具有多属性的产品生产管理方法及系统技术方案

本发明专利技术提供本发明专利技术提供了一种具有多属性的产品生产管理方法及系统。其中，具有多属性的产品生产管理方法通过将测量信息、产品信息、生产时间、测量结果以及测量人员信息的数据进行绑定，将绑定后的数据作为一个数据发送给服务器进行存储，并对数据通过SPC过程管理算法进行数据处理，获取产品的良莠信息以及产品的尺寸的变化规律，便于对生产过程中出现的问题进行原因分析，在出现问题时，通过与测量数据绑定的生产时间、测量结果以及测量人员信息进行追溯，便于定责，同时，对依据产品的良莠信息以及尺寸的变化规律进行产品预警，降低了产品的不合格率。产品的不合格率。产品的不合格率。

【技术实现步骤摘要】
具有多属性的产品生产管理方法及系统


[0001]本专利技术涉及产品检测领域，具体涉及一种具有多属性的产品生产管理方法及系统。

技术介绍

[0002]在轴承行业中，轴承的生产过程需要粗加工和精加工等生产工艺，通常又叫着粗磨和精磨。经过这些工艺加工后，轴承的一些尺寸会发生变化，如轴承的内径，外径，宽度等尺寸，加工后的产品与标准件比对，得出尺寸的变化，这些变化需要精密的仪表测量出来，作为把控产品质量的依据。
[0003]现有的产品检测仪器，仅能完成产品的质量检测，并不避免生产出不合格产品以及提前预警产品生产中即将发生的问题。
[0004]上述问题是目前亟待解决的。

技术实现思路

[0005]本专利技术所要解决的技术问题是提供一种具有多属性的产品生产管理方法及系统。
[0006]本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是：提供一种具有多属性的产品生产管理方法，包括：
[0007]获取产品的测量信息、产品信息、生产时间、测量结果以及测量人员信息；
[0008]将测量信息、产品信息、生产时间、测量结果以及测量人员信息的数据进行绑定，将绑定后的数据作为一个数据发送给服务器进行存储；
[0009]对接收的数据通过SPC过程管理算法进行数据处理，获取产品的良莠信息以及产品的尺寸的变化规律；
[0010]依据产品的良莠信息以及尺寸的变化规律进行产品预警；
[0011]依据产品的良莠信息以及尺寸的变化规律进行追溯，获取产生不良产品的生产时间、测量结果以及测量人员信息。
[0012]在其中一个实施例中，所述获取产品的测量信息、产品信息、生产时间、测量结果以及测量人员信息的方法包括：
[0013]所述测量信息包括外径、内径、倒角、高度，通过多个测微计分别进行测量；
[0014]所述产品信息通过检测人员进行输入；
[0015]所述生产时间为测微计的数据发送至服务器的时间；
[0016]所述测量结果为测微计测量时对应的测量信息的判断结果；
[0017]所述测量人员信息通过打卡机进行录入。
[0018]在其中一个实施例中，所述对接收的数据通过SPC过程管理算法进行数据处理，获取产品的良莠信息以及产品的尺寸的变化规律的方法包括：
[0019]计算测量信息的CPK、PPK、CMK；
[0020]依据CPK、PPK、CMK获取产品的尺寸的变化规律。
[0021]在其中一个实施例中，所述CPK的计算方法如下：CPK＝MIN(CPL,CPU)；
[0022]其中，CPU＝|USL
‑
PJX|/3σ，CPL＝|PJX
‑
LSL|/3σ；
[0023]式中，CPU指的是上限工序能力指数，CPL指的是下限工序能力指数，USL为产品的公差上限，LSL为产品的公差下限，σ为标准差，PJX为所有组内均值。
[0024]在其中一个实施例中，所述PPK的计算方法如下：PPK＝min(PPL,PPU)；
[0025]其中，PPL＝(PJX
‑
LSL)/(3*δ),PPU＝(USL
‑
PJX)/(3*δ)；
[0026]式中，PPL指的是衡量过程均值接近规格下限的程度，PPU指的是衡量过程均值接近规格上限的程度，USL为产品的公差上限，LSL为产品的公差下限，δ为全局标准差，PJX为所有组内均值。
[0027]在其中一个实施例中，所述CMK的计算方法如下：CMK＝(USL
‑
LSL)/(8δ)；
[0028]式中：USL为产品的公差上限，LSL为产品的公差下限，δ为全局标准差。
[0029]在其中一个实施例中，所述依据CPK、PPK、CMK获取产品的尺寸的变化规律的方法包括：
[0030]依据CPK获取大批量生产后的产品的尺寸的变化规律的；
[0031]依据PPK获取小批生产的产品的尺寸的变化规律的；
[0032]依据CMK获取新增设备、新产品试制或设备大修之后的产品生产的尺寸变化规律。
[0033]本专利技术还提供了一种具有多属性的产品生产管理系统，包括：
[0034]数据获取模块，适于获取产品的测量信息、产品信息、生产时间、测量结果以及测量人员信息；
[0035]数据发送模块，适于将测量信息、产品信息、生产时间、测量结果以及测量人员信息的数据进行绑定，将绑定后的数据作为一个数据发送给服务器进行存储；
[0036]数据处理模块，适于对接收的数据通过SPC过程管理算法进行数据处理，获取产品的良莠信息以及产品的尺寸的变化规律
[0037]数据预警模块，适于依据产品的良莠信息以及尺寸的变化规律进行产品预警；
[0038]原因追溯模块，适于依据产品的良莠信息以及尺寸的变化规律进行追溯，获取产生不良产品的生产时间、测量结果以及测量人员信息。
[0039]本专利技术还一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有一个或一个以上的指令，其特征在于，所述一个或一个以上的指令内的权限管理装置的处理器执行时实现如上述的具有多属性的产品生产管理方法。
[0040]本专利技术还一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器；所述存储器中存储有至少一条程序指令；所述处理器，通过加载并执行所述至少一条程序指令以实现如上述的具有多属性的产品生产管理方法。
[0041]本专利技术的有益效果是：本专利技术提供了一种具有多属性的产品生产管理方法及系统。其中，具有多属性的产品生产管理方法通过将测量信息、产品信息、生产时间、测量结果以及测量人员信息的数据进行绑定，将绑定后的数据作为一个数据发送给服务器进行存储，并对数据通过SPC过程管理算法进行数据处理，获取产品的良莠信息以及产品的尺寸的变化规律，便于对生产过程中出现的问题进行原因分析，在出现问题时，通过与测量数据绑定的生产时间、测量结果以及测量人员信息进行追溯，便于定责，同时，对依据产品的良莠信息以及尺寸的变化规律进行产品预警，降低了产品的不合格率。
附图说明
[0042]下面结合附图和实施例对本专利技术作进一步说明。
[0043]图1是本专利技术所提供的具有多属性的产品生产管理方法的流程图。
[0044]图2是本专利技术所提供的具有多属性的产品生产管理方法的原理框图。
[0045]图3是本专利技术所提供的电子设备的部分原理框图。
具体实施方式
[0046]现在结合附图对本专利技术作详细的说明。此图为简化的示意图，仅以示意方式说明本专利技术的基本结构，因此其仅显示与本专利技术有关的构成。
[0047]实施例1
[0048]请参阅图1，本实施例提供了一种具有多属性的产品生产管理方法。通过将测量信息、产品信息、生产时间、测量结果以及测量人员信息的数据进行绑定，将绑定后的数据作为一个数据发送给服务器进行存储，并对数据通过SPC过程管理算法进行数据处理，获取产品的良莠信息本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】
1.一种具有多属性的产品生产管理方法，其特征在于，包括：获取产品的测量信息、产品信息、生产时间、测量结果以及测量人员信息；将测量信息、产品信息、生产时间、测量结果以及测量人员信息的数据进行绑定，将绑定后的数据作为一个数据发送给服务器进行存储；对接收的数据通过SPC过程管理算法进行数据处理，获取产品的良莠信息以及产品的尺寸的变化规律；依据产品的良莠信息以及尺寸的变化规律进行产品预警；依据产品的良莠信息以及尺寸的变化规律进行追溯，获取产生不良产品的生产时间、测量结果以及测量人员信息。2.如权利要求1所述的具有多属性的产品生产管理方法，其特征在于，所述获取产品的测量信息、产品信息、生产时间、测量结果以及测量人员信息的方法包括：所述测量信息包括外径、内径、倒角、高度，通过多个测微计分别进行测量；所述产品信息通过检测人员进行输入；所述生产时间为测微计的数据发送至服务器的时间；所述测量结果为测微计测量时对应的测量信息的判断结果；所述测量人员信息通过打卡机进行录入。3.如权利要求1所述的具有多属性的产品生产管理方法，其特征在于，所述对接收的数据通过SPC过程管理算法进行数据处理，获取产品的良莠信息以及产品的尺寸的变化规律的方法包括：计算测量信息的CPK、PPK、CMK；依据CPK、PPK、CMK获取产品的尺寸的变化规律。4.如权利要求3所述的具有多属性的产品生产管理方法，其特征在于，所述CPK的计算方法如下：CPK＝MIN(CPL,CPU)；其中，CPU＝|USL
‑
PJX|/3σ，CPL＝|PJX
‑
LSL|/3σ；式中，CPU指的是上限工序能力指数，CPL指的是下限工序能力指数，USL为产品的公差上限，LSL为产品的公差下限，σ为标准差，PJX为所有组内均值。5.如权利要求3所述的具有多属性的产品生产管理方法，其特征在于，所述PPK的计算方法如下：PPK＝min(PPL,PPU)；其中，PPL＝(PJX
‑
LSL)/(3*δ),PPU＝(USL
‑
PJ...

【专利技术属性】
技术研发人员：赖全辉，张川，
申请(专利权)人：浙江陀曼云计算有限公司，
类型：发明
国别省市：