一种MCU中 FLASH CACHE性能的测试方法技术

本发明专利技术涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种MCU中FLASH CACHE性能的测试方法，其中，包括：接收上位机的测试参数配置以及测试项配置；根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU进行FLASH CACHE性能测试；读取目标MCU中能够成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数；根据成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数进行统计分析，得到分析结果；将所述分析结果反馈至所述上位机进行显示。本发明专利技术提供的MCU中FLASH CACHE性能的测试方法鞥能够实现对MCU中FLASH CACHE性能的测试。

【技术实现步骤摘要】
一种MCU中FLASHCACHE性能的测试方法
本专利技术涉及芯片测试
，尤其涉及一种MCU中FLASHCACHE性能的测试方法。
技术介绍
现有的32位MCU为了提高访问FLASH中指令读取的速度，会在FLASH和AHB（高性能高速总线）总线间添加一个CACHE（高速缓存）模块。通过CACHE模块的增加，可将运行程序的性能提高10%-30%或者更高。CACHE模块本质是SRAM（静态随机存储器），具有读写速度快、占用面积小的优势，缺点是具有掉电性。FLASH中设计的CACHE容量大小一般为几Kb或者更大，较FLASH容量几十Kb到几十Mb而言要小很多，CACHE的大小直接影响芯片运行性能以及芯片面积、成本。为了有效的将尽可能小的CACHE模块发挥尽可能大的效果，硬件设计会在FLASH模块中设计一个硬件算法模块，通过记录当前运行程序存储在FLASH中指令的访问次数来决定将哪些访问频率高的指令存放在CACHE中，因此硬件算法模块处理的好坏直接决定所用到的CACHE性能好坏。MCU前期设计验证阶段就需要对设计的CACHE使用性能进行测试，以此判断设计的硬件算法是否合理，是否能够将CACHE性能真正发挥出来。目前尚未有专用的测试装置将CACHE性能进行有效评价。
技术实现思路
本专利技术提供了一种MCU中FLASHCACHE性能的测试方法，解决相关技术中存在的无法实现对MCU中FLASHCACHE性能进行测试的问题。作为本专利技术的第一个方面，提供一种MCU中FLASHCACHE性能的测试方法，其中，包括：接收上位机的测试参数配置以及测试项配置；根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU进行FLASHCACHE性能测试；读取目标MCU中能够成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数；根据成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数进行统计分析，得到分析结果；将所述分析结果反馈至所述上位机进行显示。进一步地，所述根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU进行FLASHCACHE性能测试，包括：根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU的多种程序种类分别进行FLASHCACHE性能测试。进一步地，所述待测试的目标MCU的程序种类包括轮询程序、中断程序和多任务系统程序。进一步地，所述根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU的多种程序种类分别进行FLASHCACHE性能测试，包括：根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU进入轮询程序测试模式；按照从小到大的顺序准备多个轮询测试程序，并将多个轮询测试程序烧录至目标MCU中，并依次运行多个轮询测试程序。进一步地，所述根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU的多种程序种类分别进行FLASHCACHE性能测试，包括：根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU进入中断程序测试模式；按照从小到大的顺序准备多个中断测试程序，并将多个中断测试程序烧录至目标MCU中，并依次运行多个中断测试程序。进一步地，所述根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU的多种程序种类分别进行FLASHCACHE性能测试，包括：根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU进入多任务系统程序测试模式；按照从小到大的顺序准备多个多任务系统测试程序，并将多个多任务系统测试程序烧录至目标MCU中，并依次运行多个多任务系统测试程序。进一步地，所述读取目标MCU中能够成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数，包括：分别读取目标MCU在运行完轮询程序、中断程序和多任务系统程序后能够成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数。进一步地，所述根据成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数进行统计分析，得到分析结果，包括：根据成功从CACHE中读取指令的次数统计目标MCU中CACHE的命中率；判断所述目标MCU中CACHE的命中率是否大于预设阈值；若大于，则判定目标MCU中CACHE性能良好。本专利技术提供的MCU中FLASHCACHE性能的测试方法，通过对目标MCU进行CACHE性能测试，根据目标MCU能够成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数确定目标MCU中CACHE的性能，这种MCU中FLASHCACHE性能的测试方法能够实现对MCU中FLASHCACHE性能的测试，以便依次判断设计的硬件算法是否合理。附图说明附图是用来提供对本专利技术的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本专利技术，但并不构成对本专利技术的限制。图1为本专利技术提供的MCU中FLASHCACHE性能的测试方法的流程图。图2为本专利技术提供的MCU中FLASHCACHE性能的测试装置的结构框图。图3为本专利技术提供的MCU中FLASHCACHE性能的测试方法的具体实施方式流程图。具体实施方式需要说明的是，在不冲突的情况下，本专利技术中的实施例及实施例中的特征可以相互结合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本专利技术。为了使本领域技术人员更好地理解本专利技术方案，下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本专利技术保护的范围。需要说明的是，本专利技术的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本专利技术的实施例。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包括，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。在本实施例中提供了一种MCU中FLASHCACHE性能的测试方法，图1是根据本专利技术实施例提供的MCU中FLASHCACHE性能的测试方法的流程图，如图1所示，包括：S110、接收上位机的测试参数配置以及测试项配置；S120、根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU进行FLASHCACHE性能测试；S130、读取目标MCU中能够成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数；S140、根据成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种MCU 中FLASH CACHE性能的测试方法，其特征在于，包括：/n接收上位机的测试参数配置以及测试项配置；/n根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU进行FLASH CACHE性能测试；/n读取目标MCU中能够成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数；/n根据成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数进行统计分析，得到分析结果；/n将所述分析结果反馈至所述上位机进行显示。/n

【技术特征摘要】
1.一种MCU中FLASHCACHE性能的测试方法，其特征在于，包括：
接收上位机的测试参数配置以及测试项配置；
根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU进行FLASHCACHE性能测试；
读取目标MCU中能够成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数；
根据成功从CACHE中读取指令的次数以及未能够成功从CACHE中读取指令的次数进行统计分析，得到分析结果；
将所述分析结果反馈至所述上位机进行显示。


2.根据权利要求1所述的MCU中FLASHCACHE性能的测试方法，其特征在于，所述根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU进行FLASHCACHE性能测试，包括：
根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU的多种程序种类分别进行FLASHCACHE性能测试。


3.根据权利要求2所述的MCU中FLASHCACHE性能的测试方法，其特征在于，所述待测试的目标MCU的程序种类包括轮询程序、中断程序和多任务系统程序。


4.根据权利要求3所述的MCU中FLASHCACHE性能的测试方法，其特征在于，所述根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU的多种程序种类分别进行FLASHCACHE性能测试，包括：
根据所述测试参数配置以及测试项配置对待测试的目标MCU进入轮询程序测试模式；
按照从小到大的顺序准备多个轮询测试程序，并将多个轮询测试程序烧录至目标MCU中，并依次运行多个轮询测试程序。


5.根据权利要求3所述的MCU中FLASHCACHE性能的测试方法，其特征在于，所述根据所述测试参...

【专利技术属性】
技术研发人员：徐琴，钱斌，徐金波，
申请(专利权)人：中电海康无锡科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32