电极编号为初始值到特定数值的电极置于空气中，特定数值大于初始值且小于电极总数，执行顺应性测试，通过顺应性测试结果，分析植入体编号为初始值到特定数值的号电极是否与其他电极存在短路情况，如果是，结束漏电流分析，否则，继续以下测试；人工耳蜗植入体电极编号为初始值到特定数值加增量数值的电极置于空气中，增量数值大于1且小于电极总数，执行顺应性测试，通过顺应性测试结果，分析植入体电极编号为初始值到特定数值加增量数值的电极是否与其他电极存在短路情况，如果是，结束漏电流分析，否则，继续在此基础上按照增量数值增加电极，并对电极编号为初始值到特定数值加整数倍的增量数值的电极执行顺应性测试，直到剩余电极数量不够增量数值时，执行以下测试；人工耳蜗植入体电极编号为初始值到电极总数号电极置于空气中，执行顺应性测试，通过顺应性测试结果，分析人工耳蜗植入体除电极外的其他部位是否存在短路情况。进一步地，上述失效分析方法还包括循环测试的步骤，上述循环测试的方法包括：每次将人工耳蜗植入体依次置于90℃-100℃水浴和80℃-90℃烘箱进行40-50小时存储试验，每次结束后进行电性能测试及比较数据，通过数据判断植入体是否受水气影响，上述步骤重复2-3次。进一步地，上述失效分析方法还包括解剖分析，解剖分析的步骤包括第一步骤：剥离人工耳蜗植入体的硅胶、打开钛壳以及检查接收线圈的焊接情况。进一步地，上述解剖分析的步骤还包括第二步骤：剥离电极、清理刺激器的硅胶以及对电极和硅胶进行烘干处理。进一步地，上述失效分析方法还包括气密性分析，上述气密性分析的步骤包括：先将人工耳蜗植入体在充氦3-4个大气压的环境中存放2-3小时后，再通过氦质谱检漏仪检测是否漏气。进一步地，上述失效分析方法还包括半导体特性分析，上述半导体特性分析将半导体分析仪与人工耳蜗植入体的IO和地上连接后，再依次对所有输入输出端进行对地半导体特性分析，检测IO是否具有二极管特性。与现有技术相比，本专利技术的有益效果在于，本专利技术提供的人工耳蜗植入体失效分析方法，通过电性能测试分析、扫描分析、漏电流分析、循环测试、解剖分析、气密性分析以及半导体特性分析的多方位不同组合，快速有效地定位人工耳蜗植入体的失效原因。附图说明通过阅读下文优选实施方式的详细描述，各种其他的优点和益处对于本领域普通技术人员将变得清楚明了。附图仅用于示出优选实施方式的目的，而并不认为是对本专利技术的限制。而且在整个附图中，用相同的参考符号表示相同的部件。在附图中：图1为本专利技术实施例提供的人工耳蜗植入体失效分析方法整体流程示意图；图2为本专利技术实施例提供的电性能分析示意图；图3为本专利技术实施例提供的漏电流分析示意图；图4为本专利技术实施例提供的循环测试示意图；图5为本专利技术实施例提供半导体特性分析示意图。具体实施方式下面将参照附图更详细地描述本公开的示例性实施例。虽然附图中显示了本公开的示例性实施例，然而应当理解，可以以各种形式实现本公开而不应被这里阐述的实施例所限制。相反，提供这些实施例是为了能够更透彻地理解本公开，并且能够将本公开的范围完整的传达给本领域的技术人员。需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。参阅图1所示，为本专利技术实施例的人工耳蜗植入体失效分析方法整体流程示意图，其包括：电性能分析、扫频分析、漏电流分析、循环测试、解剖分析、气密性分析以及半导体特性分析。电性能分析，指基本功能和性能的测试分析，这里包含人工耳蜗植入体ID遥测分析、刺激输出测试分析、阻抗遥测分析及植入体顺应性测试分析。通过电性能分析，定位植入体的失效机理。扫频分析，使用信号分析仪对人工耳蜗植入体进行扫频测试，测试人工耳蜗植入体的固有频率是否存在偏差，来判断植入体接收电路的完整性。漏电流分析，将人工耳蜗植入体所有电极处于开路状态，即置于空气中，使用人工耳蜗调试软件进行植入体顺应性电流测试，查看人工耳蜗植入体反馈的电流值，此时的电流值为漏电流。如果此时的漏电流为0或小于20μA，对人工耳蜗植入体电极分段进行漏电流测试，分析是否在某一段内具有短路。循环测试，将人工耳蜗植入体依次置于95℃水浴和85℃烘箱进行48小时存储试验，每次结束后进行电性能测试，如此循环两次，将循环试验的数据对比。解剖分析，对人工耳蜗植入体的密封硅胶和钛壳进行解剖，进一步的对内部电路进行测试分析。气密性分析，使用氦质谱检漏仪对植入体刺激器进行气密性测试，验证刺激器气密性指标情况。...

【技术保护点】
1.一种人工耳蜗植入体的失效分析方法，其特征在于，包括如下步骤：对人工耳蜗植入体的电性能进行分析，所述电性能的分析过程包括对ID遥测、阻抗遥测、顺应性测试及刺激输出的测试过程。/n

【技术特征摘要】
1.一种人工耳蜗植入体的失效分析方法，其特征在于，包括如下步骤：对人工耳蜗植入体的电性能进行分析，所述电性能的分析过程包括对ID遥测、阻抗遥测、顺应性测试及刺激输出的测试过程。


2.根据权利要求1所述的失效分析方法，其特征在于，所述ID遥测、阻抗遥测、顺应性测试及刺激输出测试的测试过程包括如下步骤：
执行ID遥测，如果测试结果正常，结束，如果测试结果异常，继续以下测试；
执行阻抗遥测，将人工耳蜗植入体电极置于生理盐水中，如果阻抗遥测结果大于等于20000Ω，判定植入体电极开路，或将植入体电极置于空气中，如果阻抗遥测结果小于等于20000Ω，判定植入体电极存在短路情况；
执行顺应性测试，测试幅度设置为255CL，将人工耳蜗植入体电极置于生理盐水中，如果测试电流为0或小于1500μA,表示植入体顺应性测试异常，判定芯片或电极存在开路或半开路状态，或将植入体电极置于空气中，如果测试电流大于50μA,判定芯片或电极存在短路情况；
执行刺激输出测试，测量电极输出的信号幅度，通过信号幅度判断人工耳蜗植入体的正向解码电路是否存在故障。


3.根据权利要求1或2所述的失效分析方法，其特征在于，所述失效分析方法还包括对人工耳蜗植入体进行扫频分析以判断植入体谐振电路是否存在故障。


4.根据权利要求3所述的失效分析方法，其特征在于，所述失效分析方法还包括通过漏电流分析定位人工耳蜗植入体电极是否存在短路，所述漏电流分析方法包括如下步骤：
人工耳蜗植入体电极置于空气中，其他部位浸入生理盐水中，执行顺应性测试，通过顺应性测试结果，分析人工耳蜗植入体内部是否存在短路情况，如果是，结束漏电流分析，否则，继续以下测试；
人工耳蜗植入体所有电极置于生理盐水中，在调试软件中执行顺应性测试，通过顺应性测试结果，对人工耳蜗植入体顺应性输出电流进行判断分析，如正常，结束漏电流分析，否则，继续以下测试；
人工耳蜗植入体编号为初始值到特定数值的电极置于空气中，特定数值大于初始值且小于电极总数，执行顺应性测试，通过顺应性测试结果，分析植入体...

【专利技术属性】
技术研发人员：王澄，王克明，
申请(专利权)人：上海力声特医学科技有限公司，
类型：发明
国别省市：上海;31