一种光学薄膜测试方法及测试设备技术

本发明专利技术涉及激光器技术领域，公开一种光学薄膜测试方法及测试设备，其中，光学薄膜测试方法包括：获取待测物料的激光透过率，待测物料镀有用于透射激光的光学薄膜，激光由激光器按照指定激光参数产生的；确定激光作用于光学薄膜时的靶面温度；根据激光透过率与靶面温度，测试光学薄膜的合格性。因此，本方法能够自动化地利用激光透过率与靶面温度，测量光学薄膜的合格性，尽量减少人为因素的参与，有利于提高测量结果的准确性，并且节省测量时间。

【技术实现步骤摘要】
一种光学薄膜测试方法及测试设备
本专利技术涉及激光器
，具体涉及一种光学薄膜测试方法及测试设备。
技术介绍
为了提高激光器的输出能量和输出特性，消除激光器内杂散光对激光器内部光学元件的影响，光学薄膜被广泛应用于各种激光器之中。其中，光学薄膜的损伤阈值是限制激光器的输出强度和衡量激光系统安全运行的重要因素。在光学薄膜的实际损伤测量中，各家公司或科研机构往往根据自身实际需要，采用不同的光斑大小和不同的激光波长，结合不同的损伤判断方法进行测量。现有测量方式全程需要人工的参与，自动化程度比较低，测量结果不够准确。
技术实现思路
本专利技术实施例的一个目的旨在提供一种光学薄膜测试方法及测试设备，其能够提高测量结果的准确性。在第一方面，一种光学薄膜测试方法，包括：获取待测物料的激光透过率，所述待测物料镀有用于透射激光的光学薄膜，所述激光由激光器按照指定激光参数产生的；确定所述激光作用于所述光学薄膜时的靶面温度；根据所述激光透过率与靶面温度，测试所述光学薄膜的合格性。可选地，所述获取待测物料的激光透过率包括：确定空测激光功率及实测激光功率；计算所述实测激光功率与所述空测激光功率的比值，得到所述待测物料的激光透过率。可选地，所述光学薄膜镀在所述待测物料的表面，激光功率由功率测量器采集得到，所述指定激光参数包括指定激光功率，所述确定空测激光功率包括：当所述待测物料未放置在载物台时，控制所述激光器按照所述指定激光功率产生激光，所述激光直接射向所述功率测量器；获取所述功率测量器采集的第一实时激光功率，所述第一实时激光功率为所述空测激光功率。可选地，所述确定实测激光功率包括：当所述待测物料放置在所述载物台时，控制所述激光器按照所述指定激光功率产生激光，所述激光射入所述光学薄膜后，透过所述待测物料射向所述功率测量器；获取所述功率测量器采集的第二实时激光功率，所述第二实时激光功率为所述实测激光功率。可选地，所述控制所述激光器按照所述指定激光功率产生激光包括：按照预设功率增量，逐级提高所述激光的当前激光功率至所述指定激光功率，使得所述激光器按照所述指定激光功率产生激光。可选地，所述待测物料为待测镀膜光纤，激光功率由功率测量器采集得到，所述确定空测激光功率包括：按照当前驱动电流，驱动所述激光器产生激光，所述激光注入标准镀膜光纤后射向所述功率测量器；获取所述功率测量器采集的第三实时激光功率；判断所述第三实时激光功率是否大于功率稳定阈值；若是，记录所述第三实时激光功率对应的目标驱动电流，并将所述第三实时激光功率作为所述空测激光功率。可选地，所述确定空测激光功率还包括：若否，按照预设电流增量，增加所述当前驱动电流，得到新的当前驱动电流，返回按照当前驱动电流，驱动所述激光器产生激光的步骤。可选地，所述指定激光参数包括目标驱动电流，所述确定实测激光功率包括：控制所述激光器按照所述目标驱动电流产生激光，所述激光注入所述待测镀膜光纤后射向所述功率测量器；获取所述功率测量器采集的第四实时激光功率，所述第四实时激光功率为所述实测激光功率。可选地，所述根据所述激光透过率与靶面温度，测试所述光学薄膜的合格性包括：判断所述激光透过率是否大于或等于预设透过阈值；若大于或等于预设透过阈值，判断所述靶面温度是否小于或等于预设温度阈值，若小于或等于预设温度阈值，则所述光学薄膜属于合格薄膜，若大于预设温度阈值，则所述光学薄膜属于不合格薄膜；若小于预设透过阈值，则所述光学薄膜属于不合格薄膜。在第二方面，一种非易失性可读存储介质，所述非易失性可读存储介质存储有计算机可执行指令，所述计算机可执行指令用于使测试设备执行上述的光学薄膜测试方法。在第三方面，本专利技术实施例提供一种计算机程序产品，所述计算机程序产品包括存储在非易失性计算机可读存储介质上的计算机程序，所述计算机程序包括程序指令，当所述程序指令被测试设备执行时，使测试设备执行上述的光学薄膜测试方法。在第四方面，本专利技术实施例提供一种测试设备，包括：至少一个处理器；以及，与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的指令，所述指令被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行上述的光学薄膜测试方法。本专利技术与现有技术相比至少具有以下有益效果：在本专利技术实施例提供的光学薄膜测试方法中，首先，获取待测物料的激光透过率，待测物料镀有用于透射激光的光学薄膜；其次，确定激光作用于光学薄膜时的靶面温度，激光由激光器按照指定激光功率产生的；再次，根据激光透过率与靶面温度，测试光学薄膜的合格性，因此，本方法能够自动化地利用激光透过率与靶面温度，测量光学薄膜的合格性，尽量减少人为因素的参与，有利于提高测量结果的准确性，并且节省测量时间。附图说明一个或多个实施例通过与之对应的附图中的图片进行示例性说明，这些示例性说明并不构成对实施例的限定，附图中具有相同参考数字标号的元件表示为类似的元件，除非有特别申明，附图中的图不构成比例限制。图1为本专利技术实施例提供的一种光学薄膜测试系统的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种光学薄膜测试方法的流程示意图；图3为图2所示的S21的流程示意图；图4为图3所示的S211的一种流程示意图；图5为图3所示的S212的一种流程示意图；图6为图3所示的S211的另一种流程示意图；图7为图3所示的S212的另一种流程示意图；图8为图2所示的S23的流程示意图；图9为本专利技术实施例提供的一种测试设备的电路结构示意图。具体实施方式为了使本专利技术的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本专利技术进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本专利技术，并不用于限定本专利技术。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，如果不冲突，本专利技术实施例中的各个特征可以相互结合，均在本专利技术的保护范围之内。另外，虽然在装置示意图中进行了功能模块划分，在流程图中示出了逻辑顺序，但是在某些情况下，可以以不同于装置中的模块划分，或流程图中的顺序执行所示出或描述的步骤。再者，本专利技术所采用的“第一”、“第二”、“第三”等字样并不对数据和执行次序进行限定，仅是对功能和作用基本相同的相同项或相似项进行区分。本专利技术实施例提供的光学薄膜测试方法应用于测试设备，其中，本专利技术实施例提供的测试设备包括台式计算机、工控机、平板电脑、移动终端、智能手机、单片机、微处理器或板卡等。本专利技术实施例提供的光学薄膜测试装置可以作为其中一个软件或者硬件功能单元，整合在测试设备的处理器中的其中一个功能模块，执行本专利技术实施例的光学本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种光学薄膜测试方法，其特征在于，包括：/n获取待测物料的激光透过率，所述待测物料镀有用于透射激光的光学薄膜，所述激光由激光器按照指定激光参数产生的；/n确定所述激光作用于所述光学薄膜时的靶面温度；/n根据所述激光透过率与靶面温度，测试所述光学薄膜的合格性。/n

【技术特征摘要】
1.一种光学薄膜测试方法，其特征在于，包括：
获取待测物料的激光透过率，所述待测物料镀有用于透射激光的光学薄膜，所述激光由激光器按照指定激光参数产生的；
确定所述激光作用于所述光学薄膜时的靶面温度；
根据所述激光透过率与靶面温度，测试所述光学薄膜的合格性。


2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取待测物料的激光透过率包括：
确定空测激光功率及实测激光功率；
计算所述实测激光功率与所述空测激光功率的比值，得到所述待测物料的激光透过率。


3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述光学薄膜镀在所述待测物料的表面，激光功率由功率测量器采集得到，所述指定激光参数包括指定激光功率，所述确定空测激光功率包括：
当所述待测物料未放置在载物台时，控制所述激光器按照所述指定激光功率产生激光，所述激光直接射向所述功率测量器；
获取所述功率测量器采集的第一实时激光功率，所述第一实时激光功率为所述空测激光功率。


4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述确定实测激光功率包括：
当所述待测物料放置在所述载物台时，控制所述激光器按照所述指定激光功率产生激光，所述激光射入所述光学薄膜后，透过所述待测物料射向所述功率测量器；
获取所述功率测量器采集的第二实时激光功率，所述第二实时激光功率为所述实测激光功率。


5.根据权利要求3或4所述的方法，其特征在于，所述控制所述激光器按照所述指定激光功率产生激光包括：
按照预设功率增量，逐级提高所述激光的当前激光功率至所述指定激光功率，使得所述激光器按照所述指定激光功率产生激光。


6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述待测物料为待测镀膜光纤，激光功率由功率测量器采集得到，所述确定空...

【专利技术属性】
技术研发人员：吕张勇，曾庆坤，李广杰，李永高，邱小兵，周凯斌，屈浩田，李昌席，蒋峰，
申请(专利权)人：苏州创鑫激光科技有限公司，深圳市创鑫激光股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32