一种基于霍尔效应的角位移的测量装置及测量方法制造方法及图纸

本发明专利技术提供一种基于霍尔效应的角位移的测量装置，包括转盘、半圆形弧状磁钢、上磁轭、霍尔元件、下磁轭、转轴以及外壳，转轴设置在外壳中部，所述的转盘设置在外壳内，且转盘位于转轴上，转轴可带动转盘旋转，半圆形弧状磁钢设置在转盘上表面，上磁轭设置在外壳内顶部壁面上，下磁轭设置在外壳内底部壁面上，且上磁轭与下磁轭位置相对，上磁轭与下磁轭侧面设置有一间隙，霍尔元件设置在所述的间隙内，霍尔元件与上磁轭与下磁轭均不接触，本发明专利技术针对常用的霍尔式角位移传感器线性误差大，测量系统结构复杂，需要信号处理电路及分析电路的线性化才能达到测量目的这一问题，提出了一种基于霍尔效应的角位移的测量装置及测量方法，工作稳定可靠，而且实施方便，经济效益好。经济效益好。经济效益好。

【技术实现步骤摘要】
一种基于霍尔效应的角位移的测量装置及测量方法


[0001]本专利技术属于传感测量
，涉及一种基于霍尔效应的角位移的测量装置及测量方法。

技术介绍

[0002]角位移测量在工业、航空、船舶等多个领域具有广泛的应用。按照测量原理的不同，可以分为光电式、磁电式、电容式、电感式和电阻式等类型。
[0003]目前常用的霍尔式角位移传感器线性误差大，其测量系统结构复杂，需要信号处理电路及分析电路的线性化才能达到测量目的这一问题，因此，需要提出一种基于霍尔效应的角位移的测量装置及测量方法。

技术实现思路

[0004]本专利技术的目的是：针对常用的霍尔式角位移传感器线性误差大，测量系统结构复杂，需要信号处理电路及分析电路的线性化才能达到测量目的这一问题，提出了一种基于霍尔效应的角位移的测量装置及测量方法，工作稳定可靠，而且实施方便，经济效益好。
[0005]本专利技术的技术方案是：
[0006]一种基于霍尔效应的角位移的测量装置，包括转盘(4)、半圆形弧状磁钢(5)、上磁轭(1)、霍尔元件(2)、下磁轭(3)、转轴本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种基于霍尔效应的角位移的测量装置，其特征在于：包括转盘(4)、半圆形弧状磁钢(5)、上磁轭(1)、霍尔元件(2)、下磁轭(3)、转轴(6)以及外壳(7)，所述的转轴(6)设置在外壳(7)中部，所述的转盘(4)设置在外壳(7)内，且转盘套(4)设在转轴(6)上，转轴(6)可带动转盘(4)同步旋转，所述的半圆形弧状磁钢(5)设置在转盘(4)上表面，所述的上磁轭(1)设置在外壳(7)内顶部壁面上，所述的下磁轭(3)设置在外壳(7)内底部壁面上，且上磁轭(1)与下磁轭(3)位置相对，所述的上磁轭(1)与下磁轭(3)侧面设置有一间隙，所述的霍尔元件(2)设置在所述的间隙内，霍尔元件(2)与上磁轭(1)与下磁轭(3)均不接触。2.根据权利要求1所述的一种基于霍尔效应的角位移的测量装置，其特征在于：还包括2个轴承(8)，所述的两个轴承(8)分别设置在外壳(7)顶部和底部，所述的转轴(6)设置在轴承(8)内部，且可在轴承(8)内转动。3.根据权利要求1所述的一种基于霍尔效应的角位移的测量装置，其特征在于：所述的霍尔元件(2)上表面与上磁轭(1)的距离不超过0.5mm，下表面与下磁轭(3)的距离不超过0.5mm。4.根据权利要求1所述的一种基于霍尔效应的角位移的测量装置，其特征在于：所述的半圆形弧状磁钢(5)为轴向磁极，上部为N极，下部为S极，半圆形弧状磁钢(5)材料为钕铁硼或钐钴，输入场强45～75mT。5.根据权利要求1所述一种基于霍尔效应的角位移的测量装置，其特征在于：所述的霍尔元件(2)型号为CS3144，其采用+5V直流电源进行供电，霍尔元件(2)输出电压范围是0.25～4.75V。6.根据权利要求1所述一种基于霍尔效...

【专利技术属性】
技术研发人员：施文斌，金丹，王帅，徐保国，
申请(专利权)人：武汉航空仪表有限责任公司，
类型：发明
国别省市：