角度位移测量装置及测量标定方法制造方法及图纸

角度位移测量装置及测量标定方法，涉及角度位移测量技领域，解决现有角度测量方式无法实现对转台或编码器的每个光栅栅距对应角度进行测量标定的问题，建立一个测量轴系，在测量轴系本体外圆表面加工有锁丝丝钉和丝线挂销；第一丝线的一端通过锁丝丝钉紧固，第一丝线另一端紧固于滑台座的一端；滑台座的另一端紧固第二丝线，第二丝线经滑轮后紧固于平衡块；平衡块的重量将第一丝线和第二丝线绷紧，并牵动高精度光栅尺滑台运动，当测量轴系本体转动时，第一丝线将缠绕所述测量轴系本体的外圆表面，同时牵动高精度光栅尺滑台以及平衡块移动。本发明专利技术能够实现对转台或编码器的每个光栅栅距对应角度进行测量标定，提高了测量精度。度。度。

【技术实现步骤摘要】
角度位移测量装置及测量标定方法


[0001]本专利技术涉及角度位移测量技领域，具体涉及一种角度位移测量装置及测量标定方法。

技术介绍

[0002]目前，在实际生产中，转台和编码器角度测量与标定是一个非常重要指标，它的好与坏直接关系到生产的产品的质量，所以人们不断探索提高角度测量精度的方法，现在常用角度标定的标准是采用棱体进行标定，比如采用36面棱体、 24面棱体以及23面棱体等等；36面棱体每个面差10
°
，24面棱体每个面差15
°
，但它与高精度光栅尺(0.0001mm)或激光干涉仪测量的方式不同，高精度光栅尺或激光干涉仪通过等值栅距或干涉波长来测量长度。采用棱体测量转台或编码器角度时只是测量与棱体面对应最近的特定角度的转台或编码器那一位置光栅精度，而转台或编码器其它角度的光栅精度只能是与棱体两个面对应特定角度光栅值(栅距数量)做平均差补。所以采用棱体测量出来的精度同时还决定于转台的圆光栅和编码器光栅自身原有栅距加工的精度。
[0003]现有转台或编码器测量标定是采用棱体对几个特定栅距标定，对于其它本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.角度位移测量装置，包括测量轴系本体(1)、高精度光栅尺滑台(6)和滑台座(7)；其特征是：还包括第一丝线(5)、第二丝线(8)、滑轮(9)和平衡块(10)；在所述测量轴系本体(1)外圆表面加工有锁丝丝钉(3)和丝线挂销(4)；所述第一丝线(5)的一端通过锁丝丝钉(3)紧固，第一丝线(5)另一端紧固于滑台座(7)的一端；所述滑台座(7)的另一端紧固第二丝线(8)，所述第二丝线(8)经滑轮(9)后紧固于平衡块(10)；所述平衡块(10)的重量将第一丝线(5)和第二丝线(8)绷紧，并牵动高精度光栅尺滑台(6)运动，当测量轴系本体(1)转动时，第一丝线将缠绕所述测量轴系本体(1)的外圆表面，同时牵动高精度光栅尺滑台(6)以及平衡块(10)移动。2.根据权利要求1所述的角度位移测量装置，其特征在于：所述测量轴系本体(1)上加工有固定孔(11)和顶丝孔(2)；采用顶丝(12)与顶丝孔(2)配合对测量轴系本体(1)调平，将固定螺钉穿过测量轴系本体(1)的固定孔(11将测量轴系本体(1)固定在被测件上。3.根据权利要求2所述的角度位移测量装置，其特征在于：所述测量轴系本体(1)与被测件同轴。4.根据权利要求1所述的角度位移测量装置，其特征在于：测量过程中，所述丝线运动方向与高精度光栅尺滑台(6)的移动方向平行，并且第一丝线(5)与测量轴系本体(1)外圆表面相切。5.根据权利要求1所述的角度位移测量装置，其特征在于：所述第一丝线(5)运动方向与测量轴系本体(1)的轴向垂直。6.根据权利要求1所述的角度位移测量装置，其特征在于...

【专利技术属性】
技术研发人员：唐大春，窦艳红，黄垚，唐胜男，
申请(专利权)人：长春市春求科技开发有限公司，
类型：发明
国别省市：