光检测器、光检测系统、激光雷达装置及车制造方法及图纸

提供一种能够提高性能的光检测器、光检测系统、激光雷达装置及车。根据实施方式，光检测器包括：包括光电二极管的多个元件。所述多个元件的至少一部分分别包括结构体，该结构体包围所述光电二极管且具有与所述光电二极管不同的折射率。各个所述结构体的至少一部分相互分离。分离。分离。

【技术实现步骤摘要】
光检测器、光检测系统、激光雷达装置及车
[0001]相关申请
[0002]本申请以日本专利申请2020-197576号(申请日：2019年10月30日)为基础，从该申请享受优先的利益。本申请通过参考该申请而包括该申请的全部内容。


[0003]本专利技术的实施方式一般涉及光检测器、光检测系统、激光雷达装置及车。

技术介绍

[0004]光检测器检测入射到包括光电二极管的元件的光。对于光检测器，期望性能提高。

技术实现思路

[0005]本专利技术的实施方式提供一种能够提高性能的光检测器、光检测系统、激光雷达装置及车。
[0006]根据本专利技术的实施方式，光检测器包括：包括光电二极管的多个元件。所述多个元件的至少一部分分别包括结构体，该结构体包围所述光电二极管且具有与所述光电二极管不同的折射率。各个所述结构体的至少一部分相互分离。
[0007]根据实施方式，能够提供能够提高性能的光检测器、光检测系统、激光雷达装置及车。
附图说明
[0008]图1是例示第一实施方式的光检测器的一部分的示意本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种光检测器，具备包括光电二极管的多个元件，所述多个元件的至少一部分分别包括结构体，该结构体包围所述光电二极管且具有与所述光电二极管不同的折射率，各个所述结构体的至少一部分相互分离。2.根据权利要求1所述的光检测器，其中，还具备；设置于相邻的所述元件彼此之间的半导体区域。3.根据权利要求1或2所述的光检测器，其中，所述多个元件沿着第一方向和与所述第一方向交叉的第二方向排列，所述结构体包括：沿所述第一方向延伸的一对第一延伸部；沿所述第二方向延伸的一对第二延伸部；以及分别连结所述一对第一延伸部和所述一对第二延伸部的多个连结部，所述光电二极管在所述第一方向上设置于所述一对第二延伸部之间，且在所述第二方向上设置于所述一对第一延伸部之间，所述第一延伸部与所述连结部之间的角度及所述第二延伸部与所述连结部之间的角度为135度以上。4.根据权利要求3所述的光检测器，其中，在从与包括所述第一方向及所述第二方向的面交叉的第三方向观察时，所述结构体为八边形。5.根据权利要求1或2所述的光检测器，其中，所述多个元件沿着第一方向和与所述第一方向交叉的第二方向排列，所述结构体包括：沿所述第一方向延伸的一对第一延伸部；沿所述第二方向延伸的一对第二延伸部；以及分别连结所述一对第一延伸部和所述一对第二延伸部的多个连结部，所述光电二极管在所述第一方向上设置于所述一对第二延伸部之间，且在所述第二方向上设置于所述一对第一延伸部之间，在从与包括所述第一方向及所述第二方向的面交叉的第三方向观察时，各个所述连结部弯曲。6.根据权利要求1所述的光检测器，其中，所述多个元件包括：包括所述结构体的第一元件和第二元件，多个所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：藤原郁夫，权镐楠，野房勇希，佐佐木启太，铃木和拓，熟田昌己，
申请(专利权)人：株式会社东芝，
类型：发明
国别省市：