【技术实现步骤摘要】
一种用于电子设备的老化测试装置
本专利技术涉及设备测试领域，具体涉及一种用于电子设备的老化测试装置。
技术介绍
在相关技术中，电子设备在出厂之前需要对其进行老化测试以检测电子设备的使用性能。当电子设备进行老化测试时，将多个电子设备集中放置在老化架上，然后放置在测试设备内进行测试。电子设备的表面往往有湿气或者是灰尘等杂质，对测试造成不利影响；测试的过程时间较长，湿气、灰尘等杂质易留在测试设备内，增加了清洗工作。
技术实现思路
本专利技术所要解决的技术问题是一种能够解决上述问题的用于电子设备的老化测试装置。本专利技术是通过以下技术方案来实现的：一种用于电子设备的老化测试装置，包括用于对电子设备老化测试的设备主体，设备主体包括有设备外壳，设备外壳内设置有老化测试腔，老化测试腔处设置有多个顶角，顶角内有相匹配的限位柱，相邻两根限位柱之间设置有连接层，连接层遮挡住老化测试腔的内壁，连接层朝向老化测试腔的内壁的一侧设置有多个加厚部，加厚部内设置有密封腔，设备外壳的底部设置有出风组件，老化测试腔的腔底设
【技术保护点】
1.一种用于电子设备的老化测试装置，包括用于对电子设备老化测试的设备主体，其特征在于：设备主体包括有设备外壳(1)，设备外壳(1)内设置有老化测试腔(111)，老化测试腔(111)处设置有多个顶角，顶角内有相匹配的限位柱(2)，相邻两根限位柱(2)之间设置有连接层(3)，连接层(3)遮挡住老化测试腔(111)的内壁，连接层(3)朝向老化测试腔(111)的内壁的一侧设置有多个加厚部(5)，加厚部(5)内设置有密封腔，设备外壳(1)的底部设置有出风组件，老化测试腔(111)的腔底设置有多个出风孔(6)。/n
【技术特征摘要】 【专利技术属性】
1.一种用于电子设备的老化测试装置，包括用于对电子设备老化测试的设备主体，其特征在于：设备主体包括有设备外壳(1)，设备外壳(1)内设置有老化测试腔(111)，老化测试腔(111)处设置有多个顶角，顶角内有相匹配的限位柱(2)，相邻两根限位柱(2)之间设置有连接层(3)，连接层(3)遮挡住老化测试腔(111)的内壁，连接层(3)朝向老化测试腔(111)的内壁的一侧设置有多个加厚部(5)，加厚部(5)内设置有密封腔，设备外壳(1)的底部设置有出风组件，老化测试腔(111)的腔底设置有多个出风孔(6)。
2.根据权利要求1所述的用于电子设备的老化测试装置，其特征在于：设备外壳(1)的顶部设置有进口(7)，进口(7)和老化测试腔(111)相导通。
3.根据权利要求1所述的用于电子设备的老化测试装置，其特征在于：设备外壳(1)的侧面设置有多个散热口，设备外壳(1)上安装固定有防尘网，防尘网遮挡住散热口内。
技术研发人员：邓武英，
申请(专利权)人：深圳市环测威检测技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44
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