动态随机内存测试方法及其系统技术方案

技术编号:2849175 阅读:218 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种具有自动测试机制的动态随机内存及自动测试方法。该系统主要包括一中央处理器、一动态随机内存。其中,该动态随机内存包括一动态随机内存控制器及动态随机内存储存单元。所述自动测试方法包含如下步骤:令该中央处理器对该动态随机内存控制器下达一测试命令;该动态随机内存控制器因接受该测试命令而对所述动态随机内存储存单元进行自动测试,并将测试结果返回至该中央处理器。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种内存及一种自动测试方法,特别是涉及一种具有自动测试机制的动态随机内存及对该内存进行自动测试的方法。
技术介绍
动态随机内存(DRAM)在计算机里相当重要,扮演了暂时储存数据的角色。中央处理器(CPU)可以将一些常用的程序或数据先读入动态随机内存,由于动态随机内存的存取速度比永久储存媒体(例如硬盘,Hard Disk)快,因此可以增加计算机处理数据的速度。计算机开机时都会执行对动态随机内存进行测试的动作。计算机系统确定动态随机内存没有问题后,才会进行系统开机的动作。通常的测试方法是利用中央处理器的运算周期,直接对动态随机内存控制器固定某一个运算周期,去检查动态随机内存的每一个地址的储存单元。这样的测试方法使得中央处理器必须分出一些时间来处理动态随机内存的测试动作,因此,降低了中央处理器的效率,同时动态随机内存测试时间也会加长。
技术实现思路
针对上述测试方法存在的缺陷,本专利技术所要解决的技术问题在于提供一种可缩短动态随机内存测试时间的测试方法,本专利技术所要解决的另一个技术问题在于提供一种与上述方法相对应的具有自动测试机制的动态随机内存。为实现上述目的,本动态随机内本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种动态随机内存的自动测试方法,其步骤如下:提供一中央处理器、一动态随机内存,该动态随机内存包含一动态随机内存控制器及动态随机内存储存单元;所述中央处理器对所述动态随机内存控制器下达一测试命令;所述动态随机内存控制器 因接受该测试命令对该动态随机内存储存单元进行自动测试,并将测试结果返回至该中央处理器。

【技术特征摘要】
1.一种动态随机内存的自动测试方法,其步骤如下提供一中央处理器、一动态随机内存,该动态随机内存包含一动态随机内存控制器及动态随机内存储存单元;所述中央处理器对所述动态随机内存控制器下达一测试命令;所述动态随机内存控制器因接受该测试命令对该动态随机内存储存单元进行自动测试,并将测试结果返回至该中央处理器。2.根据权利要求1所述的动态随机内存的自动测试方法,其特征在于,所述中央处理器收到该测试结果后,可记录该动态随机内存储存单元的故障区块,并于存取时,避过该故障区块。3.根据权利要求1所述的动态随机内存的自动测试方法,其特征在于,所述动态随机内存可为DRAM或DDR。4.一种具有自动测...

【专利技术属性】
技术研发人员:黄士荣
申请(专利权)人:映佳科技股份有限公司
类型:发明
国别省市:71[中国|台湾]

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