【技术实现步骤摘要】
一种检测产品平面度的治具
[0001]本技术涉及测量,具体是一种检测产品平面度的治具。
技术介绍
[0002]在IC TRAY盘生产中,需要对其平面度进行测量,如果变形较大需要剔除,避免废品流入市场。
[0003]在目前变形度检测中,一般是人工从侧面直接看,能够看到变形就判定为废品,但是有一些变形是肉眼观察不到的,人工很难判别。
技术实现思路
[0004]为解决上述现有技术的缺陷,本技术提供一种检测产品平面度的治具,本技术利用八个百分表能够直观的看到盘体某一位置的变形量,从而判断是废品还是良品,使用方便,操作简单。
[0005]为实现上述技术目的,本技术采用如下技术方案:一种检测产品平面度的治具,包括若干个支柱,所述支柱上端固定有定位框架,所述定位框架的上侧面开设有定位槽,所述定位槽的中心开设贯穿所述定位框架的通孔;所述定位槽的四个内侧壁上均开设有半槽,所述定位槽的四个角处均开设有钝角槽;所述定位槽底侧壁上设有八个百分表,所述百分表的检测杆贯穿所述定位框架,且对应的半嵌设在所述半槽和所述钝角槽内,八个所述百分表的所述检测杆高度相同;所述定位槽侧壁上开设有若干个槽孔,所述槽孔内设有垫块。
[0006]进一步地,所述槽孔开设在所述定位槽的长边侧壁上。
[0007]进一步地,所述垫块的上侧面平面与所述检测杆顶端处于同一平面上。
[0008]进一步地,所述检测杆的上端一部分在所述半槽或所述钝角槽内,另一部分位于所述定位槽内。
[0009]进一步地,所述定位框架的相对 ...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1.一种检测产品平面度的治具,其特征在于:包括若干个支柱(2),所述支柱(2)上端固定有定位框架(3),所述定位框架(3)的上侧面开设有定位槽(301),所述定位槽(301)的中心开设贯穿所述定位框架(3)的通孔(302);所述定位槽(301)的四个内侧壁上均开设有半槽(303),所述定位槽(301)的四个角处均开设有钝角槽(304);所述定位槽(301)底侧壁上设有八个百分表(4),所述百分表(4)的检测杆(401)贯穿所述定位框架(3),且对应的半嵌设在所述半槽(303)和所述钝角槽(304)内,八个所述百分表(4)的所述检测杆(401)高度相同;所述定位槽(301)侧壁上开设有若干个槽孔,所述槽孔内设有垫块(305)。2.根据权利要求1所述的一种检测产品平面度的治具,其特征在于:所述槽孔...
【专利技术属性】
技术研发人员:朱丙勋,
申请(专利权)人:无锡博烨电子科技有限公司,
类型:新型
国别省市:
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