温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。

本发明公开了一种用于电子设备的老化测试装置，包括用于对电子设备老化测试的设备主体，设备主体包括有设备外壳，设备外壳内设置有老化测试腔，老化测试腔处设置有多个顶角，顶角内有相匹配的限位柱，相邻两根限位柱之间设置有连接层，连接层遮挡住老化测试腔...
该专利属于深圳市环测威检测技术有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过深圳市环测威检测技术有限公司授权不得商用。

详细技术文档下载地址

温馨提示：您尚未登录，请点 登陆 后下载，如果您还没有账户请点 注册 ，登陆完成后，请刷新本页查看技术详细信息。